共查询到20条相似文献,搜索用时 62 毫秒
1.
2.
在电真空玻璃器件加工过程中,针对玻璃车床机械式无级调速器发生故障后不易修复等问题,采用变频调速器对其进行就频改造,取得明显效果。 相似文献
3.
陈昭宪 《电子产品可靠性与环境试验》1994,(3):2-6
1 概述 军用电真空器件,具有品种类多,数量少、功率大、电压高、结构复杂、价格昂贵等特点,空间卫星用行波管,有的只用一两只,通常难以用常规的统计试验方案来进行可靠性评定。目前行波管的失效率数据,是在收集了大量空间运行数据后,经过统计分析而获得的,这是一种事后现场统计的评价方法。为了满足军事可靠性的要求,工程上往往要求在产品提交使用之前,给出其可靠性预计值。根据军事技术上的可靠性要求和解决统计试验方案所面临的困难,我们利用模糊数学的原理,对军用电真空器件,特别是行波管酌可靠性评价方法进行了探讨,建立了通过综合各种试验信息来预计产品可靠性的综合评定模型。 相似文献
4.
5.
陈昭宪 《电子产品可靠性与环境试验》1994,(4):12-16
3 行波管的增益变化因子 及功率变化因子 行波管的基本失效率与其工作频率和输出功率有极为密切的关系。为考察行波管的增益变化和功率变化特性,可以在产品提交使用之前,进行一定时间的试验观测。设产品的标称增益和标称功率分别为S_0及P_0,如果对产品进行了1000h的参数性能变化试验,则可测得其增益变化值S_i及功率变化值P_i。若该值随时间变化的特性越接近标称值越好,则可用下列方式来确定模糊矩阵的元素r_(ij)。 相似文献
6.
7.
本文探讨的是纯金属阴极、薄膜阴极和半导体阴极的检测。正确的检测方法对提高电真空器件的产品质量、寿命和可靠性都具有重要的意义。 相似文献
8.
本文对彩色显像管及电真空器件各种打火、击穿现象进行了全面分析,对电极表面存在的微突起、电极材料内含有挥发性杂质引起打火的内在机理作了详细讨论。 相似文献
9.
10.
刘辉 《电子标准化与质量》1996,(6):28-30
分析了在电真空器件领域实施QPL认证维持的难点和解决途径,提出了将”相似性鉴定”概念应用于扩展产品鉴定的考虑;分析了在电真空器件的领域实施QMO认证的适用性,并提出了初步工作方案和工作思路。 相似文献
11.
真空电子器件在毫米波和太赫兹波频段具有大功率的天然优势,可用于构建高效率、大功率的毫米波和太赫兹辐射源,对高功率微波技术及太赫兹技术的发展具有十分重要的意义。输出窗是真空电子器件的关键部件,输出窗击穿是器件失效的主要原因之一,而次级电子倍增效应被认为是输出窗击穿的主要原因。本文梳理了目前分米波及厘米波波段真空电子器件输出窗的研究现状,在此基础上梳理了这一领域未来研究的主要发展方向,以期为未来真空电子器件向更高功率和更高频率等级发展提供参考。 相似文献
12.
可伐合金的可控氧化对封接质量的影响 总被引:1,自引:1,他引:0
研究了可伐合金表面氧化膜的类型和厚度对玻璃与可伐合金封接质量的影响.结果表明,氧化膜的类型和厚度直接影响金属与玻璃的封接质量.相对于工厂氧化条件,在可控条件下氧化的可伐合金与玻璃封接后的气密性一致性和可靠性较高.随着氧化膜厚度的增加,玻璃沿引线的爬坡高度逐渐增加,当控制氧化膜厚度不超过1.5μm时,爬坡高度都小于200... 相似文献
13.
B2O3对Zn-B-P低熔电子玻璃结构和性能的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了(55–x)ZnO-xB2O3-35P2O5-10RnOm(x=0,10,20,30,40)(Zn-B-P)低熔点电子玻璃的性能和结构,分析了B2O3含量的变化对玻璃的线性热膨胀系数(α)、玻璃转变温度(tg)、化学稳定性(w)及密度(ρ)的影响。通过XRD和SEM研究了玻璃的结构。结果表明,B2O3含量在上述范围内变化时,α从83.5×10–7/K变到74.8×10–7/K,tg从350℃变到468℃,ρ从3.21变到2.61。 相似文献
14.
15.
16.
17.
就目前来看,我国的科学技术得到快速发展。在这一背景下,半导体的器件在制作以及生产的工艺上都得到一定的发展。而碳化硅属于宽带材料的一种,其主要的特点是高热导率、高饱和电子漂移速率以及高击穿场强等。通过这种新型的半导体,可以实现大功率、高压以及高温应用。另外,由于碳化硅成本的大幅度降低,且其性能得到提升,使得碳化硅在电力系统中得到普遍使用。本文将对电子系统中碳化硅电力电子器件的应用进行了深入的分析以及探讨。 相似文献
18.
19.
20.