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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 15 毫秒
1.
王续朝 《电子测试》2012,(10):17-22
随着半导体技术的迅猛发展,移动存储设备快速增长。Flash芯片作为移动存储设备中最常用的器件,得到了日趋广泛的应用,对Flash芯片的测试要求也越来越高。地址数据复用型Flash存储器测试技术研究及电路设计,设计改善大规模数字集成电路测试系统数字系统算法图形功能。对K9F2G08R0A进行了测试并通过对数字系统算法图形功能进行改善,算法图形发生器由多个算术逻辑单元、多路选择器以及操作寄存器组成,可以实现复杂的逻辑操作和算术运算,可以更快、更简便地对地址复用型Flash存储器进行测试,减少测试程序开发难度。  相似文献   

2.
《中国集成电路》2007,16(2):94-94
本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准,各种类型调试系统,测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集城电路测试技术全书,具有全面性,系统性和实用性的特点。  相似文献   

3.
浅析数字电视系统的眼图测试   总被引:1,自引:0,他引:1  
由国家广电总局广播科学研究院,昆明电视台,英斯泰克公司组成的测试组,对BYN 5140型电视车进行了检验测试,本就该车的数字系统的测量中的眼图测试进行原理等方面的讨论.  相似文献   

4.
《电子工程师》2006,32(5):28-28
本书是一部包括集成电路测试理论、测试方法、测试标准,各种类型测试系统、测试辅助设备和测试系统计量等内容的现代集成电路测试技术全书。具有全面性、系统性和实用性的特点。本书的目的是使读者对集成电路测试问题有一个明晰的解决方法的轮廓,知道今天的集成电路测试需要做什么?我们能做什么?还会有什么样的难题?发展的方向是什么?  相似文献   

5.
本文简介了GSM系统的基站构成和工作原理以及基站的安装测试,包括:平均载波功率、相位和频率误差、功率与时间关系、输出RF频谱、互调抑制、杂散幅射和合路器测试。  相似文献   

6.
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。  相似文献   

7.
世界移动通信事业正蓬勃发展。本文介绍了移动通信所经历的4个发展阶段,介绍了目前的发展状态,以及未来的发展趋势。  相似文献   

8.
9.
由于缺少统一的标准,何时才会真正需要第三代(3G )无线通信测试技术曾经是一个难以回答的问题。但随着 Ericsson和 Qualcomm公司之间有关知识产权方面的主要纠纷得到解决,以及国际电信联盟(ITU)有关3G技术的IMT2000无线通信协议取得进展,3G系统将很快进入实用阶段,因此开发商们纷纷致力于3G技术的测试解决方案。 数月前,ITU组织专门召开了一个会议,以制定3C移动通信协议。在赫尔辛基的会议上,ITU 8/1任务小组制定了一系列适用于卫星和陆地无线通信系统的射频通信协议。 协议主要由…  相似文献   

10.
无线通信测试是无线通信项目工作中的其中一个重要环节。测试的目的就是通过各种相关手段对通信系统的功能进行检测和校验,尽可能发现其中存在的问题,以便于在下一步工作中纠正错误,逐步完善系统功能。  相似文献   

11.
郭艺 《现代导航》2015,6(5):430-435
卫星导航接收机抗干扰 A/D 芯片研制在国内尚数初始阶段,因此没有成熟的芯片指标体系和测试方法可供参考,本文针对抗干扰 A/D 芯片测试技术展开讨论。文中概述了芯片的主要功能和体系架构;根据应用需求建立了相应的测试指标体系;搭建了完整的测试系统,提出了相应的测试方法。本文研究成果应用于实际芯片测试当中,取得了良好的效果,具有重要的工程参考价值。  相似文献   

12.
《中国电子商情》2006,(11):74-74
安捷伦科技日前在北京举办了本年度安捷伦数字测量论坛(ADMF)。在本届论坛期间,安捷伦再次携手Xilinx和Microchip两大合作伙伴,共同推进从消费电子领域到高速数字设计领域全面数字技术测试解决方案。此次论坛主题围绕“全面的数字技术测试解决方案汇聚在ADMF”进行展开,通过多达14场的专题技术研讨会和产品亲身体验等活动,为电子设计工程师、系统设计师和技术管理人员介绍当前的技术热点和最新的电子技术发展趋势以及安捷伦所提供的相应的测量技术和调试方法.帮助企业提升竞争力。  相似文献   

13.
邵虞 《电子产品世界》2007,(9):24-24,26,28
存储器迎来新时代 半导体存储器自30多年前上市以来,历经变迁,今天迎来了新时代,存储"位"的需求将无限扩大.1971年Intel公司开发出1Kb DRAM,开创了DRAM历史,70年代美国公司顺理成章,君临天下.  相似文献   

14.
3G基站技术及其发展趋势   总被引:2,自引:0,他引:2  
基站作为移动通信系统中最关键的设备,随着移动通信技术的发展正发生着深刻的变化。小数据量的通信能力已经不能满足人们丰富的业务需求,窄带数字系统正逐步向3G宽带数字移动通信系统演进。由于从2G到3G是逐步演进的,因此两者之间可以共存相当长的一段时间。3G除了提供2G上的所有业务外,还具备宽带数据业务的能力。宽带系统基站应满足以下几个方面的要求:  相似文献   

15.
为了解目前网络设备的测试方法和研究重点, 提高指挥控制系统网络设备的保障能力, 在总结目前网络设备中交换机和路由器的测试模式、测试标准与规范、测试技术性能指标与方法及研究现状的基础上, 指出了网络设备测试技术的发展方向。对于研究网络设备的测试技术、测试方法具有重要的指导意义。  相似文献   

16.
《电子工业专用设备》2008,37(1):F0004-F0004
由中国半导体行业协会主办、中国半导体行业协会封装分会承办的“第六届中国半导体封装测试技术与市场研讨会”将在大连举办。本次会议将主要研讨封装测试市场发展趋势、先进封装测试技术和绿色封装等行业热点问题。敬请各有关单位极积参加并踊跃投稿。  相似文献   

17.
现场总线的互操作性测试技术   总被引:2,自引:0,他引:2  
对三种现场总线(FFHI,PROFIBUS DP和DeviceNet)的互操作性测试技术(包括测试结构、测试案例、测试方法等)作了分析,指出了它们的不足之处,将针对这些不足,提出了一些解决思路。  相似文献   

18.
利用BIST技术测试并诊断嵌入式存储器   总被引:1,自引:0,他引:1  
目前,绝大多数集成电路(IC)都设计有嵌入式存储器,IC的复杂化要求对它进行比传统的合格/不合格更深入一步的测试。随着IC几何尺寸日益浓缩,在制作工艺中应实现诊断测试和内置自修复(BISR)等新技术。在片上系统中,嵌入式存储器是最密集的器件,约占总面积的90%;它也是对工艺中的缺陷最敏感的器件,在片上系统内对它进行充分的测试是十分必要的。  相似文献   

19.
本文简介了GSM系统的基站构成和工作原理以及基站的安装测试,包括:平均载波功率、相位和频率误差、功率与时间关系、输出RF频谱、互调抑制、杂散幅射和合路器测试。  相似文献   

20.
本文强调测试技术在移动通信产业上的不可忽视性, 对现代移动通信测试技术的要求与发展进行了归纳和分析, 对部分移动通信设备测试仪器及其应用作了简介。  相似文献   

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