通过迈克尔逊干涉仪特殊现象理解光的干涉

观察迈克尔逊干涉仪实验调节过程中出现的特殊现象;分析了白光干涉中央条纹的特征、由定域干涉到非定域干涉光源的空间相干性、迈克尔逊干涉仪中没有补偿板的干涉条纹形状,以及迈克尔逊干涉仪的分光板被前后倒置及补偿板不平行干涉条纹的变化。     

单色点光源产生椭圆形干涉条纹的分析研究

本文主要对迈克尔孙干涉仪产生椭圆形条纹的原因进行了全面分析，从而定量得出在单色点光源状态下，椭圆形干涉条纹的长轴、短轴之间的变化关系．     

迈克耳孙干涉仪异常现象研究

观察并解释了迈克耳孙干涉仪的分光板被前后倒置后干涉条纹的变化，计算了这种异常情况下的光程差和干涉条纹形状的变化．     

分束比对迈克尔孙干涉仪条纹可观测性影响的研究

根据波动光学理论给出了分束比与光强对比值之间关系,在人眼光强对比值探测极限限制下,研究了分束比与迈克尔孙干涉仪条纹可观测性之间关联,研究结果表明,当分束比低于0.005 9时,干涉条纹将不可用眼辨认.该结果不但可以为大学物理实验教学中分析迈克尔孙干涉仪条纹可观测性提供指导,而且也可用于设计高条纹观测性迈克尔孙干涉仪.     

利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数

利用计数装置来记录迈克尔孙干涉仪干涉条纹的变化数杨蓉，朱桂荣，屠传士（苏州大学物理系２１５００６）精密测量长度常用的方法是将待测长度和激光波长作比较，通过干涉条纹计数求待测长度．利用迈克尔孙干涉仪得到干涉图，用感光元件把光学信号变成电信号并与其他电子...     

用马赫—曾德干涉仪获得分波前干涉的圆形条纹

1引言两相于点光源（或点光源与平行光）在垂直于其连线方向的屏幕上所形成的干涉条纹为圆形条纹.由分振幅干涉装置如迈克尔孙干涉仪、牛顿环仪等可以很容易地产生圆形条纹.但对于分波前干涉装置如杨氏双缝、双棱镜、双面镜、洛埃镜、比累对切透镜等，要产生圆形条纹却非常困难，甚至不可能，即使对于比较特殊的梅斯林透镜也只能产生半圆形的干涉条纹.本文提出了一种实验方法，即对分振幅干涉装置马赫一曾德干涉仪进行适当的改进，使其产生分波前干涉并产生出圆形干涉条纹.对其条纹特点，本文进行了分析.所得到的实验结果与理论分析是一致的…     

非定域干涉条纹的影响因素

针对迈克尔孙干涉仪实际产生的干涉条纹与教科书中所论述的不同,定量和定性地分析了影响非定域迈克尔孙干涉条纹的两个主要因素,使实验中观察到的现象得以合理的解释。     

基于点光源的迈克耳孙干涉实验条纹的机理分析

一般国内的大学物理和大学物理实验教材都只介绍干涉圆条纹和直线干涉条纹,用迈克耳孙干涉仪可以调制出椭圆和双曲线干涉条纹;但对条纹形成的理论推导很少涉及．本文根据点光源双光束干涉理论,分析基于点光源照明的迈克耳孙干涉实验中所产生的各种可能的干涉条纹：双曲线形干涉条纹、圆形干涉纹、椭圆形干涉纹及直线形干涉纹的形成条件．本文也对等倾干涉条纹、等厚干涉条纹与既非等倾也非等厚干涉条纹的机理进行分析和比较．通过对每一种干涉图样的解析分析和比较,旨在对迈克耳孙干涉实验有更全面和更深刻的了解．     

迈克耳逊干涉仪用激光照明仍需补偿板

迈氏干涉仪的补偿板P_z(图1)为补偿非单色光经分束板而产生的色散,故不可缺少。但当用激光照明干涉仪时,色散虽不存在,是否还需补偿板?某些书认为此时不再需要。详细分析表明:即使采用单色光(激光),补偿板仍然需要。因为在单色光情况下,虽无任何色散,但由倾斜光束而引起的像散仍然存在,像散使得干涉条纹变形。在没有P_2的情况下,像散会使等倾圆形条纹变成一组二次曲线。为观察到一组完好的圆形等倾条纹,补偿板P_2仍不可缺少,分析的结论被实验所证实。     

用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪

提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相遇、相干.通过旋转待测样品改变相干的两束光光程差,从而使干涉条纹发生移动.形成的相干光被分光板分成两束,一束进入光电探测器用于探测干涉条纹移动数的整数部分,另一束则进入电荷耦合探测器用于采集干涉条纹图来计算干涉条纹移动数的小数部分.通过计算条纹移动数反推出光程差的变化量,再结合折射率或样品厚度信息则可以计算出样品厚度或折射率的分布,从而检测出透明介质的平行度和均匀性.模拟仿真和光学实验均证明了本方法的可行性、准确性和稳定性.     

