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针对传感器的敏感单元发展需求,提出了一种碳纳米管复合材料.该材料是以碳纳米管作为填充粒子,结合聚二甲基硅氧烷(PDMS)有机基体,采用超声共混方法制备的一种新型传感器敏感元件.详细分析研究了复合材料的制备工艺参数,以及在不同工艺参数下该复合材料的力敏特性.扫描电镜测试表明碳纳米管在PDMS中分散均匀且镶嵌良好.通过对不同体积分数的碳纳米管与PDMS复合材料进行电学性能测试,研究薄膜的"力-电阻"和"力-电容"耦合性能,测试了薄膜结构的力敏效应.计算得到复合薄膜材料的压阻灵敏度因子达到40,压电容灵敏度因子达到70.实验研究表明,通过改变碳纳米管与PDMS的比例,可以很好地调节其电子输运特性以及电阻和电容的应力敏感特性,可以为该类型的力敏材料在不同的力敏传感技术领域提供新的研究思路. 相似文献
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光盘等效光栅常量和存储容量的测量 总被引:1,自引:0,他引:1
给出了CD光盘的等效径向光栅常量d⊥和切向光栅常量d∥的公式,并利用He-Ne激光器、坐标纸和分光计测量了d⊥和d∥的值. 用移测显微镜测量了光盘中信息区的最大等效半径Rmax和最小等效半径Rmin. 给出了计算光盘存储容量V的公式,该公式表明,存储容量V是d⊥,d∥,Rmax和Rmin的函数. 实验测得的d⊥和d∥和国家工业标准值的误差分别为0.1%和0.6%. 实验测得的光盘存储容量值和计算机测定值之间的误差为0.3%,分析了产生测量误差的原因. 相似文献
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光盘存储信息的轨道可看成一圆形反射光栅,借助光学平台利用光栅方程可以测其道间距(光栅常数)。本文就该方法中光栅方程的适用条件进行了探讨,给出远场距离z≥2(πd2/4λ),对CD-R和CD-ROM盘进行了测试,并对结果做了对比分析。 相似文献
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多层介质膜光栅是高功率激光系统的关键光学元件.为了满足国内强激光系统的迫切需求, 在大口径多层介质膜光栅的研制过程中,建立了单波长自准直条件下的衍射效率测量方法及其误差分析. 结果表明误差主要由探测器的噪声和测试人员的差异产生,对衍射效率测试精度的影响是±1%. 在此基础上,将光栅衍射效率及其分布测量技术应用于光栅制作工艺中, 作为大口径光栅无损检测的一种手段,如判断光栅掩模是否能进行离子束刻蚀、 离子束刻蚀的在线监测和是否需要再刻蚀,从而实现对大口径多层介质膜光栅离子束刻蚀过程的定量、 科学控制,提高了离子束刻蚀光栅制作工艺的成功率.利用上述技术,已成功研制出多块最大尺寸为 430 mm× 350 mm、线密度1740线/mm、平均衍射效率大于95%的多层介质膜光栅. 实验结果表明,该方法操作简单、测量快速准确,不必检测光栅微结构. 为大口径多层介质膜光栅研制的无损检测工程化奠定了基础. 相似文献