用NBSGSC计算机程序和单标样的理论α系数法分析结果

引言过去30年,人们在X射线荧光分析中试用了各种校正元素间影响的计算方法。其中所谓的“经验系数法”需要相当数量的优质标样。而所谓的“基本参数法”原则上仅需纯元素标样或单只多元标样。纯元素标样有时难以得到,而且受到所用物理常数和参数(包括质量吸收系数,荧光产额,吸收边跃迁比,原级光谱和几何因子等)不准确性的严重影响,在多数情况下结果甚差。除非手头没有多元标样,一般在基本参数法中不宜使用。而单只多元标样则可消除或减小理论的不完善性以及基本参数的不准确性,因而在基本参数法中更为可取。     

X射线荧光光谱理论α系数法测定古青铜钱币中的铅铜锡

本将Ｌａｃｈａｎｃｅ－ｔｒａｉｌｌ（Ｌ－Ｔ）方程理论α系数法应用于古青铜钱币中的Ｐｂ,Ｃｕ,Ｓｎ分析,并与基本参数法和标样法的结果进行了比较。由于本法和模拟标样法都是从基本参数法演变来的,使用的标样是一样的,三种方法计算结果数据比较接近。本法计算速度快,效率高,但对标样的依赖性较大。     

用NBSGSC计算机程序和单标样的理论a系数法分析结果

经验系数法根据所用的经验校正方程类型和所希望分析的组分范围,一般需要相当多的优质多元标样。与此相比基本参数法则原则上仅需纯元素标样或单只多元标样。因为在有些情况下难于获得纯元素标样,加之若用单只多元标样可以消除或减少理论公式的不完善性从及基本参数的不准确性,因此使用单只多元标样更可取     

X荧光分析中基本参数法和理论α系数法的结合——一种可行的实践方法

一、概述在X荧光分析实践中,基本参数法和理论α系数法各有优缺点。前者完全基于从严格理论推导的X荧光强度公式,当样品和标样的组成相差较大时一般仍能给出较好的结果。其缺点是运算周期长,分析效率较低,特别是当标样和样品组成相差较大时,把相对强度作为浓度初值与真值相差甚远,这势     

基本参数法和经验系数法相结合的一种新尝试

本文提出应用Shiraiwa等人推导的X射线荧光强度的理论公式计算一组包含各试样组分的浓度所对应的理论强度,再根据设定组分浓度和计算得到的理论强度比求解R-H方程中元素间相互作用系数,为了修正理论计算的强度比和实验测得的强度比之间的偏差,我们用Delta系数法予以改善,将此法(基本参数法和Delta系数法相结合的方法,简称为FPM-Delta法)应用于不锈钢、铝合金中杂质的分析,取得了优于基本参数法而接近于经验系数法的结果。显示出本法具有快速、简便以及兼取了基本参数法和经验系数法二者优点等特点。     

理论α系数在铝硅耐火材料X射线荧光光谱分析中的应用——理学基本参数法程序的应用之一

国内外早已采用熔融法X射线荧光光谱测定耐火材料中主元素,人们普遍认为采用X荧光测定铝硅耐火材料的最终产品,与化学法相比,分析时间要快好几倍。国内在测定铝硅耐火材料时,几乎都是用一套标样的回归法求取经验系数。本文将利用日本理学的基本参数法程序,对理论α系数应用于铝硅耐火材料分析方面进行了探     

处理XRF的R/X比为表观活度系数由二元系数据计算三元系参数

前言 X-射线荧光分析(XRF)作为物质成份分析手段已经有三十多年的历史。随着仪器的不断改进和分析方法研究的进展,目前XRF用于地质、冶金、环保等部门已成为有效的分析方法之一。计算机技术的问世与发展使得用数学方法校正增强-吸收效应成了XRF方法研究中非常活跃的一个领域。五十年代始到现在提出来各种数学模型,它们大体上可以分为经验系数法和基本参数法两类。近年来还有一些学者在探讨经验方程与影响系数的内在联系,基本参数法与经验系数法联用的混合法也是近年来非常引人注目的和感兴趣的。所有这些研究都正在使XRF分析日趋完善。     

