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荧光共焦扫描系统成像特性的优化 总被引:8,自引:0,他引:8
对荧光共焦扫描系统用光强点扩散函数进行傅里变换得到系统三维传递函数的数学模型,并由此求得环形透镜和各种有限大小探测器系统的光学传递函数。用计算机模拟和光学传递九数值计算,分析了采用不同环形透镜及探测器对系统成像特性的影响 相似文献
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在共聚焦显微镜中,通过系统的归一化轴向光强半高宽与探测器有效半径和非相干光源有效半径的关系曲线,获得非相干光源照明下系统光学层析能力的变化规律.发现当探测器和光源的有效半径都小于3时,系统具有较好的光学层析能力;其他情况下,系统光学层析能力下降且会受入射光场分布的影响. 相似文献
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在研制用于对厚的生物样品进行光学断层成像的共焦扫描荧光显微镜时,由于成像信号十分微弱及存在很强的多次散射作用,因此杂散光的抑制非常重要,而信噪比、信号背景比就成为决定能否获得高对比度、高分率图像的关键。运用光学信息量的概念,在已有的光学成像系统信息量计算、共焦扫描荧光显微镜信噪比及传递函数计算的基础上,详细分析了共焦扫描荧光显微镜信息量与信噪比等之间的定量关系。该关系表明,为了充分利用共焦扫描荧光显微镜的成像性能,必须选择适当的探测小孔。所得的结果对于共焦扫描荧光显微成像系统的研制有重要的实用价值。 相似文献
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光学综合孔径望远镜成像分析及计算机仿真 总被引:13,自引:9,他引:4
阐述了光学综合孔径(OSA)望远镜成像原理以及综合孔径望远镜的几种实现形式;采用快速傅里叶变换(FFT)算法得到了任意子孔径综合模式下的点扩展函数(PSF)和光学传递函数(OTF)分布;从子孔径结构排列、共相位、图像恢复几个方面论述了光学综合孔径的成像特征。初步分析了稀疏率、填充因子、“实际截止频率”等因素对光学综合孔径望远镜成像的影响。分析和仿真结果表明:光学综合孔径通过相干成像不但可以突破传统单孔径系统的口径局限获得极高的成像分辨率,而且对于实现空间光学遥感系统轻量化和模块化都具有重要意义。 相似文献
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用坐标变换计算非共轴光学系统是十分有效的。本文讨论了非共轴光学系统传递函数(OTF)的计算要点,并给出了平行光束传递函数的计算方法。计算了一个无焦系统的波动光学传递函数。 相似文献
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离焦模糊图像的维纳滤波恢复 总被引:4,自引:0,他引:4
为消除离焦误差产生的图像模糊,介绍了基于逆滤波和维纳滤波的离焦模糊图像复原方法。从光学成像原理出发,根据高斯方程计算离焦误差,建立离焦误差与光学传递函数之间的关系。讨论了离焦误差对光学成像系统传递函数的影响。通过建立线性空间不变的模糊模型,构建点扩散函数和光学传递函数,采用与模糊过程相反的处理方法进行图像复原,消除离焦误差造成的图像模糊。测试实验中,对标准样本Lena图像进行了离焦模糊处理,采用维纳滤波算法复原图像,选择不同的离焦半径和维纳滤波参数进行对比。实验结果表明:维纳滤波方法可有效消除离焦模糊;抑制噪声干扰和"振铃效应";可把图像峰值信噪比提高到6dB以上。 相似文献
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共焦激光扫描显微镜技术进展 总被引:5,自引:0,他引:5
共焦激光扫描显微镜已延伸到光学显微术领域,包括共焦荧光显微镜、共焦扫描光纤显微镜、彩色共焦激光显微镜、共焦光栅光学显微镜等。并很快成为半导体材料检测和生物医学诊断的重要工具。本文对国外该显微镜技术的特性和新的进展进行了综述。 相似文献
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为实现场外车载光电跟踪仪的各光轴一致性检校,提出一种利用多光谱共孔径无穷远目标器、转光管和移动机构来实现对各光轴检校的方法,并对目标器进行了光学设计和总体结构设计,对影响检校的主要误差进行了分析。目标器总体尺寸为750 mm×120 mm×100 mm,采用离轴双曲面反射式光学系统,焦距为1 200 mm,孔径为50 mm,视场2°,分划板采用ZnS材料,光源采用溴钨灯,利用Zemax光学设计软件优化系统,实现焦面最大弥散斑为RMS 35.766 μm, 在空间频率5 lp/mm处,OTF均高于0.3,各项指标满足检校要求。 相似文献
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本文介绍了GCA Tropel 2000MK-Ⅱ光学传递函数(OTF)测试系统的计算机软件,着重分析了测试参数的选择与计算、自动调焦和OTF 计算等过程。 相似文献
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阐述了参考光束型激光多普勒测速仪的基本原理,从理论上分析了原理公式近似、高斯光束干涉、激光线宽、探测器孔径、有限渡越时间、信号处理算法、空气折射率变化及角度测量等诸多因素对激光多普勒测速仪测量结果造成的误差,研究并给出了每一种影响因素所引起误差的理论公式,在每一种影响因素中具体讨论了各种光学参数对测量误差的影响并对部分参数进行实验研究。理论分析和实验表明:在实验中需要选择线宽较窄的激光器及孔径较小的光电探测器,而在选择光束光斑半径和信号光中心光线的方向与粒子运动方向的夹角时,既要考虑激光的质量和多普勒信号的强度,同时也需要考虑原理公式近似、探测器孔径的尺寸、有限渡越时间及高斯光束干涉等多种因素对测量结果的影响。 相似文献