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研究X射线二极管(XRD)时间特性.XRD 是构成软X射线能谱仪的主要部件,它用于激光等离子体发射软X射线谱测量.实验利用激光聚变研究中心的200TW激光器(激光能量~6J,脉冲宽度~30fs)打金箔靶产生的X射线发射谱,用滤片(Al)-XRD探测系统测量,探测信号由高频电缆(SUJ-50-10)传输和宽带示波器(TDS694C和TDS6604B)记录.实验数据进行了线性拟合和比对分析.
关键词:
X射线二极管
时间特性
软X射线能谱仪
数据处理 相似文献
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一、引言 磁镜运行中,为了要知道它在电子回旋共振加热(ECRH)下形成热电子的参数,我们测量了硬X射线能谱、硬X射线发射的时间特性、不同磁场强度下形成热电子环的位置、以及热电子的脉冲幅度分布等。 HER是中国科学院等离子体物理研究所简单型磁镜装置,它的几何尺寸是,真空室长 相似文献
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介绍了HT-7装置上软X射线能谱诊断系统,用软X射线能谱对HT-7托卡马克上电子温度进行了测量。在离子伯恩斯坦波和低杂波协同实验中,观察到了对等离子体的较好的加热效果。 相似文献
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在“星光Ⅱ”激光装置上进行了X射线辐射输运分解实验研究.实验中利用高时空分辨的MCP选通X射线皮秒分幅相机和软X射线条纹相机从缝口观测腔内壁X射线辐射时空分布,得到X射线在腔中的输运速率、X射线持续发射时间和轴向强度衰减量;利用X射线CCD针孔透射光栅谱仪观测到腔内X射线辐射光谱随空间位置的变化,得到X射线在输运过程中被多次吸收和发射后谱的变化特征;用X射线二极管和亚千X射线能谱仪分别得到源和输运末端X射线辐射总量和辐射温度.介绍了实验中采用的诊断技术和实验方法,并给出了获得的典型结果.
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1.06μm激光以3.5×1013W/cm2管壁辐照强度注入带侧向喷口Mg微管靶管内。利用X射线条纹相机测量Mg10+和Mg11+离子沿侧喷方向发射X射线谱随时间变化过程,X射线时间分辨谱结果表明,三体再复合过程是实现Mg10+离子激发态1s4p和1s3p能级间粒子数反转的主要机制。用2660?紫外激光探针探测侧向喷口处等离子体电子密度,其密度值与用光谱分析获取的一致。
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ZHU Yu-xuan LU Jing-bin ZHAO Xiao-fan LIU Xiao-yan CUI Wei-wei LI Wei WANG Yu-sa LÜ Zhong-hua CHEN Yong 《光谱学与光谱分析》2021,41(9):2823-2828
硬X射线调制望远镜是我国第一颗X射线天文卫星,其载荷低能X射线望远镜采用了SCD型探测器CCD236,主要对能量在0.7~13.0 keV的软X射线光子进行观测。卫星发射前,需要对探测器进行详细的性能标定,其中包括能量响应矩阵的标定。能量响应矩阵是能谱分析的关键。CCD236探测器输出能谱并不是观测光源的真实发射谱,而是发射谱与探测器能量响应矩阵的卷积结果。一般可以通过直接反卷积的方法还原光源的真实能谱。解谱过程可以看作是一维成像问题,利用能量响应矩阵与输出能谱进行反卷积解谱。常用的反卷积算法为Lucy-Richardson迭代算法,其利用条件几率的贝氏定理反复进行运算,进而对输出能谱进行反解,得到观测光源的真实发射能谱。通过能量响应矩阵对CCD236探测器的55Fe测量能谱进行解谱。经过解谱,能谱的能量分辨从144.3 eV提升到了65.6 eV@5.9 keV,连续谱成分被明显地抑制,提高了能谱的峰背比。反解能谱由两个半峰全宽很小的(<70.0 eV)高斯峰组成,两成分的强度比为8.4,能够很好地表征真实发射谱的结构。利用这种方法可对材料X射线荧光谱进行解谱,还原材料的荧光谱,提高能谱的能量分辨。反解结果中主要元素各类荧光线通过解谱彼此独立,能谱峰背比很高,可以很好地用于X射线荧光分析中,提高荧光谱的质量。 相似文献
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用于惯性约束聚变诊断的软X射线探测元器件的能量响应曲线定标,利用北京同步辐射装置(BSRF-3B1束线,束流为20—80mA,光子能量为250—1000eV,通量约为1012photon/s·mm2·mr2·0.1%band width)及反射率计靶室,采用AXUV-100硅光二极管作源强绝对监测.对X射线二极管(XRD)及金刚石光电导探测器等五种探测元件进行能量响应曲线定标,获得初步实验结果,并对数据进行了分析