X射线荧光分析中的基本参数法——基本参数对分析结果的影响

Criss等提出的基本参数法已成为X射线荧光分析中用数学方法校正元素间吸收-增强效应的三个主要方法之一,且是其中另一方法即基本参数法和影响系数法相结合的方法的基础。因此,近年来对基本参数和基本参数法的研究受到广泛的重视。对于某些样品的测定,基本参数法的相对误差约为1—2%,这主要来源于基本参数测定的不准确性。我们曾讨论了质量吸收系数和钨靶的不同原级X射谱对一些试样分析结果的影响。为了进一步弄清基本参数法及由基本参数法计算的理论影响系数,本文对近年     

X荧光分析基本参数法软件关统 FLY-FPM研制完成并通过鉴定

中国科学地球化学研究所丰梁垣最近完成国家自然科学基金项目“X荧光分析基本参数法软件系数的开发研制”。该软件定名为ELY-FPM。它是一个多功能的软件包,由9个主要功能程序、28个子程序、9个实用辅助程序和2个基本物理参数数据文件组成;可进行基本参数法、理论α系数法或二者相结合的分析和计算;适用于Na(11)—U(92)之间的元素     

X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解(理论影响系数法和基本参数法)

本文首先在理论分析基础上,建立多元素样品的重量分数Ci、X射线荧光相对强度Ri与基体效应因子Fi的代数关系.然后,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法,即理论影响系数法和基本参数法.并用这两种方法分析了6个耐热钢标样,主量、常量元素的平均相对分析误差＜0.5%,对低含量轻元素Si、P、S的分析也取得良好的结果.     

能量色散X射线荧光分析中改进型基本参数法研究

能量色散X射线荧光分析方法是目前常用的一种多元素分析方法,但该方法检出限和分析精度,受到分析基体的影响。基本参数法是目前一种常用的分析方法,但在使用过程必须获取净峰面积和基体所有成分,而在实际使用时,尤其在分析低含量样品时,净峰面积计算、基体中“暗物质”影响了测量精度,制约了基本参数法的应用。针对基本参数法的不足,将谱线解析方法与基本参数法融合,将重叠峰剥离过程嵌入基本参数法迭代过程中。在含量计算过程中,采用分析样品特征X射线分支比的理论系数,对重叠峰进行剥离,解决能量色散X射线荧光测量中净峰面积计算和定量分析问题;在计算过程中,对“暗物质”进行均一化处理。通过对标准物质测量分析,结果表明对于Ni,Cu,Zn三个元素改进型基本参数法(改进型FP)测量结果准确度高于影响系数法。     

X射线荧光分析中谢尔曼方程逆问题的求解（理论影响系数法 …

本文首先在理论分析基础上,建立多元素样品的重量分数Ｃｉ、Ｘ射线荧光相对强度Ｒｉ与基体效应因子Ｆｉ的代数关系。然后,按照此关系导出两种求解谢尔曼方程逆问题的方法,即理论影响系数法和基本参数法。并用这两种方法分析了６个耐热钢标样,主量、常量元素的平均相对分析误差〈０．５％,对低含量轻元素Ｓｉ、Ｐ、Ｓ的分析也取得良好的结果。     

计算多层膜组份和厚度的软件FPMULTI及其应用

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层,最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样,亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明,用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量法线,体现了基本参数法的优点．     

只用一个参比标样的X射线荧光光谱分析的经验系数法

前文曾推导出以表观活度系数法的参数β_(ij)和m_(ij)来表达的经验系数表达式,并利用这些表达式计算了化学成分。然而上述计算要求计算对纯元素的相对强度。本文在前文基础上,进一步推导出只用一个参比标样“a”的经验系数表达式: 利用上述表达式,仅需制备一个参比标样便可进行经验系数法的计算,这便大大简化了实验手续。为此,用BASIC语言编制了专用迭代程序。计算结果表明,与化学分析结果符合较好。     