迈克耳孙干涉仪实验中等倾与等厚干涉条纹的判别

仔细研究了迈克耳孙干涉仪实验中产生等倾干涉和等厚干涉的实验条件和它们所产生的条纹的区别．提出了判别迈克耳孙干涉实验中等倾与等厚干涉条纹的依据．从而帮助学生加深对这两种干涉条纹的理解和判别．特别是在反射镜M1与M2不严格垂直时，同样可以观察到类似于等倾干涉的准圆环状条纹．我们对这一现象进行了分析和解释，并首次推导出等厚干涉直条纹任意一点上的微商(aδ/ad=2)为常数的结论，这一结果可以作为对迈克耳孙干涉仪现象的一个补充。     

用直角棱镜校正迈克尔逊干涉仪的分光板

在观察迈克尔逊干涉仪产生的干涉图样的时候 ,有时会发现干涉图样是椭圆形干涉环 ,而不是圆形干涉环 ,这是因为干涉仪分光板的方位已经不是原来的“与两臂轴各成 45°角”的方位了 ,必须校正分光板才能使干涉仪产生正常的同心圆形干涉环。在普通物理实验室的条件下 ,用直角棱镜可以帮助校正分光板的方位。     

透镜初级球差的横向剪切干涉条纹研究

利用玻璃平行平板构成简单的横向剪切干涉仪可以观察到单薄透镜形成的准直光束的剪切干涉条纹,由干涉条纹分布求出对应的几何像差和离焦量.用焦距为190 mm的单薄透镜做实验,实验结果与计算机模拟结果符合,说明可以从剪切干涉条纹的分布求出透镜的轴向调整误差和初级球差.     

迈克耳孙干涉仪测平行玻片折射率实验的进一步研究

用迈克耳孙干涉仪测平行玻片折射率的实验中,干涉条纹的位置和形状出现许多与常规不同的现象。本文对此作一理论分析,并与实验结果相比较。     

如何迅速调出白光干涉条纹

学生用迈克尔逊干涉仪做实验,用氦氖激光器作光源,较容易调出定域或非定域干涉条纹,然而要调出白光干涉条纹,往往花费很长时间还难以调出.由于白光的相干长度很小,因此要求调到 M_1反射镜的像 M′_1和 M_2反射镜完全重合,即 d=0时才有白光干涉条纹出现的可能.1.采取氦氖激光器作光源,先调出干涉条纹.一般采取对光点法和成像法,调节两反射镜背面的微调螺钉,使入射到光屏上     

散射板干涉仪的统计光学原理

用近代光学方法,对散射板干涉仪的基本光路进行了严格分析.用傅里叶光学证明先散射后透射与先透射后散射两条光路传播光的等价性,给出存在波偈差时这两条光路的变化.而后用统计光学方法讨论了干涉条纹产生的机理以及干涉条纹对比度与两块散板透过率相关性之间的关系,建立了散射板干涉仪的干涉条纹公式.分析结果与实验现象相符合,并可以解释以往理论不能解释的现象.     

衍射相关和Lau干涉

本文用离轴傅里叶变换系统的模型和菲涅耳衍射理论分析了衍射受限下的离焦相关器的系统特性,证明是第一模板和第二模板衍射像之间的强度相关积分。推导了衍射相关器作为测量相位物体的干涉仪的一般理论,这时要求编码板函数能衍射自成像并且相关函数为周期性函数。讨论了平行光栅作为编码板时的干涉仪的横向剪切干涉特性,给出了实验结果。本文还证明了衍射相关器是推广到任何平面物体在任何观察距离上的Lau效应装置。衍射相关干涉仪产生Lau干涉条纹,并且是直接应用Lau效应的干涉仪。 关键词：     

环形共光路点衍射干涉仪

建立了一种基于偏振掩膜板与环形共路结构的点衍射干涉仪,通过旋转偏振片可以改变参考光与测试光之间的相对光强,实现干涉条纹对比度的调节,能够获得最高对比度的干涉条纹,并且针对条纹对比度进行了详细的理论分析;由于系统中线性载频幅度极易调节,可以有效地改善傅里叶变换法的相位提取精度;验证性实验被完成。     

迈氏干涉仪测光波长的系统误差

迈氏干涉仪测光波长的系统误差王澜涛，郑乔（石家庄铁道学院，０５００４３）在迈克尔逊干涉仪上，利用点光源的非定域干涉圆条纹测激光波长，测值往往偏大．这一偏大的系统误差主要是由反射镜Ｍ１与Ｍ２的像不平行［１］以及Ｍ１与精密丝杠的轴线不垂直这两方面共同产生...     

基于 Ma t l a b的钠双线波长差实验模拟

大学物理实验中常用迈克尔孙干涉仪来测量钠双线的波长差, 但由于操作或经验问题, 实验难度相对 较大, 无法得到理想的干涉结果. 基于 Ma t l a b模拟给出了该实验的条纹变化过程, 以辅课堂教学与学生课后的学 习. 最后强调了计算机模拟是理想情况的结果, 最终不能代替真实实验的观点