对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限

本文给出了基于一次性检测数据的对数正态或正态寿命型元件及系统的贮存可靠性的近似置信下限的方法，并对得到的近似置信限的精度作了讨论，结果表明精度符合要求。本文还给出了数字例子。     

具有不确定数据的成败型元件和系统可靠性置信下限的精确解

当试验次数为ｎ，成功次数介于Ｘ１，Ｘ２时（Ｘ１≤Ｘ２）。本文给出了在这种不确定数据下成败型元件的可靠性Ｐ的极大似然估计和精确置下限，对于由成败型元件组成的串联和并联系统，本文也给出了在不确定数据下，系统可靠性的精确解。最后讨论了极大似然估计的某些性质。     

基于检测数据的指数型元件贮存可靠性的置信限

为了评估元件或产品在贮存期间的可靠性，我们要对元件进行检测．一般地，在ti时刻检测ni个元件，设每次检测的正确率为ri，（ri已知，ri＞1／2）．检测结果成功的元件数为si（i＝1，k）．本文将基于此类数据，给出一种方法，来确定元件的贮存可靠性的置信下限，并给出了数字例．     

对数正态分布场合下产品加固性能的Bayes评估方法

总结了评估产品抗辐射能力实验中常常遇到的三类数据.针对产品抗辐射能力服从对数正态分布、实验样本数据为成败型实验数据的情形,运用Bayes方法给出了在小样本情况下,产品平均抗辐射能力大于给定指标要求的后验概率的计算方法以及在给定置信度下产品平均抗辐射能力置信下限的计算方法.讨论了未知参数先验分布的确定方法, 并给出了评估方法的具体例子.     

有相依关系的成败型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限

设有由Ｋ个成败型元件Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ组成的串联系统，设Ａ１，Ａ２，…，ＡＫ之间有相依关系，要Ａ１成功的条件下Ａ２才可以试验，在Ａ１，Ａ２，都成功的条件下Ａ３才可以试验，…在Ａ１，Ａ２，…ＡＫ－１都成功的条件下Ａｋ才可以试验，设条件概率Ｐ（Ａｉ│Ａ１Ａ２…Ａｉ－１）ｐｉ，ｐｉ未知，ｉ＝１，２，…，Ｋ。设有样本（Ｘ１，Ｘ２，…，ＸＫ）（Ｘ≥Ｘ２≥…≥ＸＫ），本文用样本点排序法求此串联系统可靠性之经     

基于L-M方法的液压油源系统的可靠性分析

本文结合液压伺服系统的工程实际,运用了L-M方法,对恒压油源系统进行可靠性分析与建模,并给出了系统可靠度的定量评估结果,最后利用该模型对试验模拟数据进行分析,这对工程设计具有重要的指导作用。     

基于随机截尾数据的指数型元件串联系统可靠性的置信限

基于元件的随机定时截尾寿命试验数据,给出了指数型元件串联系统可靠性的经典精确置信下限,给出了数字例。     

Ⅰ型区间删失数据下产品可靠度的置信下限

本文针对Weibull分布情形下的Ⅰ型区间删失数据,提出了产品的可靠度的优良的置信下限的理论与计算方法。     

James—Stein型置信椭球及其覆盖概率

本文构造了协方差阵具有非球型结构（未知）的多元正态分布均值的James-Stein型置信椭球,它能渐近一致改进通常置信椭球的覆盖概率,并给出了改进余项的一致阶,同时本质改进了文献中有关余项的一致阶。     

耗损型产品的可靠性评估方法

本文研究耗损型产品可靠度的评定方法 .耗损型产品的可靠度随着每次的使用 ,可靠度会有所降低 .根据多次使用的试验数据 ,推断产品在某次使用之后的可靠度 .这是一个变动母体的统计推断问题 .本文在变动母体的假定下给出了耗损型产品可靠度的置信下限     

两参数Weibull分布平均寿命的置信下限

王蓉华，徐晓岭．两参数Ｗｅｉｂｕｌ分布平均寿命的置信下限．数理统计与管理，１９９８，１７（２），４３～４５．本文给出了求两参数Ｗｅｉｂｕｌ分布定数截尾下平均寿命置信下限的一种方法     

二项分布的参数估计问题研究

本文主要讨论二项分布的参数估计问题.对GB/T 4087.1-1983,GB/T 4087.2-1983,GB/T4087.3-1985给出的经典二项分布参数点估计、区间估计和可靠度置信下限计算方法进行了分析,指出了其中存在的问题.根据二项分布的数学表达式推导出了二项分布参数的概率分布密度函数,在此基础上提出了进行二项分布参数估计的一般方法.     

