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容差电路的K故障屏蔽方法研究 总被引:7,自引:0,他引:7
本文对线性电路的等输入/输出K故障屏蔽方法在容差情况下的应用进行了详尽的研究,所提两种K故障模糊屏蔽算法,计算量小,诊断速度快,故障与容差之间的模糊性低,可信度高。 相似文献
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一种新的容差模拟电路故障屏蔽字典法 总被引:1,自引:1,他引:0
提出了一种新的可以诊断容差模拟电路软硬两类故障的故障屏蔽字典法。该法基于统计学原理,计算了容差对故障特征量的影响,在此基础上,通过构造合适的故障隶属函数,将故障定位在一个模糊故障集中,并从中进一步确定出最可能发生的故障。 相似文献
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本文在Bandler等人考虑容差的验证法(简称容差验证法)的基础上,借助于Penrose-Moore广义逆阵,提出了一种新的容差验证法,它在理论上是较为严密的。计算机模拟结果表明,此法是可行的。 相似文献
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具有容差的模拟电路故障定位的神经网络实现 总被引:4,自引:0,他引:4
结合K故障诊断和BP网络的分类功能,提出了一种神经网络实现模拟故障定位的方法,该方法将BP网络训练成具有推广能力的广义故障字典。 相似文献
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本文讨论了元件容差对线性电路故障诊断的影响;得到了小容差下用来判别k故障元件集的门限值的估算式;并给出元件级k故障的诊断方法。 相似文献
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非线性容差电路的故障诊断 总被引:3,自引:0,他引:3
文章着重讨论如何根据容差电路有限可及点上的电压测量,诊断其线性和(或)非线性元件故障,文章利用Grassmann流形中的子空间距离证明了ε-故障锥的存在,并由此导出容差干扰下的可诊性条件。为了区别非线性元件的自身故障与似故障。本文仔细分析了可及点电压变化阵的方向能量椭球,并提出了相对方向能量准则。仿真表明,该准则对容差影响是鲁棒的。 相似文献
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基于模糊C均值聚类算法与隶属算法的容差电路软故障诊断 总被引:1,自引:0,他引:1
在聚类分析与隶属函数的基础上,提出了一种容差电路软故障诊断的新算法。对于含有容差元件的的模拟电路,由于允许电路参数在一定范围内偏离理想值,所以很难判断电路是处于正常容差状态,还是软故障状态。本文首先简述了模糊C均值(Fuzzy C-means, FCM)聚类算法与模糊控制隶属算法的基本原理。然后通过一个容差电路软故障诊断实例,以验证本文算法的有效性:首先确定容差电路的正常状态与软故障状态种类,对每一种状态进行电路仿真,获取将来进行聚类分析与故障诊断的样本。然后对采集样本进行聚类分析,利用模糊C均值聚类算法将各种状态分类,并且得到所有状态的聚类中心。最后随机模拟一种电路状态,利用模糊隶属算法,计算当前电路状态与各状态聚类中心的隶属度,判断电路处于哪一种工作状态,实现容差电路的软故障诊断。实例表明,本文算法能够准确清晰地辨别容差电路的正常状态与故障状态,仅需少量样本即可获得各种状态的典型参数,对容差电路进行客观有效的软故障诊断。 相似文献
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要使现有的模拟电路故障诊断算法适用于大规模电网络,必须将大规模网络分解成互不耦合的小规模网络。文献[1]给出了一种快速定位算法(算法Ⅰ),但未考虑容差。本文从解决模拟电路故障诊断中最棘手的问题——容差、在线计算量和离线计算量的目的出发,将故障预测技术、替代理论和迭加定理运用到支路撕裂法中,从而得到一个新的大规模模拟电路的快速故障定位算法(算法Ⅱ),同时对算法Ⅰ、Ⅱ进行了FORTRAN编程实现。研究结果证明,算法Ⅰ、Ⅱ适用于小、大规模网络的单、多故障诊断。当网络被连续监测时,算法Ⅱ的稳健性、计算量和存贮器要求均较算法Ⅰ有较大改进。文中举了一个有源电路的实例,验证了上述论断的有效性。 相似文献
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基于模糊规则神经分类器的模拟电路故障诊断法 总被引:14,自引:2,他引:12
对利用基于模糊规则的神经网络分类器进行模拟电路故障诊断的方法了研究。担子同FRC网络模型及其学习算法,它适用于多种类,多规则的分类问题。还探讨了模拟电路故障的一阶及二阶牲概念,并给出了一个用FRC进行故障诊断的实例。 相似文献
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给出了用于模拟电路元件参数识别的多频传递函数法的过程,并对故障诊断方程的可解度进行了分析,在此基础上,将诊断方程的求解转化为非线性函数的优化问题,并运用改进的遗传算法来解决这个问题,算法实例表明该方法简化了故障诊断方程的求解过程,加速了容差电路故障元件的定位,有一定的应用价值。 相似文献
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Fault Diagnosis for Linear Analog Circuits 总被引:2,自引:0,他引:2
Jun Weir Lin Chung Len Lee Chau Chin Su Jwu-E. Chen 《Journal of Electronic Testing》2001,17(6):483-494
This paper presents a novel scheme to diagnose single and double faults for linear analog circuits. The scheme first proposes a simple transformation procedure to transform the tested linear analog circuit into a discrete signal flow graph, then constructs diagnosing evaluators, which model the faulty components, to form a diagnosis configuration to diagnose the faults through digital simulation. This saves much computation time. Furthermore, a simple method to un-power OP's is also proposed to differentiate equivalent faults. The scheme can diagnose faults in passive components as well as active faults in OP's. 相似文献