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用共线光热偏转技术测量光学薄膜的微弱吸收 总被引:2,自引:0,他引:2
用具有高灵敏的共线光热偏转技术研究SiO_2、ZrO_2、MgF_2、ZnS等单层光学薄膜的吸收特性,测得它们的吸收率.实验结果与激光量热法及横向光热偏转技术符合良好,表明共线光热偏转技术是测量光学薄膜弱吸收的较理想方法. 相似文献
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光学薄膜的光热偏转信号分析 总被引:2,自引:1,他引:2
本文给出了透明基体上的单层薄膜在激光辐照下的温度分布和光热形变偏转信号的理论表达式。通过数值计算,分析了偏转信号与薄膜参数、基体参数以及调制频率之间的关系,用反射式光热偏转装置对光学薄膜的光热偏转信号进行了实验研究。结果表明,理论计算和实验结果是一致的。 相似文献
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本文首次把调制与脉冲光热偏转技术同时置于激光损伤测试装置之中,用以进行光学薄膜激光损伤的实时研究.初步实验结果表明,该方法不仅有助于确定损伤阀值,也有助于分析损伤形貌和损伤过程,包括样品损伤前的行为及样品在重复频率激光作用下损伤的累积效应. 相似文献
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用横向光热偏转技术研究光学薄膜的吸收损耗.结果表明:对ZrO_2、MgF_2、ZnS等单层膜,薄膜-基底界面吸收、空气-薄膜界面吸收以及薄膜体内吸收三者处于同一量级,而对TiO_2、Ta_2O_5、SiO_2等样品,薄膜-基底界面吸收远大于空气-薄膜界面吸收及薄膜体内吸收,是吸收损耗的主要来源. 相似文献
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光热位移偏转技术结合横向光热偏转技术可用于研究薄膜样品的热膨胀系数.本文以SiO_2、TiO_2、ZrO_2、MgF_2、ThF4等单层光学薄膜为例.报道相关的实验方法及实验结果. 相似文献
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从三线传热方程出发,给出了双层材料的光热偏转光谱的理论模型,讨论了光热偏转信号的特征及其在扫描成象应用中的意义. 相似文献
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方波调制时的光热光束偏转理论 总被引:2,自引:0,他引:2
本文叙述了加热光束光强以方波调制时的光热光束偏转理论,讨论了偏转信号值与加热光功率、光斑半径,两光点的相对位置及调制频率等的关系并与实验结果比较,其结果是定性一致的. 相似文献
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多层介质膜的体吸收与界面吸收研究 总被引:3,自引:1,他引:2
以TiO_2/SiO_2膜系为例,报道了用横向光热偏转技术研究多层介质膜体、面吸收的实验方法与实验结果.文中对实验结果作了分析讨论并把它与文献报道的光声法作了比较. 相似文献
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本文采用一种新的测试技术——光热辐射计量术(PTh),对固体材料进行非接触式光谱研究,文中介绍了光热辐射计量理论,并在实验上获得Ce_2O_3粉末和果树叶的相对光谱吸收系数. 相似文献
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激光光束编转法是一种非接触的探测技术。本文从理论上分析了光速偏转信号的灵敏度的基本限制。并给出了一种提高信号对光速偏转灵敏度的方法。 相似文献
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P. Zimmermann D. Ristau E. Welsch 《Applied Physics A: Materials Science & Processing》1994,58(4):377-383
The influence of sample properties on the measured signal has to be investigated, so that measurements of the optical absorption in thin-film coatings by means of the photothermal surface-displacement technique may be precisely performed. Carrying out simultaneously absorption measurements on metal coatings at =10.6 m by using laser calorimetry as well as the surface-displacement technique, the aforementioned influence and the validity of assumptions of the theoretical model, respectively, can be proven. It can be demonstrated that, in contrast to the model, thermophysical coating properties contribute to the probed surface displacement. 相似文献