TI-59程序计算器在物理化学实验中的应用

西北师范学院化学系物理化学教研室,结合物理化学实验课教学,用TI-59程序计算器编制了20个用于物理化学实验的数据处理程序。它们是:燃烧热的     

基本参数法和经验系数法相结合的软件开发及其应用

本文概要叙述了对引进的美国海军研究实验室X射线荧光分析程序(称NRLXRF程序)的开发和应用情况。本工作对该程序的基本结构、主要功能、调用方法及进行未知试样分析时的主要步骤等,作了探讨性的开发,並在此基础上将其应用于超导薄膜、高温合金膜、高温合金钢、钛白等试样的分析,效装较好,可满足工艺分析的要求。对多元复杂体系的稀土、水泥试样作了较广泛的分析对照,为实现单标样或少标样进行X射线荧光分析,开辟了一个很好的途径。     

基于蒙特卡洛方法的X射线探测器能谱响应研究

为解决X射线荧光测量过程中的仪器刻度和校正难题,通过理论研究并运用蒙特卡洛方法对X射线荧光仪进行建模,得到了X射线探测器能谱响曲线。结果表明:模拟的X射线探测器能谱响应全谱与实测情况基本一致,而主成份谱线则高度一致,特征峰半高宽相对误差均在5%以内。方法为X射线荧光测量的仪器刻度和校正提供重要的研究信息,不仅为元素分析工作节省大量人力物力,也为无标样X射线荧光分析提供了有力的理论支撑。方法也可用于X射线荧光分析过程中的其他研究领域。     

X射线荧光光谱技术在地质分析中的应用及发展动态

简述X射线荧光光谱仪的发展历程,对其主要部件的技术发展进行概述。综述X射线荧光光谱分析技术在传统地质样品分析领域中的应用及新技术的发展动态。对X射线荧光光谱法在地质样品分析中存在的不足进行了分析总结。随地质学研究的需求变化,X射线荧光光谱分析技术的应用会不断拓展。     

磷矿石的 X 射线荧光光谱分析

本文研究了用X射线荧光光谱分析磷矿石的方法。磷矿石样品和四硼酸锂的混合物放在Pt-Au坩埚中熔融,制成玻璃圆片。同时加入氧化剂(硝酸铵)保护Pt-Au坩埚免遭损坏。利用De Jongh公式校正元素之间的影响,并由NBSGSC基本参数法程序计算了磷矿石的理论Alpha系数。样品分析结果是准确的,分析效率大大高于湿法分析,这表明,X射线荧光光谱法可以取代湿法分析磷矿石。     

X射线荧光光谱分析

作为《分析试验室》定期评述“X射线荧光光谱分析”系列评论第八篇,本文收集国内学者在1998年7月至2000年6月期间公开发表在国内外期刊和国际会议文集上的129篇论文,并对此期间对我国X射线荧光光谱分析的概况、发展和国际上的地位进行了讲述,内容包括仪器及维修、基体校正、数据处理方法、谱分析方法的研究、标样及样品制备、全反射X射线荧光光谱、同步辐射光源X射线荧光光谱、粒子激发X射线发射、X射线荧光光谱分析方法研究及其应用。     

X射线荧光分析古钱

在X射线荧光分析中,由于荧光发生于样品的表层,因而样品表面状态对分析结果很重要。一般,在X射线荧光分析中,都要把待测物表面加工为光洁而平整的表面。但对古物的研究,不允许对古物作损伤性处理。因而用X射线荧光分析法测定表面粗糙的古物时的精确     

日本电子推出α系列手提X射线荧光分析仪

日本电子推出了由美国Innov—X系统公司生产的轻型X射线荧光分析装置“α系列手提X射线荧光分析仪”。     

X 射线荧光光谱法测定铀矿石中的铁、钛、钙、硫、磷、硅、铝和铀——两步校正程序初探

本工作采用X射线荧光光谱法对含铀硅酸盐、磷酸盐和碳酸盐矿石样品中的铁、钛、钙、硫、磷、硅、铝和铀的分析进行了研究,对基体效应采用散射内标法-经验系数法两步校正程序分析了样品中的铁和铀,其余元素只作后一步校正,实验结果表明,本法可以较好地应用于矿样中含量范围较宽的主元素的分析。前言在X射线光谱分析时,为了克服基体效应对分析结果的影响有多种方法,其中以经验系数法研究和应用的最多,日本钢铁研究所提出的数学校正模型是其中应用较多的一种,     

X射线荧光光谱法测定聚乙烯树脂中微量铬

X射线荧光光谱法应用于各种材料中元素测定,其含量分析范围为1×10-3%～100%,具有测定元素范围广、测定精度高、分析速度快、非破坏性分析等特点.     

