思博伦推出集成测试系统和损伤仿真器

思博伦通信近日宣布推出集成网络损伤仿真器,综合网络损伤仿真器是一种用于为住宅和企业客户开发TriplePlay服务包的测试系统,它是业界第一个能在试验室环境下重现真实网络条件的标准测试系统。利用思博伦综合网络损伤仿真器,服务提供商可以了解系统在各种恶劣的网络条件下的运行情况。新型损伤仿真器用于思博伦的TriplePlay服务测试解决方案,能在网络各个部分自动仿真8类网络质量,创建1000多个可重复的时变测试案例,包括对实际图像质量的测试。(本刊讯)思博伦推出集成测试系统和损伤仿真器     

超大规模集成测试系统INTEGRA J750

该产品将具有ATE时序功能的多通道结合入单—ASIC器件。芯片的数字与模拟部分隔离,阻止通道间的相互影响,使得VLSI测试系统的64个通道能够完全在一块印刷电路板上集成,在一个测试头中具备一整套VLSI测试系统,取消主机及内部连接电缆。     

摩托罗拉半导体产品部推出测试新技术

摩托罗拉半导体产品部,Tokyo Electron Limited(TEL)及W.L.Gore and Accociates,Inc近期宣布推出一项崭新的技术,将可在集成电路产品还在晶圆型态时进行老化(burn-In)测试。 通过产品测试过程的简化及整合,这项技术可节省高达15％的整体生产成本,而生产时间则可节省达25％,三家公司并预言该技术将能够大幅缩减产品开发的时间     

VXIbus的集成核心测试系统

自1978年VXIbus成为公开标准以来,90年代开始在航空、航天、通信、半导体方面陆续推广应用,构成各色各样的VXIbus自动化测试系统。1987年后西方经济出现不景气,国防费用削减,工商业投资紧缩,对测试系统也得要求经济实惠,即从价格、可靠性和可再用性去考虑问题。国防部门和项目承包商不再大手大脚花钱,单一用途的专用测试系统不受欢迎,大家都考虑一种集成核心结构,为测试系统提供实用性平台,以适应各种各样用途的需要。 GPIB总线系统已经问世25年,VXIbus     

半导体测试GPIB接口的联合调试系统

复杂的半导体自动测试系统如果出现GPIB接口问题将影响测试生产的效率,本文开发的半导体自动测试GPIB接口的联合调试系统,可以分别与测试系统和测试机进行接口调试,以帮助工程师解决在实际测试生产中半导体自动测试系统的GPIB接口问题.     

灿芯半导体推出新一代SoC集成平台

灿芯半导体日前宣布,开始面向客户提供能满足快速和可靠的RTL交付的新一代SoC集成平台“Briliante”。根据客户定制的目标,结合架构的复杂度,灿芯半导体能在1—3天内完成RTL设计以供综合,包括自动生成测试案例以供验证。     

思博伦通信推出业界首台集成测试系统和损伤仿真器

思博伦通信近日宣布推出集成网络损伤仿真器，综合网络损伤仿真器是一种用于为住宅和企业客户开发Triple Play服务包的测试系统，它是业界第一个能够在试验室环境下重现真实网络条件的标准测试系统。利用思博伦综合网络损伤仿真器，服务提供商可以了解系统在各种恶劣的网络条件下的运行情况。新型损伤仿真器用于思博伦市场领先的Triple Play服务测试解决方案，能够在网络各个部分自动仿真8类网络质量，创建1千多个可重复的时变测试案例，包括对实际图像质量的测试。     

泰瑞达，根植中国放眼未来——访泰瑞达公司副总裁＆半导体测试部大中华区总经理魏锡渊

随着全球金融危机对经济的影响，全球的半导体市场格局发生了变化，北美市场重心逐步往亚太市场转移，收购、兼并、重组半导体未来的走势欲盖弥彰。就目前形式看，中国的半导体市场正在释放一些积极因素，政府出台4万亿投资计划、家电下乡、汽车下乡、3G，极大刺激了消费类电子市场的快速发展，进而带动半导体市场的复苏。     