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用octadecyl hydrogen maleate(OHM)晶体谱仪进行了4.5nm附近如下三组共振光泵X射线激光的抽运谱线和吸收谱线对波长匹配实验研究:SiXⅡ3d—2p,4.4021nm,MgX2s—4p,4.4050nm;CuXIX4f—3d,4.7329nm,MgX2p—4d,4.7310nm;和AIXI3p—2s,4.8338nm,MgIX2s2—2s4p,4.8340nm.其中第二组线对据我们所知尚未见报道.比较并讨论了这三组线对的优缺点.
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利用强流电子束技术产生通量密度为1018—1019X-ray photon/sr·s的脉冲CuKX射线源,标定PIN型硅二极管半导体探测器对X光子的脉冲灵敏度。用绝对X射线监测器——P10气体脉冲电离室作为脉冲X射线通量密度的标准。脉冲电荷自动测量仪由微处理机进行程序控制,并予以实时校准。该电离室测量通量密度的精度为±5%,适用的能通量率范围可达4×10-9—2×102W/cm2,适用的光子能量范围为1.5—10keV,标定探测器的精度为±7.0%,并发现PIN型硅二极管的脉冲灵敏度比稳态X射线束标定的灵敏度高30%左右。
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PERFORMANCE COMPARISON OF THE NEON-LIKE CHROMIUM SOFT X-RAY LASING DRIVEN BY A DOUBLE LASER PULSE WITH DIFFERENT DURATION 下载免费PDF全文
A comparison has been made of performance of the neon-like chromium soft X-ray lasing at 28.5 nm driven by a double 900 ps pulse at 6 TW/cm2, with that driven by a double 200 ps pulse at similar irradiance. The double 200 ps pulse has been found to be much more efficient to drive X-ray lasing with higher intensity. 相似文献
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研究了低温退火Co/C软X射线多层膜中掠入射反射率的增强现象.通过测量一级调制峰强度随退火温度和时间的变化,测得了低至-10-25m2s-1的有效扩散系数.由于所研究的Co/C多层膜的调制波长远大于Co-C系统的扩散临界波长,有效扩散系数近似等于真实宏观扩散系数.负的宏观扩散系数表明,在Co-C系统中有相分离的趋势.这一结果可解释为由Miedema宏观原子模型计算得到的正的Co-C系统的混合焓.高退火温度下反射率的降低是界面锐化与界面粗糙化
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X. M. Chen K. F. Canter A. P. Mills Jr. 《Applied Physics A: Materials Science & Processing》1991,53(3):203-208
A feasibility study of using low energy positron reemission microscopy in an in-line holographic mode is carried out by means of computer simulations. The effects of substrate backscattering and statistical fluctuations (corresponding to 104 counts/pixel) are found not to be significant. Transverse and height resolutions of 1 and 14 nm, respectively, are determined in the hologram reconstructed images for a positron emission transverse coherence length of 20 nm. Future capabilities of positron reemission holography in high flux (1010 e+/s) facilities are discussed. 相似文献