DXRF获批用于土壤和固体废物元素分析新方法ASTMD8064–16

<正>不久前最新发布的ASTM D8064–16标准测试法已被批准使用能量色散X射线荧光(简称EDXRF)光谱测定法,来进行土壤和固体废物中重金属元素的量化分析。该测定法使用了多个单色光束,又称为高精度X射线荧光(HDXRF)。ASTM D8064适用于各种土壤基质对于铬、镍、砷、镉、汞和铅的测定。由于这些元素被广泛应用于众多工业流程,     

谱线叠加峰的分解及峰形表征函数的研究

用求函数极小值的达维多(Davidon)变尺度法,建立了分解 X射线衍射叠加峰的电子计算机程序。提出了我们称之为“广义柯西函数”的新函数表征非晶态高聚物的散射曲线,得到比常用的 Hindeleh 多项式函数更合理的结果。     

专利

<正>一种X射线荧光分析装置公开号:CN201600338U公开日:2010.10.06申请人:韩晓朋摘要本实用新型专利公开了一种X射线荧光分析装置,包括承载待测样品的基台、发出原级X射线轰击待测样品的X射线枪以及接收X荧光的探测器,探测器上依次连接有前置放大器、DPU处理器和计算机,所述的DPU处理器包括顺序连接的放大整形模块、ADC转换模块、数字脉冲整形模块、     

X射线荧光光谱分析的新进展

本文对X射线荧光光谱分析的光谱仪器、数学校正、计算机的应用、状态分析等最新进展进行了评述,并提出X射线荧光光谱仪的今后发展,附58篇参考文献。     

X射线荧光光谱分析

本文是《分析试验室》定期评述中“X射线荧光光谱分析”课题的第三篇评述文章。它收集了国内学者在国内外刊物和专业会议上发表的268篇文章(其中在刊物上发表的153篇),时间基本上限于1988年6月至1990年6月。评述了在此期间我国X射线荧光光谱概况及进展。内容有仪器、进口仪器性能扩充、定量分析、定性和半定量分析、XRF在标准物质研制中的应用及状态分析和解谱程序等六个方面。关于应用方面放在定量分析方法的评述中予以论述。     

一种定量分析金属镀层中特定元素含量的简单方法

用光学的方法（如常见的X射线荧光分析法、发射光谱分析法^[1]等）分析固体样品中特定元素及其含量是常见的分析方法。相对于化学方法，它们的分析过程简单、迅速。笔者在分析样品中遇到了一些比较特殊的分析要求，例如在金属外镀了另外的合金，要求分析在镀层中特定元素的浓度。一种直接的方法是用X射线荧光做定量分析，可以给出镀层的元素含量。但X荧光定量分析需要特定的标样，对使用者存在一定的不便之处，而且设备也较贵。本研究采用普通的原子光谱分析法结合简单的数学推导，解决了上述问题。本方法也可以应用于普通的光学原子发射光谱分析。     

神经网络基本参数算法校正非线性基体效应

提出了神经网络基本参数－NNFP算法,将NNFP算法应用于X射线荧光定量分析中,与理论α系数相比,NNFP算法提高了非线性基体效应校正能力和预测准确度。     

波长色散X射线荧光光谱仪和多晶X射线衍射仪联用技术鉴定进口铜矿和含铜物料

首次研究进口可利用含铜物料与进口铜矿属性的不同特性并建立了鉴定方法,采用X射线荧光光谱法和X射线衍射光谱法联用技术建立铜矿和含铜物料属性的鉴别方法。通过X射线荧光光谱法对铜矿和含铜物料中元素进行定性半定量分析,再用X射线衍射光谱法对铜矿和含铜物料的特征谱峰进行扫描,与X射线衍射仪中标准卡片比对分析,能够确定铜矿和含铜物料的物相组成。结果显示,X射线荧光光谱法测定的铜矿和含铜物料的共同特点是铜的含量较高,达到冶炼铜对原料的要求;硅、铁、钠、钙和镁元素都能够检出;差异性在铅和锌元素在含铜物料中较高,在铜矿石中基本未检出;用X射线荧光光谱法检测出的金属元素,通过X射线衍射仪扫描后与标准图片比对,各元素以不同的形式存在于含铜物料中,且有规律可循。     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。     

关于聚合物非晶态X衍射表征函数的探讨

电子计算机X射线衍射分峰法是70年代发展起来的有价值的研究结晶聚合物结构的新方法,其可靠性首先取决于用以表示晶志衍射与非晶态衍射的表征函数是否正确。本文讨论了现有的各种非晶态衍射表征函数的缺点,作者在实验和理论分析的基础上,提出两个不对称的指数函数作为聚合物非晶态X衍射表征函数。把这函数应用于聚丙烯的结构分析并与应用其他类型的表征函数所得的结果相比较,证明作者提出的不对称指数函数形式的非晶态X衍射表征函数能给出比较满意的结果。