半导体激光器测试系统

Naso公司推出了新型大功率半导体测试系统，该系统能进行老化、工程表征和寿命测试。依照该公司的报道，该系统是可组装元件模块阵列，支持R＆D，并扩展支持满刻度产品。     

思博伦通信推出业界首台集成测试系统和损伤仿真器

思博伦通信近日宣布推出集成网络损伤仿真器，该产品是一种用于为住宅和企业客户开发Triple Play服务包的测试系统，它是业界第一个能够在试验室环境下重现真实网络条件的标准测试系统。     

系统LSI测试各有巧妙不同

半导体微细加工技术的进步促进了系统LSI的发展,使得原来分立的半导体器件,如DRAM、中央处理器及逻辑电路等,有可能集成于一枚芯片上。于是,系统LSI的测试,开始成为半导体生产厂家和LSI测试仪生产厂家所面临的现实问题。对于LSI的测试问题,有关行业人士从不同角度提出了各有特色的解决方案。本刊将连续刊登有关文章,供有兴趣的读者参考。     

半导体激光器的单片集成主振功放系统

半导体激光器的单片集成主振功放系统在半导体激光系统年销售量达几十亿美元情况下，半导体二极管激光器的世界市场已大大超过较标准的固体和气体激光器。但直至最近，衍射极限高功率二极管激光器还只能在研究实验室找到。衍射极限激光源产生最小可能发散角的光束，这对需...     

泰瑞达在SEMICON China展出J750Ex和Magunm EV平台

3月18日,泰瑞达公司连续第八年参加Semicon China展,展出了J750Ex测试系统和Nextest Magunm EV平台。此外,泰瑞达半导体测试部门总裁Mark Jagiela先生还参加了3月19日举行的测试界CEO高峰论坛。日前,泰瑞达公司已经在中国安装了1600多套半导体和电路板测试系统。     

吉时利推出无线通讯与半导体测试方案

一向专注于精密测量技术的吉时利仪器，继一月前带来通用测试产品3700系列之后，这一次又以新的两款产品重磅出击无线通信领域和半导体测试领域。连续的市场动作，不仅将其新产品覆盖了半导体、无线、电子电路等多个领域，更将其拓展新兴市场的雄心表露无疑。     

爱德万测试SOC测试系统成功进入清华大学微电子所，为中国半导体测试的科教建设做出贡献

爱德万测试（ADVANTEST CORPORATION）和清华大学微电子所于近日共同宣布清华大学微电子所购入爱德万测试最成功的SOC测试系统之一——T6575测试系统作为清华大学微电子专业教学的主力设备；爱德万测试将为清华人学微电子所的科教建设提供有力的技术支持和完备的售后服务，支持中国IC测试产业的高速发展，为蓬勃向上的中国半导体产业注入创新动力。     

亚毫米波太赫兹集成天线测试系统及测试精度分析

集成天线代表了近年来天线技术的重大成就,为毫米波天线设计开辟了新思路。国内首套亚毫米波太赫兹集成天线测试系统由上海交通大学和中国电子科技集团第四十一研究所合作建成,该系统主要包括矢量网络分析仪、扩频模块、探针台、天线转台、控制机以及控制软件部分。能够在远场条件下完成18~325 GHz频率范围 内的片上天线的阻抗及辐射特性测试。文章介绍了系统框架原理,分析了影响系统测试精度的若干关键因素如系统底噪、探针辐射特性、探针阻抗特性、高密度泡沫载物台、吸波材料等对集成天线测试精度的影响,给出了系统可测增益的动态范围,最后测试了一款94 GHz片上集成天线,测试结果与仿真结果吻合良好。     

无源元件集成技术取得新突破

意法半导体（ST）近日公布了一项关于在薄膜无源元件集成工艺中大幅度提高结电容密度的突破性技术。这项技术是以一类被称作“PZT Perovskites”的物质为基础，该类物质是一种化合物，主要元素是铅、锆、钛及氧，根据锆和钛的比例，该物质可发生多种变化。它的介电常数高达900，