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光电产品的环境应力筛选与可靠性保证 总被引:1,自引:0,他引:1
阐述复杂光电产品的环境应力筛选方法及其与环境试验,可靠性增长试验的关系,分析典型环境应力,筛选效果,筛选应力的确定准则以及可靠性保证试验,并用具体试验方案举例说明其有效性。 相似文献
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阐述复杂光电产品的环境应力筛选方法及其与环境试验、可靠性增长试验的关系,分析典型环境应力、筛选效果、筛选应力的确定准则以及可靠性保证试验,并用具体试验方案举例说明其有效性。 相似文献
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研究了激光冲击强化对回转半径为350mm大耕深旋耕刀残余应力的影响,利用ANSYS对旋耕刀进行理论应力分析,发现应力集中在刀柄外弯角处,同时进行了激光冲击强化模拟,得到理论残余应力引入值。利用X射线衍射法对激光冲击强化前后旋耕刀表面进行了残余应力测试。结果表明,ANSYS模拟激光冲击强化引入的残余应力值与试验实测的结果吻合得较好,相比未经处理的旋耕刀,激光冲击强化后刀具表面残余应力明显增大,最大残余压应力达412.25 MPa,增幅达166%,残余压应力的引入可消除旋耕刀工作的应力集中,提高了刀具使用寿命。研究结果为进一步提高和优化大耕深旋耕刀制造工艺提供了新的参考依据。 相似文献
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利用XRD技术测试了镀锌钝化膜结合界面的残余应力,同时通过电解抛光法检测了其厚度方向残余应力的分布规律,分析了残余应力对镀锌钝化膜结合强度的影响. 试验结果表明,镀锌钝化膜的残余应力均表现为压应力,并随着基体表面残余应力的增大而减小;钝化膜在2—10μm厚度方向的残应力为-274.5—-428.3MPa,其应力为梯度分布;镀锌钝化膜与基体的界面结合强度与其残余应力成反比,减小薄膜残余应力,有利于提高镀锌钝化膜与基体的结合强度.
关键词:
X射线衍射法(XRD)
镀锌钝化膜
结合强度
残余应力 相似文献
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涡旋电流法是材料无损检测常用方法之一,近年国际上多个研究小组对用于金属材料内残余应力检测开展了研究,涡旋电流法被认为是无损检测确定材料内残余应力的潜在方案。文中从实验和电磁场数值模拟两方面对此问题开展研究。 相似文献
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应力系数的标定作为超声应力检测最为关键的环节,直接决定应力检测结果的准确性。传统的应力系数试验标定对于被测物的表面粗糙度、耦合剂厚度、声匹配块与被测物接触力等因素十分敏感,但缺少基本参照值。基于COMSOL建立多物理场耦合的超声应力检测模型,施加不同的拉伸载荷,计算临界折射纵波到达时间与不同应力值之间的关系,模拟标定45#钢的超声应力系数为13.7MPa/ns。单轴水平拉伸试验标定的45#钢应力系数为16.5MPa/ns。结果表明,通过两种方法标定的应力系数较为接近,试验标定的应力系数偏大,这是由于有限元方法能够消除试验过程中各种不确定因素对声时精确测量所造成的影响,能够更加纯粹的反映材料的声弹性效应,因此具有作为基础数据的参考价值。有限元方法作为传统试验方法的补充,可以减小试验标定数据的离散性,提高超声应力检测结果的可信度。 相似文献
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提出了一种利用临界屈曲法在线测量微机械薄膜残余应力的新结构,并采用表面微加工技术制作了两种测试样品.搭建了在线观测实验装置来实时监控释放过程中结构出现的临界屈曲变形模态,由此判断出结构内部的应力状态,同时在测得临界刻蚀深度的情况下,采用有限元方法计算出残余应力大小.借助有限元方法,先研究了多个参数对临界屈曲应力的影响,然后利用这种新结构对薄膜残余应力进行了实际测量,所得结果与微旋转结构的应力测量结果基本吻合.分析及实验表明,新结构在测量薄膜残余应力方面有许多优点,具有较高的实用价值,不仅能满足大量程的应力检测要求,而且只用一个结构就可以同时测量压应力和拉应力,从而极大提高了器件版图空间的利用率. 相似文献
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李瑞文 《工程物理研究院科技年报》2003,(1):464-465
Be在机械加工中往往产生很大的残余应力。因而测试铍的残余应力显得尤为重要。影响X射线法测量应力精度的因素有两大类:测量方法的带来的影响和Be本身力学参数特点的影响。X射线衍射法需要无应力校准样。铍的结构和力学参数是各向异性,且较明显,各晶面弹性模量大,晶粒粗大,这些因素的存在导致结构上的不均匀性会直接影响测试结果。 相似文献
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分析了多点测量技术在解读和分析实测冲击波信息时的重要性和难点,提出了将Lagrange多点测量反分析与Hopkinson压杆技术相结合的新方法,解决了在同一个Lagrange位置上难以同时测量应力和质点速度波形的难题,对试样上不同Lagrange位置处实测质点速度波形进行了解读分析,由n个实测质点速度波形信息得到了各Lagrange位置处的动态应力-应变关系。以有机玻璃和水泥砂浆两种粘弹性试样为例,进行了数值计算,验证了该方法的可行性和有效性。 相似文献
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对最常用的TiO2和SiO2薄膜应力, 包括应力模型、应力测试方法和不同实验条件下的应力测试结果作了研究.基于曲率法模型,对TiO2和SiO2单层膜和多层膜进行了实验测试,得到了一些有价值的结果,特别是离子辅助淀积和基板温度等工艺参数对薄膜应力的影响.提出了薄膜聚集密度是应力的重要因素,低聚集密度产生张应力,而高聚集密度产生压应力.在多层膜中通过调节工艺参数,适当地控制张应力或压应力,可使累积应力趋向于零.
关键词:
薄膜应力
离子辅助淀积
聚集密度 相似文献
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利用激光划痕测试法和弯曲应力理论,建立了涂层结合界面应力的理论模型,推导出结合界面剪应力、正应力和剥离应力分布公式,分析了结合界面应力产生的机理.理论分析结果表明,界面正应力主要集中在界面中心区域内,而在界面边缘附近,正应力迅速下降,在界面边缘处其值降为0;剪应力和剥离应力主要集中在界面边缘区域内,在远离界面边缘区域,剪应力和剥离应力则迅速下降;涂层中正应力和涂层厚度、基体厚度以及杨氏模量无关,界面间剪应力以及剥离应力随涂层厚度增加而增加,并且由涂层与基体厚度以及杨氏模量所共同决定. 相似文献
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大功率发光二极管可靠性和寿命评价试验方法 总被引:10,自引:2,他引:8
介绍了发光二极管(LED)的发展简史。提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷。对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命。介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法。在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型。最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式。 相似文献