计算多层膜组分和厚度的软件FPMULTI及其应用

本文简述了可用于多层镀层和多层薄膜成分和厚度同时分析的计算机软件ＦＰＭＵＬＴＩ的主要特点。这个基于基本参数法的计算机软件可以分析多至１０层,最多含２５个元素的各类试样。所需的校正标样可以是纯元素或多元素的薄膜标样,亦可以是纯元素或多元素的块样。本文的研究表明,用ＦＰＭＵＬＴＩ的分析结果明显优于检量线法,体现了基本参数法的优点。     

X射线荧光光谱分析中理论α系数的快速计算

在X射线荧光光谱分析中,采用理论α系数对基体效应进行校正已被人们所重视,因其具有所需标样少、分析范围广、通用性强、手续简便等优点。笔者先假设若干组二元体系用NLRXRF程序计算理论相对强度,再由Lachance-Traill模式求得基本α系数,进而推算混合α系数和修正α系数。本文对地质岩石样品中硅酸盐系列的理论α系数作了计算,取得了满意的结果。一、理论α系数的计算     

X射线荧光光谱分析中基体效应的数学校正方法新探

用开发的ＴＢＨＸＲＦ基本参数法程序计算了复杂样品的基体效应。提出一个修正多元体系基体效应的校正数学模型和计算影响系数α及β，导出的校正模式及影响系数的物理意义清楚、明确。用该法分析了不锈钢样品获得良好的结果。还指出在某些情况中，三次荧光的影响不能忽略，从对比实验中得出结论，对Ｎｉ浓度高的钢铁样品在分析Ｃｒ时，必须考虑Ｎｉ、Ｆｅ对ＣｒＫα的三次荧光效应影响。     

钇,钡,铜超导薄膜的非破坏测定

本文配合阶段性薄膜制备工艺,用有限厚度范围内的转换因子法及模拟薄膜标样的基本参数法,X-射线荧光光谱非破坏测定钇、钡、铜超导薄膜。经我们实验,它们与破坏法ICP相比,A_((Ba/Y))克原子比的平均绝对偏差分别为0.15与0.065,A_((Cu/Y))克原子比的平均绝对偏差分别为0.14与0.088,模拟薄膜标样的基本参数法优于转换因子法。作者还对薄膜试样非破坏测定中的标样选用进行了探讨。     

X射线荧光光谱法表征薄膜进展

X射线荧光光谱法表征薄膜样品以其能同时测定样品的组分和厚度等优点,目前在国内外的研究和应用越来越广泛和深入。文章通过从荧光强度理论计算、基体效应和校正方法、分析误差来源及消除、定量分析软件和实际分析应用等几个方面对X射线荧光光谱法表征薄膜样品的研究作了评述。鉴于薄膜样品制备相似标样比较困难,而基本参数法采用非相似标样表征薄膜的准确度较高,因此基本参数法校正薄膜样品的应用比较广泛。重点介绍了基本参数法的荧光强度理论计算公式的发展、计算误差来源以及分析软件应用。展望了X射线荧光光谱法表征薄膜样品的应用前景和发展方向。     

Arai实测谱分布数据的应用

对Arai的靶原级谱分布数据 ,通过插值、拟合处理 ,获得适用于数值积分的Δλ =0 0 0 2nm的谱分布数据 ,建立了新的谱分布数据文件 ,应用于FPM程序中。并对耐热钢GH131进行实验研究。理论强度与测量强度的相关性良好 ;基本参数法与理论影响系数法分析结果与确认值一致 ,对Cr,Ni分析的相对误差 <1 0 %。结果表明 :经处理的Arai的靶原级谱分布数据应用于FPM程序 ,提高了分析准确性 ,并扩大了基本参数法与理论影响系数法的应用范围。