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相似文献
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1.
激光扫描共焦荧光显微系统研究   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
张平  吴震 《激光技术》1998,22(1):37-41
讨论了激光扫描共焦荧光显微系统的光学设计问题,成象机理,参数确定及其设计关键,介绍了高精度光学扫描器件的设计方法及实现荧光共焦成象中成象器件的优化设计.  相似文献   

2.
多光子激光扫描显微术   总被引:1,自引:0,他引:1  
飞秒激光器最惊人的应用之一是敏感的生物结构成像,其容许的峰值功率密度大于10 11 W/cm2,比共焦显微镜的105W/cm2及通常宽场照明的500W/cm2要高得多,因此超短脉冲激光器开辟了活体组织荧光显微术的道路.过去这些实验中常常伴随的、严重的光损伤和光漂白大大的减少.  相似文献   

3.
双路频分复用荧光共焦显微探测技术研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
报道了结合频分复用技术来提高荧光共焦生物显微探测系统探测能力的实现原理和方法。通过对双路激发光信号的载频调制,将激发光聚焦到生物样品上产生荧光信号,再通过傅里叶变换、滤波和解调制过程,最后将两路荧光信号强度随时间变化曲线进行还原。实验搭建了紫外波段激励光源的双频复用荧光共焦显微成像系统,并成功探测到了鼠神经海马细胞样品发出的双点荧光信号。频分复用共焦显微成像系统能够多通道、实时、快速地探测生物细胞荧光信号,并具有较高的时间和空间分辨率。  相似文献   

4.
共焦扫描光学显微(CSOM)系统有透射式和反射式,相干光和非相干光荧光等类型。CSOM系统的平面分辨率和纵发辨率依赖于放置在光电探测器前面的空间滤波器的孔径大小。根据不同孔径计算反射式荧光CSOM系统的非相干光学传递函数,并进一步说明反射式荧光CSOM系统的成像特性对孔径的依赖关系。  相似文献   

5.
微型反射式共焦光纤传感器研究   总被引:3,自引:3,他引:0  
基于光学系统信息传输不变性原理,讨论了微型反射式共焦光纤传感器的高分辨率性质。该传感器的光纤末端头起到了共焦扫描光学显微镜的点光源和点探测器的功能,从而使视场减小,信噪比提高,抗干扰性增强。它独特的高轴向分辨率特性,可用于微观形貌、外形尺寸和曲面轮廓等方面的高精度检测,同时为狭小空间内尺度测量等大量极限测量和不可测问题提供了解决思路。  相似文献   

6.
报道了采用全息聚合物分散液晶(H-PDLC)布拉格光栅阵列斩波调制的四通道频分复用荧光共焦显微探测系统的实验研究。通过高衍射率H-PDLC布拉格光栅将单束激光分成四束激发光并进行不同频率的载频调制,将激发光聚焦到生物样品上产生荧光信号并采集后,再通过傅里叶变换、滤波和解调,最后将采集到的信号还原成四路荧光信号强度随时间变化的曲线。实验搭建了激发光中心波长为405 nm的四路频分复用荧光探测系统,并成功探测到鼠神经海马细胞样品中激发的四点荧光信号的图像以及强度变化信息。  相似文献   

7.
共焦扫描显微成像系统(CSOM)是以共焦原理为基础,集扫描技术和数字图像处理技术为一体的高精度的成像系统。系统空间滤波器孔径大小和探测物体的离焦量大小都会影响系统的成像质量,这反映了系统的光学传递函数(OTF)有着明显的变化。导出了CSOM系统的部分相干OTF,并给出了不同离焦量的OTF变化曲线。  相似文献   

8.
目前,利用双光子及共聚焦显微镜来进行三维光学高密度信息存储及三维光学微细加工正逐渐成为信息存储、微型电子器件和光子器件研究的重要方法。共焦光学系统具有三维分层扫描成像的能力,能有效地避免邻层的干扰,并与CD播放机有极好的兼容性,因而成为重要的三维光学数据读出方法。  相似文献   

9.
并行共焦显微检测技术及其研究进展   总被引:2,自引:0,他引:2  
共焦显微术是一种重要的微小物体成像技术,由于具有高精度、高分辨率及容易实现三维重构图像的优势而被广泛应用于微纳三维形貌测量。近年来,并行共焦显微检测技术引起各国专家的广泛关注,该技术将单点扫描变为多路同时并行探测,大大提高了三维检测速度。综述了并行共焦显微检测技术的基本原理,系统论述了近年来国内外在并行共焦显微检测技术方面的研究进展以及作者在这方面的研究。按照实现并行检测的方法对7种并行共焦显微检测技术进行了分类介绍,并指出了各种方法的优缺点。最后总结了目前存在的技术难题,分析了未来的发展趋势,为我国进一步开展此项研究提供技术参考。  相似文献   

