双层介质膜厚度和折射率的测定

<正> 前言在光学器件、电子器件以及磁性元件中,都经常使用双层介质膜和多层介质膜。这些膜往往直接决定着器件的结构和性能,双层膜和多层的研究可促进新型器件的发展。在国内、四川大学物理系林理彬副教授等首先用“双入射角二级近似法”,较精确地同时测定了双层复合介质膜的厚度和折射率。这里将介绍用等效基片等效光学常数法和等效基片等效菲涅尔系数法,在一个入射角下同时测定双层和多层介质膜的厚度和折射率,且可通     

利用泄漏波导测量低折射率薄膜的折射率和厚度

根据泄漏波导原理对K_9玻璃基板上的冰晶石薄膜进行折射率测量,达到的精度为1×10~(-4),与真实波导的情况相似。文中讨论了利用添加高折射率薄层减小待测薄膜的最小厚度的可能性。文中还利用光电方法观察反射光中暗条纹的方法判别波导的激发,并测出了冰晶石薄膜在4500到6500范围内的折射率。     

薄膜折射率的测定

一、实验简介在普物光学实验中,目前尚未有测量布儒斯特角的理想实验.本文介绍一种测量非吸收薄膜的布儒斯特角的方法,并由此求出该薄膜的折射率. 用平行度较好的玻璃板(如除去药膜的光谱板)作为基片,将待测的非吸收薄膜涂镀在基片的B面上(如图1),中间留一条宽约3mm不镀膜的空隙CD.     

双面金属铝包覆介质波导测量介质厚度和折射率

利用双面金属铝包覆波导的测量方法,测量了硅片的厚度和折射率。这种方法利用双面金属铝包覆波导的超高阶模的偏振不灵敏和对金属层要求较低的特点,降低了对仪器的要求和测量的成本。同时,由于应用高灵敏的超高阶导模为探针,测量精度较高,结果显示测量精度在1%以内。     

介质薄膜不同方向折射率的计算

本文应用介电椭球理论,推导出计算介质薄膜不同方向折射率的新公式.     

用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度

本文提出一个直接利用薄膜和衬底的X射线能谱来同时测定薄膜的成分和厚度的新方法,利用薄膜发出的各元素的标识X射线强度比确定其成分,利用NaCl衬底的Nak_α和Clk_α标识X射线的强度随膜厚增大而衰减的定量关系确定膜厚,本方法不需要纯元素的块状标样,对在NaCl衬底上沉积的Cu-Si合金薄膜的成分和厚度,在各种实验条件下进行了测定,得到了较为满意的结果。 关键词：     

迈克尔逊干涉仪测透明介质厚度及折射率

提出了使用用迈克尔逊干涉仪,改变光源入射方式及观测方式以获得稳定、清晰等厚干涉现象的方法.探究了在光路中插入的被测透明介质如何对等厚干涉条纹产生影响,并导出了被测介质厚度、折射率及旋转角度与等厚干涉条纹移动量之间的关系.实现对透明介质厚度、折射率进行简练、快速的同时测量.     

用迈克尔逊干涉仪测量单层薄膜的厚度和折射率

薄膜厚度的测量是薄膜科学的重要分支之一，本文讨论用迈克尔逊干涉仪观察白光等厚彩色干涉条纹方法，从而确定薄膜的厚度和折射率，该方法的优点是测量精度高，原理简单，在一次测量过程中可同时确定薄膜的厚度和折射率。     

测定介质折射率的几种方法

介绍了几种测定介质折射率的方法.     

测定透光介质折射率的学生自主实验

以前的《教学大纲》对实验的要求是用统一的器材完成同一个实验,现在的《课程标准》对许多实验并没有规定用什么样的仪器来完成,更谈不上具体的操作步骤,这就给教师的实验教学带来更大的自主性.在测定玻璃的折射率实验中,利用学校现有的资源,笔者给学生提供了各种仪器,在教师的引导下,让学生自主选择、实施,有问题教师再进行指点     

椭偏仪测量粗糙面薄膜的厚度和折射率的研究

本文阐述了漫反射系数和粗糙面薄膜的厚度，寻出了漫反射椭偏测量术的方程，实用中测量了湿敏元件的湿敏薄膜厚度。     

利用光强透射率测定透明介质的折射率

利用光在两种介质分界面上能流分配及偏振态变化的行为,推导了各向同性单层介质在线偏振光入 射下的光强透射率与介质折射率之间的关系,从而给出了基于线偏振光透射率测量透明介质折射率的原理.实验 结果表明,得到的介质折射率与理论值相符,所采取的实验方案可行.     

用双介质法测定金属薄膜的厚度和光学常数

用角度扫描衰减全反射方法(ATR),激励金属和两种介质界面处的表面等离子激元波(SPW)通过这些表面等离子激元波和介质折射率的关系同时确定了金属薄膜的厚度和光学常数.实验结果和理论分析相符.     

激光等密度等倾干涉条纹法测定透明介质的厚度和折射率

提出用迈克尔孙干涉仪等密度等倾干涉条纹法测定透明介质（玻璃、薄膜等）的厚度和折射率的方法。实验证明,这种方法是正确、有效和间便的。     

利用白光的双缝干涉测量介质薄膜的折射率

利用白光双缝干涉测定介质膜折射率,在双缝前加装待测介质薄膜,通过测微目镜中零级白色条纹在加装前后的位移,测定待测介质薄膜的折射率.此方法有现象明显、操作简便的优点.     

ATR-FTIR光谱法快速测定BOPP薄膜的厚度和定量

应用傅里叶变换衰减全反射红外光谱(ATR-FTIR)分析技术,结合偏最小二乘法(PLS)建立了预测BOPP薄膜厚度和定量等物理指标的校正模型。将模型的预测结果与标准方法测定结果比较,在显著性水平为5%的条件下,两种方法不存在显著性差异。该方法用于BOPP薄膜厚度和定量等物理指标的测定,操作简捷、准确,结果令人满意。     

变折射率薄膜

目前的多层增透膜都是以均质膜为基础的。所谓均质膜,就是膜的折射率沿厚度方向是一致的。如果膜是非均质的,也就是膜的折射率沿厚度方向逐渐变化,我们称为变折射率薄膜。当膜的折射率从玻璃的值逐渐变到空气的值时,表面的反射便消失了。当然这在工艺上目前看来是无法实现的,因为没有一种固体材料其折射率接近空气的折射率。然而,如果使膜的折射率由玻璃的值逐渐增高到可以同氟化镁相匹配的值,则将是另一番景象。而且,这在工艺上是可以实现的。我们利用假想面的方法来分析这样的双层膜。如图所示,三个界面的菲涅耳系数分别为r_0,r_1和r_2。两层膜的位相厚度分别为δ_1/2和δ_2/2,其中     

利用布儒斯特角测定透明薄膜的折射率

本文以光波在分层媒质中的传播理论及布儒斯特角原理为基础讨论了均匀媒质薄膜的折射率测量，为均匀媒质薄膜折射率的测量提供了一种简单的方法。     

Monte Carlo方法应用于二元合金薄膜微区成份及厚度的同时测定

本文着重分析粒子模拟中相空间周期性光滑化对噪声的抑制机制。文中引入光滑化等效"滤波"效应的概念,导出了波长相关的光滑化滤波系数的解析表达式。结果表明,光滑化主要是抑制短波噪声,并且它不引起静电波能量在波数空间的转移。