HL-1M托卡马克中的中子通量和辐射剂量当量测量

用5台带有慢化剂(聚乙烯)的BF3₃正比计数管中子探测器测量中子通量和剂量当 量.4台 置于HL_1M装置的四周,分别测量了在氘等离子体条件下,因欧姆加热和波加热产生的热核聚 变中子产额、中子通量和剂量,以及氢等离子体条件下因高能x射线引起的光致核反应而产生 的光致中子. 另一台流动于其他6个观察点,主要监测中子剂量当量. 在D_D聚变条件下,实测 中子产额与计算值作比较,两者在数量级上大体一致. 中子辐射剂量当量远低于国家和部颁 标准,更低于国际防护委员会推荐的中子辐射允许剂量当量 关键词： 3正比计数管')" href="#">BF3₃正比计数管 光致中子 氘_氘聚变中子 剂量当量     

非圆截面环流器硬X射线剂量测量

本文给出了硬X射线剂量测量的原理和方法,并在非圆截面环流器装置上测量了硬X射线的吸收剂量,约为10~(-10)Gy/每次放电。     

HL-1M装置中超热电子的X射线辐射测量

用新研制的五通道碘化汞（ＨｇＩ２）半导体探测器阵列分别观测了在欧姆发热、弹丸注入及离子回旋共振加热（ＩＣＲＨ）条件下,ＨＬ－１Ｍ等离子体中的超热电子引起的能量在１０～１５０ｋｅＶ范围内的Ｘ射线辐射强度的时空变化,及超热电子辐射的Ｘ射线能谱。结果显示,在ＩＣＲＨ期间,等离子体边缘的Ｘ辐射增强,超热电子的温度大约为３０ｋｅＶ,ＩＣＲＨ的能量沉积在等离子体边缘。     

HL-1装置的X射线测量

本文叙述了HL-1装置的X射线测量。结果表明,电子温度随着等离子体电流通道的缩小而升高,其典型值为480eV。稳定放电的软X射线扰动幅度大约是总强度的15％,锯齿振荡周期约为2ms。与磁探针信号比较,明显看到了内、外模之间的耦合关系。多次放电清洗了真空空器壁,含水量下降;硬X射线测量表明,逃逸产生率减小。     

HL-1装置(?)_(eff)值的光谱法测量

利用光谱方法,在HL-1托卡马克装置上,测量了波长536nm附近等离子体轫致辐射连续谱的绝对强度。由此得到等离子体赤道平面中心弦的Z_(eff),并研究了蒸钛和脉冲送气对Z_(eff)的影响。在一系列放电中,未加蒸钛和脉冲送气时,接近中心区的Z_(eff)值为4—10,加蒸钛和多脉冲送气时,Z_(eff)值降到2.6—4。     

HL-2A装置X-γ辐射剂量调查

X-γ辐射属于电离辐射，电离辐射是通过在生物体内沉积能量而对生物体产生伤害。正如药物一样，辐射对生物体的伤害取决于接受到的量，生物体收到的辐射量称之为剂量。辐射防护的基本任务之一就是要对剂量给出定量的结果。本调查通过对HL-2A装置的工作场所及其周围环境剂量测量，给出了剂量评价。HL-2A装置主要用于磁约束受控热核聚变实验研究，是我国第一个带有偏滤器的托卡马克装置。     

HL-1装置辐射和粒子损失功率测量

一、前言在等离子体中,由于杂质的存在,产生很强的线辐射、轫致辐射和复合辐射,电荷交换产生的中性粒子由于不受磁场约束而逃逸出等离子体。本文叙述用高增益、快响应的钽酸锂热电探测器对HL-1装置等离子体辐射和电荷交换粒子损失功率的测量。二、测量方法实验中采用了KT-3130钽酸锂(LiTaO_3)热电探测器和KTH-103前置放大器。LiTaO_3     

低杂波电流驱动下硬X射线轫致辐射的测量与研究

用新研制的碘化汞（ＨｇＩ２）半导体探测器，测量来自等离子体芯部，其能量范围在１５—１５０ｋｅＶ之间的Ｘ射线轫致辐射。当用２００—３００ｋＷ、２．４５ＧＨｚ、９０ｏ相位角和Ｎ‖＝２．７的低杂波进行电流驱动时，硬Ｘ射线辐射强度在垂直于磁轴的方向上是减少的；但在磁轴切线方向上，孔栏的轫致辐射［用碘化钠（ＮａＩ）探测器测量］是增加的。Ｘ射线能谱测量表明，在低杂波电流驱动（ＬＨＣＤ）情形下，出现非麦克斯韦分布的高能尾部电子，其垂直能量最高可达１５０ｋｅＶ，尾部电子温度（垂直）在１５—３０ｋｅＶ之间。     

HL-1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系

在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。     

HL—1装置等离子体轫致辐射径向分布的测量

采用经钨带灯标准光源标定的多道石英光纤光学系统,测量了HL-1装置等离子体可见光波段轫致辐射功率的径向分布。测得的有效离子电荷数Z_(eff)的径向分布在中心处有最大值。放电过程中电子密度的增大使Z_(eff)降低。不同放电条件下的实验结果表明,用脉冲送气提高电子密度,可使中心弦平均Z_(eff)显著降低,而等离子体电流I_p的增大使Z_(eff)上升。在若干次放电中观测到了MARFE现象。     

HL—1装置的硬X射线锯齿振荡

软X射线的锯齿振荡,在ST,Pulsator和TEXT等装置上已观测到;在Pulsator和PLT上已研究了硬X射线锯齿波。PLT和Pulsator观测结果为,产生的硬X射线锯齿振荡为反锯齿和内破裂的软X射线锯齿相对应。Pulsator的硬X射线锯齿和软X射线锯齿一样,这种趋势一直持继到放电结束,而硬X射线峰值发生在软X射线内破裂后大约200μs。PLT的硬X射线锯齿比软X射线锯齿延迟1至5ms。本工作目的是在内破裂后,从软、硬X射线锯齿波对比,观测硬X射线到达峰值这段延迟时间,并以此来量度逃逸电子约束时间。     

HL-1装置等离子体的软X射线能谱分析

本文分析了HL-1托卡马克等离子体的软X射线能谱,包括杂质谱线CrK_a,NiK_a,MoK_a辐射强度与孔拦半径a_L,环电流及充气压强P_H之间的关系。讨论了放电初始段、终了段及逃逸电子流较强的放电的软X射线能谱的特点。     

HT-6B托卡马克装置上的硬X射线起伏测量

用NaI(Tl)晶体闪烁探测器和金硅面垒型半导体探测器,在HT-6B托卡马克装置上对X射线起伏进行了相关测量。观测了硬X射线发射和起伏锯齿波形。实验证实:在2—25kHz频区内的硬X射线起伏也是MHD扰动所致。 关键词：     

非圆截面环流器硬X射线辐射强度的绝对测量

本文给出了逃逸电子在孔拦上轰击出的硬X射线能谱及其辐射强度,描述了硬X射线闪烁谱还原成能谱的分析处理法,并对NaI(T1)探测器的绝对光峰效率进行了测量。     

HL－1装置放电中限制器上的硬X射线发射

观察了在ＨＬ－１装置放电电流上升段、坪区和下降部分由逃逸电子引起的硬Ｘ射线发射模式；硬Ｘ射线发射与破裂、ｍ＝２，３扰动、环电压尖峰、ＩＯＣ放电和超热电子辐射等的关系。给出了３００－３０８ｍｓ间硬Ｘ射线的闪烁脉冲幅度谱，最大能量为６．６ＭｅＶ．