10.
光谱共焦显微技术结合了共焦显微镜的高空间分辨率和光谱分析的高波长分辨率,凭借精度高、适用性强、无损检测等特性,广泛应用于工业生产、生物医疗和半导体芯片等领域。首先介绍点光谱共焦系统的原理,指出点光谱共焦检测效率低的缺点。其次,针对光谱共焦显微技术的关键性能指标改善,阐述了在光源、色散物镜和光谱信号检测等方面所取得的主要成果,并对各类光源进行定性对比。随后展示光谱共焦显微技术的扫描方法,梳理了相关研究进展,并总结了相关方法的优点和缺点。最后,展望光谱共焦显微技术未来的发展趋势。  相似文献   

11.
利用共焦显微成像系统实现磷光寿命时域测量   总被引:1,自引:1,他引:0  
在光路中加入斩波器,将共焦显微成像系统中Ar^ 激光器产生的连续光转换为脉冲光,实现对样品的脉冲激发。共焦成像系统以灰度值同时记录了激发光和样品发射磷光的强度变化信息。通过对磷光强度衰减的时间分辨分析,实现对磷光寿命的测量。利用此系统成功地实现了对置于不同环境中的磷光探针氧卟啉(Oxy-Phor R2)衰减寿命的测量。  相似文献   

12.
测量技术正不断向着精密化、智能化、集成化的方向发展,具有代表性的光谱共焦测量技术是在激光共焦显微技术的基础上发展而来,利用色散原理和光谱仪解码分析实现高精度测量。光谱共焦测量技术可进行位移测量、三维重建、表面粗糙度检测和厚度检测,具有无接触、高效率、在线测量等优点,在精密测量中发挥着重要作用,被广泛应用于微电子、工程材料、生物医学和航空航天等领域。近年来,光谱共焦系统在光学系统结构、光学镜头设计、光源优化和数据处理算法等各个方面取得了重大进展。文章对光谱共焦测量技术进行综述,论述了光谱共焦测量技术相较于其他测量方法的优势,综述了光谱共焦技术的测量原理、发展历程与应用进展,并对光谱共焦测量技术的发展趋势进行了展望。  相似文献   

13.
A whole-field 3D surface measurement system for semiconductor wafer inspection is described. The system consists of an optical fiber plate, which can split the light beam into N2 subbeams to realize the whole-field inspection. A special prism is used to separate the illumination light and signal light. This setup is characterized by high precision,high speed and simple structure.  相似文献   

14.
从微小内尺度测量角度出发,研究了针孔尺寸、探测器位置、透镜的数值孔径、放大倍率和杂散光等对自聚焦共焦式探测系统轴向分辨率的影响。结果表明,为提高系统的轴向分辨率,需将有效针孔尺寸控制在≤2.5;探测器需配以精密微调整装置以实现横向精确定位;选用差动共焦光路及大数值孔径和大放大倍率的自聚焦透镜,同时,偏振光路的使用将有效的提高系统的信噪比。  相似文献   

15.
荧光寿命成像显微技术   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍荧光寿命成像显微(FLIM)技术及其在生物物理、生物化学及临床医学诊断等领域的最新研究成果和发展现状,并就其未来的发展及应用研究进行了讨论。  相似文献   

16.
生物样品折射率的空间变化导致了光学畸变的产生,这种畸变对于共聚焦显微镜观察厚的生物样品和活体体内组织成像是一种严重的限制。自适应光学(AO)技术是通过快速反应的变形镜使镜面发生形变来补偿像差,在共聚焦显微镜中应用自适应光学技术可以校正光学畸变,观察深层组织活动,进行活体成像和实时检测。详细分析了共聚焦显微镜中像差的来源及光学畸变的特点,讨论了目前在共聚焦显微镜中自适应光学校正的方案及研究现状,讨论了共聚焦显微镜中自适应光学的波前传感器、畸变测量和波前校正器,并探讨了目前超高分辨率显微成像技术的发展方向。  相似文献   

17.
用滤波器提高共焦系统纵向分辨率的实验研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
针对采用有限大小探测器的其焦显微系统,利用两区相位型滤波器提高系统的纵向分辨率。在实验上,采用1透射式液晶空间比例制器实脱了对共焦显微系统照明光场位相的动态调制,测量了探测针孔直径分别为5μm、10μm和15μm时,共焦显微系统纵向分辨率随滤波器参数的变化规律。实验结果说明,在探测器为有限大小的情况下,利用该滤波器可以使共焦显微系统的纵向分辨率提高17.8%。另外,从实验结果还可以看出,滤波器的性能受到探测针孔尺寸的影响。  相似文献   

18.
大台阶高度测量的外差共焦方法   总被引:3,自引:1,他引:3  
台阶高度是微电子产品的一个重要性能参数。基于双频激光干涉共焦显微系统(DICM)提出了一种微电子掩膜板台阶高度测量的扫描方法。在共焦显微扫描样品表面,当光强达到最大值时,将采样外差干涉的相位作为精确对准的判据。该扫描方法集中融合了外差干涉测量和共焦显微测量的优点,同时实现了高分辨率与较大量程的测量,该系统测量台阶高度的范围取决于Z向位移扫描仪PI-Foc的扫描范围,可达数十甚至近百微米。实验结果表明该系统在普通恒温的实验条件下1h内的漂移不超过5nm。该系统已经用于20μm高台阶的测量,对准分辨率为0.1nm,实验结果与台阶高度实际值有很好的一致性。  相似文献   

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