我国同步辐射小角X光散射装置

小角X光散射是当X光照射到物质上时发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X光散射现象,因此它是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。普通X光源产生的X光强度弱,限制了小角X光散射的应用,采用同步辐射为X光源,则可以大大提高X光强度。目前我国已建立同步辐射小角X光散射站,本文对其装置进行了介绍。     

小角X射线散射方法测定二氧化硅干凝胶的平均孔径

提出了当多孔体系的小角X射线散射不遵守Porod定理的情况下,应用Debye法(相关函数法) 和Guinier法(逐级切线法和多级斜线法)计算它们的平均孔径的方法.对不同制备条件下部分 二氧化硅干凝胶的测试,取得了比较一致的结果,并与氮气吸附法测定结果进行了对比. 关键词： 小角X射线散射 二氧化硅干凝胶 平均孔径     

同步辐射小角X射线散射研究

应用同步辐射小角X射线散射研究了二醋酸纤维素接枝聚甲基丙烯酸甲酯在二氯甲烷和甲醇4:1的混合溶剂中的尺寸和形态. 结果表明接枝共聚物在溶剂中形成单分子微球. 微球的尺寸随支链的长度增加而增大.     

小角X光散射绝对强度的两种测试方法

用衰减法和水标样法测量多孔SiO2的小角X光散射绝对强度,并以此计算样品中的空隙体积分数关系。将所得结果与用氮气吸附法得到的结果进行比较,表明了用标样法得到的结果更加接近于氮气吸附法测量得到的结果,因而间接地表明了标样法要比衰减法测得的小角散射绝对强度更加可靠。文章进一步讨论了这两种方法的特点以及误差产生的原因。该实验结果和讨论将有助于进一步加深对这两种绝对强度测试方法的理解,并在实验中选择合适的测量方法。     

光色玻璃的X射线小角散射研究

用X射线小角散射SAXS)研究了光色玻璃中卤化银微晶尺寸同热处理温度的关系.发现在490℃以下热处理的玻璃,同原始玻璃一样,没有明显的散射.但由银含量仅为0.3(重量%)的玻璃能观察到散射干涉现象正说明银离子被富集在分散的Na_2O-B_2O_3液滴之中.从高温处理后冷却至440℃再快冷到室温的玻璃,其卤化银颗粒的尺寸比直接淬冷到室温的玻璃要大,后者约为110(?).玻璃中加入ZrO_2后,使卤化银颗粒尺寸达到近乎20O(?).基体玻璃中的-液分相,由于分散相与连续相之间的电子密度差太小,难以对其SAXS强度作定量处理.     

小角X光散射中干涉效应的判断与处理

小角X光散射是当X光照射到物质上时发生的在原光束附近小角度范围内的电子相干散射,凡是存在纳米尺度的电子密度不均匀区的物质均会产生小角X光散射现象,因此它是表征纳米、多孔材料结构的理想手段。SAXS中的有关理论一般仅适用于稀疏体系,对于密集体系,往往会产生干涉现象。本文简要总结了目前文献中有关干涉效应的判断与处理方法。     

小角X射线散射应用研究若干进展

文章从小角X射线散射（small-ande X-ray scattering，SAXS）的理论分析出发，结合国内外SAXS理论和应用研究的最新动态，总结了文章作者所在的研究小组近年来在SAXS技术用于材料微结构表征方面的研究成果。主要包括以下三个方面的内容：（1）有机／无机杂化材料中电子密度波动的研究；（2）弦长度分布函数材料的周期结构的研究；（3）纳米粉末晶化过程的研究。     

小角X射线散射应用研究若干进展

文章从小角X射线散射（small-angle X-ray scattering, SAXS）的理论分析出发,结合国内外SAXS理论和应用研究的最新动态,总结了文章作者所在的研究小组近年来在SAXS技术用于材料微结构表征方面的研究成果。主要包括以下三个方面的内容：（1）有机/无机杂化材料中电子密度波动的研究;（2）弦长度分布函数材料的周期结构的研究;（3）纳米粉末晶化过程的研究。     

高聚物固体与液晶的小角光散射研究

小角光散射（ＳＡＬＳ）是利用由于物体内极化率的不均一性引起的散射来研究结构的一种方法,散射测量的角度通常在１０°以内．１９５９年Ｐｌａｚａ和Ｓｔｅｉｎ［１］第一次用ＳＡＬＳ方法研究了聚乙烯薄膜并得到了反映球晶结构的典型散射图象．自此以来,由于激光技术的发展和小型激光器普遍使用,使得ＳＡＬＳ的实验工作大为方便．理论研究的进展又使从散射图象能得到的信息日益丰富．ＳＡＬＳ方法和各种显微镜技?...     

