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相似文献
 共查询到19条相似文献,搜索用时 109 毫秒
1.
低红外发射率材料的研究   总被引:12,自引:0,他引:12  
叙述了在铝粉外包覆红外透明粘合剂设计低红外发射率材料的实验过程,讨论了填料、粘合剂、涂层厚度等影响发射率的几个关键因素,结果表明用该方法所研制的样品发射率最低可达到0.678,表明了该途径的可行性。  相似文献   

2.
为了探索军用低发射率伪装材料,提出了复合结构设计的方法。选用具备可见光高透过和红外高反射特性的纳米锑掺杂氧化锡(ATO)薄膜,通过镀膜工艺对复合涂层的结构进行设计,从而达到光学与红外隐身兼容的目的。利用分光光度计、热成像仪及隔热测试装置对所制复合涂层样品的光学、红外和隔热效果进行测试,分析低发射率涂层对整体绿色涂层的光学及红外性能的影响。实验结果表明,采用复合结构设计后的绿色涂层样板的可见光透过率达到80%以上,红外反射率达到70%以上,在保证色彩饱和度的同时,发射率显著降低,达到了0.2。经过复合结构设计的绿色涂层拥有良好的红外伪装效果,能够较好地躲避红外侦察。  相似文献   

3.
目前利用红外热像仪难以测得物体准确的发射率,因此根据红外热像仪对物体的输出响应,提出了一种新的利用红外热像仪精确测量物体发射率的方法.该方法针对双参考体方法计算公式中n取值不准确之处加以改进,推导出了物体发射率新的计算公式,系统地分析了该方法精确测量物体发射率的条件,建立了一套完整的利用红外热像仪精确测量物体发射率的方法.实验验证表明该方法可获得满意的测量结果.  相似文献   

4.
5.
材料微结构对红外发射率的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
低发射率红外伪装材料主要采用金属材料、ATO材料和光子晶体材料,由于机械物理性能限制,难以满足工程伪装多波段兼容性要求.利用后向散射效应研制低发射率红外伪装材料是一种全新的技术途径,其主要机理是通过对红外透明材料发泡,在材料内部形成微气室空腔,使入射光线在材料内部的传输过程中发生多次反射,从而提高材料的综合反射效果.对微泡结构材料内部的后向散射效应进行了深入研究,建立了非均匀涂层光线传输模型,并定量分析了材料的物性参数和结构参数对材料表面等效发射率的影响.  相似文献   

6.
采用固相高温烧结法制备一种可以高效吸收和热能转换的红外功能涂层用填料,借助扫描电镜(SEM)和X射线衍射(XRD)对涂层填料的形貌、结构进行表征,系统分析涂层材料的物化性能,并对其在燃气传热过程中的实际节能效果进行验证.结果表明:合成的Fe-Mn-Cu体系红外填料具有较高的发射率,用其制备的红外涂层具有较强的耐酸碱性能、较好的附着能力以及较高的耐冲击强度.红外辐射与吸收的匹配程度对燃气的使用效率有重要影响,在金属Al表面涂覆后,使用普通燃气燃烧器可使燃气使用效率提高10.3%,而与红外燃烧器搭配使用时,燃气使用效率提高21.7%.  相似文献   

7.
高发射率节能涂层的制备及性能研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
在耐火材料表面成功制备出新型高发射率节能涂层,涂层的发射率达到0.90,厚度约为300 μm.涂层与基体间有3 mm左右渗透层,基体到涂层的连续过渡层结构保证了涂层与基体间良好的黏结性能和优异的抗剥落能力.涂层在1 750 m3高炉热风炉上应用.结果表明,涂层能提高热风温度28 ℃,同时减小送风温度的波动.高发射率涂层强化了气-固相间辐射传热,提高了炉窑的热效率,从而缩短了加热时间、提高加热温度和降低燃料消耗.  相似文献   

8.
红外光学成像技术在电路板上的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
红外热成像技术是现代影像学中的一门新兴技术.它与X射线、B超、CT、核磁共振等显像技术的成像原理不同,它不主动发射任何射线,只是被动接受热源所发射出的红外线,经过处理,从而绘制出热源的影像.它的最大特点就是不用接触待检测物体.本文利用红外光学成像技术,来检测电路板的工作状态.该技术可以将出现故障的大规模集成电路板中数以万计的微小元器件的影像传输到计算机中,经过计算机的分析,就可以很容易的分析出具体故障所在.  相似文献   

9.
红外热像仪测温精度的理论分析   总被引:8,自引:0,他引:8  
根据热辐射理论和红外热像仪的测温原理,推导出计算被测物体表面真实温度的通用计算公式.阐述了红外热像仪在测温过程中容易忽视的影响精度测量的因素,为进一步提高测量结果的准确性,提出了解决方法.  相似文献   

10.
宫明文 《科学技术与工程》2012,12(27):6923-6926
电路板红外测温是热像仪应用领域的一个重要方面,但由于测温过程中影响因素比较复杂,至今没能得到深入应用。文章对电路板红外测温影响因素进行了理论推导,指出在一般的电路板红外测温中,环境温度和辐射率是影响测温准确性的主要因素,并对这两个因素进行了具体详细的分析。通过DM60热像仪测得的试验数据对分析结果进行验证,利用matlab 对实验数据进行拟合,直观表现出环境温度和辐射率的影响规律,为电路板红外测温的校正提供依据。  相似文献   

