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相似文献
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1.
软X射线的锯齿振荡,在ST,Pulsator和TEXT等装置上已观测到;在Pulsator和PLT上已研究了硬X射线锯齿波。PLT和Pulsator观测结果为,产生的硬X射线锯齿振荡为反锯齿和内破裂的软X射线锯齿相对应。Pulsator的硬X射线锯齿和软X射线锯齿一样,这种趋势一直持继到放电结束,而硬X射线峰值发生在软X射线内破裂后大约200μs。PLT的硬X射线锯齿比软X射线锯齿延迟1至5ms。本工作目的是在内破裂后,从软、硬X射线锯齿波对比,观测硬X射线到达峰值这段延迟时间,并以此来量度逃逸电子约束时间。  相似文献   

2.
观察了在HL-1装置放电电流上升段、坪区和下降部分由逃逸电子引起的硬X射线发射模式;硬X射线发射与破裂、m=2,3扰动、环电压尖峰、IOC放电和超热电子辐射等的关系。给出了300-308ms间硬X射线的闪烁脉冲幅度谱,最大能量为6.6MeV。  相似文献   

3.
在HL-1装置上用硬X射线测得相应的打在孔栏处逃逸电子通量,其通量脉动呈现反锯齿振荡。为辨别这个振荡是一个真实的物理扰动,还是毫无意义的噪声涨落或背景振动,我们对获取的硬X射线通量作了频谱分析,证实逃逸电子打在限制器上产生的硬X射线受到一  相似文献   

4.
观察了在HL-1装置放电电流上升段、坪区和下降部分由逃逸电子引起的硬X射线发射模式;硬X射线发射与破裂、m=2,3扰动、环电压尖峰、IOC放电和超热电子辐射等的关系。给出了300-308ms间硬X射线的闪烁脉冲幅度谱,最大能量为6.6MeV.  相似文献   

5.
HL—1装置边缘扰动谱的初步分析   总被引:2,自引:2,他引:0  
一、引言目前许多实验都已证实托卡马克边缘扰动对等离子体的反常输运有重要的影响,由于扰动而产生的反常粒子输运流大约在玻(王母)扩散量级,而且,边缘扰动的大小、湍流频谱和波数谱的宽度对约束时间的影响很大。用探针对边缘等离子体进行湍流扰动分析已在许多托卡马克实验中进行过,用静电探针得到的电子密度扰动n和悬浮电位扰动,可以估计出扰动产生的粒子输运通量。本文主要给出了一套静电探针系统及其数据获取和频谱分析方法,  相似文献   

6.
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。  相似文献   

7.
本文针对HL-1托卡马克边缘等离子体扰动特性做了详细的研究。在低频范围内(2πω≤200kHz《ω_(ci)),装置边缘扰动为湍流扰动。孔栏附近悬浮电位扰动的相对量和密度扰动的相对量分别为40%和30%。频率较低时(2πω≤75kHz),扰动的相关性较强;频率较高时(2πω≥125kHz),相关性下降或呈现下降趋势。实验中还发现,在等离子体刮削层的扰动频谱宽度要大于等离子体柱边缘的谱宽度。最后,文中给出了粒子输流Γ随径向的分布,其值约在1.0×10~(16)cm(-8)、s~(-1)量级。由Γ值可心得到扩散系数经为D≈1.2×10~4cm~2·s~(-1),可以同玻姆扩散系数D_Bohm ≈1.0×10~4cm~2·s~(-1)进行量级上的比较。  相似文献   

8.
在欧姆加热与辅助加热的托卡马克等离子体装置中,逃逸电子的约束时间τr与传统新经典模式理论的预计值有所不同。本文使用了1维数值模型,包括逃逸电子的产生、加速和衰减效应,来推断逃逸能量εr与逃逸约束时间的关系。模拟结果给出逃逸能量εr对放电参数的定标律。  相似文献   

9.
在电流及温度分布满足“不变性”原理的基础上,本文分析了等离子体中心热区的能量平衡,求出了电子热传导系数,根据实验数据拟合出HL-1装置电子热传导系数的定标关系为X_e=6.8(n_(eq1))~(-1.2)。此关系与其他托卡马克装置的结果类似。  相似文献   

10.
使用一维数值模型, 推断了逃逸能量εr与逃逸约束时间τr的关系。模拟结果给出能量εr 和放电参数的定标律。在HL- 1M 装置中不同实验条件下测量了硬X 射线谱, 研究了逃逸电子能量 εr模拟的定标律, 并推导出HL- 1M 装置放电的逃逸电子的约束时间与逃逸电子扩散系数。  相似文献   

11.
使用碘化钠(NaI)探测器,对MM-2简单磁镜装置中热电子环参数进行了测量,得到热电子温度为140—170keV,热电子环的半径为7cm,其径向厚度为4cm,轴向尺寸边缘区域从±10cm延伸至±20cm,同时也观测到了热电子密度沿径向分布,环的位置与磁场强度的关系以及硬X射线发射的时间特性。  相似文献   

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