用小角X射线散射法研究溶胶结构

采用溶胶凝胶方法在碱性条件下制备了SiO2和ZrO2溶胶,应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)法研究了溶胶的结构.结果表明,溶胶粒子是多分散的,其生长、聚集受RLCA和Eden模型的共同控制,是一种非线性的动力学过程,所形成的聚集体呈随机、分岔、稠密不同的结构,具有质量分形的特征.同时还发现所研究溶胶的散射曲线均不遵守Porod定理,形成负偏离或正偏离,这说明在溶胶粒子与分散介质间有过渡相存在.对上述偏离进行了定性和定量的分析,提出了正偏离时的定量解析方法,从而得到了胶体系统中有关过渡层(界面层)结构的 关键词：     

同步辐射二维小角X光散射实验装置的建立与应用

与一维小角散射实验法相比,二维小角X光散射实验法可用于研究非球对称的体系,即可探测物质中取向体系的颗粒度(或孔径)的变化、颗粒(或孔)形状的变化等信息.介绍了北京同步辐射装置二维小角X光散射实验设备的建造及所建立的分析方法,并用于研究不同活化剂条件下制备出来的沥青基活性炭纤维中孔分布的变化,得到了炭纤维中的孔的平均体积随活化剂中NH3含量的降低而变大的结论.     

二氧化硅气凝胶靶丸研制

2003年，低密度二氧化硅气凝胶微球制备技术以及相关的溶胶-凝胶过程的研究取得了一些进展。在黑腔辐射场均匀性以及非对称性研究中，需要实心二氧化硅气凝胶微球作为黑腔内靶丸，必须满足很高的球形度和较低的密度以及小粒径的要求。一般地，为统一起见，可以用非球形参数OOR(out-of-round)表征微球的球形度，OOR越小，表示微球球形度越高。作为ICF靶丸，一般必须满足OOR小于5％。因此，实心二氧化硅气凝胶微球的制备技术附加了有别于普通二氧化硅块状气凝胶的特殊性。     

小角X射线散射模糊数据解析方法

小角X射线散射(SAXS)是研究多孔材料结构的一种有效方法．可得到孔径分布、平均孔径、比表面、界面层厚度、分形维数等许多微结构信息．SAXS理论公式基于点状光源(针孔准直),但实践中则大多采用长狭缝准直条件．简要综述了SAXS在长狭缝准直条件下直接应用模糊强度进行煤、炭、二凝胶、分子筛等多孔材料结构解析的方法、并与针孔准直进行了对比。     

小角X射线散射实验数据的初步处理

介绍北京同步辐射装置(BSRF)小角X射线散射实验站实验数据的初步处理方法,即由成像板探测器检测到的散射信号转换成角度及其对应的强度数据的方法,并对数据转换过程中可能遇到的问题进行了详细的讨论.     

二氧化硅气凝胶辐射特性反演方法研究

建立了基于光谱半球反射率和光谱半球透过率的二氧化硅气凝胶样品辐射特性参数的反演方法。采用离散坐标法、四通量法、二通量法计算了二氧化硅气凝胶样品内辐射传输问题,反演了样品的光谱辐射特性参数。结果表明,离散坐标法和四通量法反演结果几乎一致,二通量法反演结果小于离散坐标法和四通量法反演结果,而且误差较大,对于高孔隙率的二氧化硅气凝胶,界面反射对反演结果的影响很小,可以忽略。本文的研究工作对二氧化硅气凝胶辐射换热特性具有理论指导意义。     

用小角X射线散射研究纳米粒子的粒度分布

采用小角X射线散射中的对数高斯分布函数的方法，确定了纳米粒子的粒度分布。通过理论分析、计算，对氧化锌纳粒子进行实验测试。结果表明，氧化锌纳米粒子的平均半径尺寸为3．34nm，分布的标准偏差为1．35。     

Ti-Mo合金氢化物微观缺陷的小角X射线散射研究

采用小角X射线散射(SAXS)方法对Ti-Mo合金氢化物的微观缺陷进行了研究.结果表明,氢化物样品中Mo含量为5at％时,所测定的SAXS强度在高散射角区明显低于其他样品的SAXS强度.氢化物中的晶粒及其内部的亚结构是引起SAXS现象的散射体,而这些亚结构是由合金氢化时引入的大量位错所产生.Mo 含量为5at％合金主要为hcp结构而其他合金为bcc结构,但两种合金氢化后都成为fcc结构的氢化物.据此,认为hcp结构与bcc结构Ti-Mo合金在氢化时氢化物结构相同但引入的位错缺陷特征不同. 关键词： Ti-Mo合金氢化物 小角X射线散射 微观缺陷     

中子小角散射讲座：第一讲中子小角散射

中子小角散射是通过分析长波长中子(0.2—2 nm左右)在小角度内的散射强度来研究大小在几十到几千埃范围内的物质结构的一种专门的测量技术. 现在我们考虑波长为 0.1—1nm的一束中子,通过准直,使其发散度尽可能在 10-2ad以下.当这样的中子束照射在一样品上时,穿透样品的中子束强度衰减,同时在透射束的周围(大约为5°以下的角度范围内),出现了强度连续变化的散射中子,并没有产生通常的中子衍射图案,这种现象称为中子小角散射.它能给出比中子波长大几十、几百乃至上千倍大的尺度上的有关物质结构的信息. 散射样品中散射密度的不均匀,会产生中子…     

小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

溶胶界西层厚应通常是用Porod法对高角区负偏离的队Porod曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均阗径之差而获得平均界面厚度。应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度。