11.
席夫碱的合成及其在热红外伪装涂料中的应用   总被引:13,自引:0,他引:13       下载免费PDF全文
对采用功能性有机填料降低现有涂料的发射率进行了研究,在合成了一系列席夫碱有机填料基础上,利用自制的环化胶粘合剂,筛选的市售颜料同席夫碱配制了绿色,土黄色涂料,得到了最低发射率分别为0.69和0.63的绿色和土黄色涂样,对席夫碱影响涂料发射率的机理进行了初步探讨。  相似文献   

12.
采用 DFBIR模型分析了热红外低比辐射率高漫反射比粗糙表面的宏观分维特性 ,利用 SEM表面形貌图和图像处理系统 S60 0计算了宏观分维数 .为了描述本粗糙表面的微观分形特征 ,采用 W-M函数作为其数学模型 ,设计了随机分形算法 ,对粗糙表面 STM微观形貌进行了分形分析并计算了微观分维数 .研究结果表明 ,热红外低比辐射率高漫反射比粗糙表面不仅是分形表面 ,而且是多尺度分形表面 ,分维数 D与比辐射率ε及漫反射比 DR 均成正相关关系 ,红外特性相同但基体不同的粗糙表面有不同的分维数  相似文献   

13.
为了实现利用FTIR光谱仪进行野外地物光谱发射率的测量,针对D&P公司生产的Model-101型便携式FTIR光谱仪,讨论了仪器的定标原理,给出了样品的光谱辐射计算公式.采用低发射率反射板测量环境辐射,从而可以方便、快捷地计算出样品的发射率,并给出了相应的修正方法.样品实测结果表明,修正后的光谱发射率曲线与标准光谱发射率曲线具有很好的一致性.  相似文献   

14.
根据现场实测带钢温度值,采用温度场反算方法计算了热轧带钢层流冷却之后卷取之前的发射率.主要分析了材料碳当量、带钢厚度、带钢所处的温度区间对发射率的影响.结果表明:带钢所处的温度区间不同,影响带钢发射率的因素不同.在高于550℃的温度区间,不同材质的带钢,其发射率在08±01之间,随材料碳当量的增加,带钢发射率稍微增大,与带钢厚度没有明显的关系;在低于550℃的温度区间,不同材质的带钢,其发射率与碳当量没有明显的关系,但随带钢厚度的增大显著降低.  相似文献   

15.
金属颜料对保温涂料发射性和反射性的影响   总被引:4,自引:0,他引:4  
论文基于高原、严寒及寒冷地区对外墙涂料光学性能的要求,研究涂料组分中各类金属颜料对其红外发射率及太阳能反射比的影响。研究结果表明:金属颜料能显著降低油性涂料的红外发射率;颜料种类、掺量及形貌对涂料的发射率有较大影响;铜粉对油性涂料发射率的降低效果最好;发射率随颜料掺量的增加而降低,在40%~50%范围内达到最低;同掺量下片状铜粉在油性涂层中的效果优于球状的;漂浮型铝颜料对油性涂料发射率的降低效果优于非漂浮型铝颜料。水溶性金属铝粉能显著降低水性涂料的红外发射率,红外发射率和太阳能反射比均随铝粉的粒径增大而下降。上述各类涂料涂层的红外发射率均可达到0.35~0.45、太阳能反射比0.39~0.56,基本符合采暖地区外墙涂料光学性能的要求。  相似文献   

16.
结晶器是连铸技术过程中非常重要的组成部件.结晶器铜板长时间经受钢水冲刷,必须具有很高的耐摩擦磨损、耐腐蚀性能.结晶器铜板常见的失效形式有裂纹、腐蚀等,本文结合案例研究和分析了结晶器铜板的主要失效形式及其原因.  相似文献   

17.
物体的比辐射率是反映物体热辐射性质的一个重要参数,比辐射率反演不仅提供了一种获得物体比辐射率的便捷途径,并且涉及许多有趣的理论问题.目前该反问题只有一种基于Hermite函数展开的普适函数方法.考虑到这类反问题固有的不适定性问题,发展另外一种独立的方法非常有必要.本文基于Laguerre函数展开为比辐射率反问题发展了一种新的方法.对一些理论谱的数值计算表明,新方法不仅拥有老方法的所有优点,并且跟老方法相比拥有更高的计算精度,能够计算结构更加复杂的理论谱.本文最后通过比较和分析揭示了新方法优越性的根本原因.  相似文献   

18.
在金属和非金属基体上,制备出了热红外低比辐射率以及镜反射率和漫反射率都很低的高漫反射比表面。对黄铜基体,T=373K,≥8μm的法向积分比辐射率n=0.13,T=413K,=8-25μm的积分镜反射率Rm=0.15.积分漫反射率RD=0.16;对K9玻璃基体T=373K,≥8μm的n=0.15,T=413K,=8~25μm的Rm=0.21,RD=0.14.对于以K9玻璃为基体的同种表面材料镜面,在相同条件下测得n=0.12,Rm=0.93.RD=0.12。  相似文献   

19.
介绍了被测体辐射率因受材料、表面状态、温度、波长及分布方向的影响而引起的测温误差变化、以及如何选用合适的辐射率使由此造成的测温误差最小的计算方法.  相似文献   

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