可靠性系列知识讲座 第四讲:可靠性增长试验的统计分析与设计

新产品的研制工作要经历若干个阶段,每个阶段都是在前一阶段的基础上针对产品在设计、材料或工艺等方面的缺点采取改进措施,以便产品的可靠度得到提高。本文在一般公认的假定—次序约束下,综合利用各阶段的数据给出了最后阶段产品可靠度的点估计和置信下限,它比只利用最后阶数据得到的点估计和置信下限更为合理。此处,还对可靠性增长试验的设计提出了有价值的建议。     

Some exponential type bounds for hitting time distributions of storage processes

We consider a storage process with finite or infinite capacity having a compound Poisson process as input and general release rule. For this process we derive some exponential type upper and lower bounds for hitting time distributions by means of martingale theory.     

任何序贯样本情形下伯努利参数的置信限

设（xn,n≥1）是独立同分布的随变量列,xn=0或1且P（xn=1)=p(n≥1),这里p是未知的,设τ是（xn,n≥1）的任何有限停止时间,对任何序贯样本（x1,x2,…,x)和r∈(0,1),本文给出了p的r水平最优置信下限和最优置信上限,还讨论了一些有关的问题。     

INSTANTANEOUS AVAILABILITY ASSESSMENT OF RENEWABLE COMPONENT IN EXPONENTIAL DISTRIBUTIONS

A renewable component with exponential failure and repair times is considered, and its instantaneous availability at time t is denoted by A（t）. This paper proposes two methods for constructing lower confidence limits of A（t） with Chebyshev inequation and generalized p-value approach.     

两部件组成的系统的可靠度的置信下限

设系统由两令部件组成，两个部件的寿命均服从指数分布．本文利用样本空间排序法，针对各部件获得定总时有替换的寿命试验数据，给出了系统可靠度的精确置信下限及其有效的计算方法．     

Relaxation‐time limit of the three‐dimensional hydrodynamic model with boundary effects

In this paper, we study three‐dimensional (3D) unipolar and bipolar hydrodynamic models and corresponding drift‐diffusion models from semiconductor devices on bounded domain. Based on the asymptotic behavior of the solutions to the initial boundary value problems with slip boundary condition, we investigate the relation between the 3D hydrodynamic semiconductor models and the corresponding drift‐diffusion models. That is, we discuss the relation‐time limit from the 3D hydrodynamic semiconductor models to the corresponding drift‐diffusion models by comparing the large‐time behavior of these two models. These results can be showed by energy arguments. Copyrightcopyright 2011 John Wiley & Sons, Ltd.     

Global Existence of Solutions and Lower Bound Estimate of Blow-Up Time for the Keller-Segel Chemotaxis Model北大核心CSCD

A macroscopic nonlinear Keller-Segel model for chemotactic cell migration was considered, where the existence region of the model is a bounded convex one on Ω ⊂ RN(N≥2). The global existence of the solution on Ω ⊂ R3 was obtained by means of the energy estimate method. The lower bound of the blow-up time was proved for N = 3 and N = 2. © 2022 Editorial Office of Applied Mathematics and Mechanics. All rights reserved.     

无失效周期寿命检验 (FFPLT)的统计特性及平均无失效时间间隔 (MTBF)的置信限(英文)

在对无失效周期寿命检验 (FFPLT)进行严格数学描述的基础上 ,详细讨论了检验方案的统计特性及参数置信限 ,对OC函数和平均试验时间给出了简明而精确的计算公式 ,对置信下限给出了有效的计算方法 ,并推导出相应的计算公式 .