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相似文献
 共查询到20条相似文献,搜索用时 125 毫秒
1.
焦距是光学透镜和光学仪器的重要光学特性参数。焦距值测量的准确性直接影响光学仪器的质量和军用光学仪器的性能发挥。因此,对测量焦距的仪器如焦距仪或光具座的精度标定工作就是极重要的问题。当前,最科学、最经济、最行之有效的方法就是研制出一套焦距标准透镜,对测量焦距的仪器进行精度标定。本文介绍了焦距标准透镜设计原则,标定焦距标准透镜所采用的一种高精度方法,并例举了其中一对焦距标准透镜最后精度标定的结果  相似文献   

2.
宁悦文  胡摇  陶鑫  郝群 《应用光学》2021,42(4):698-702
光学元件轴向间距测量对精密光学系统的定位和装调具有重要意义.针对现有色散共焦测量系统中色散物镜结构复杂、色散范围小的问题,提出基于偏振衍射色散共焦的光学元件轴向间距测量方法,将传统折射共焦镜头几百毫米的轴向尺寸和复杂的装调需求简化为数毫米的单片镜,简化了系统结构.透镜间距和厚度测量实验表明,间距测量误差为10μm.  相似文献   

3.
衍射光学元件衍射效率的测量   总被引:2,自引:0,他引:2  
杨亮亮  崔庆丰  刘涛  薛常喜 《光学学报》2012,32(4):412007-156
根据衍射光学元件衍射效率的测量原理,建立衍射光学元件衍射效率测量的双光路装置,简要介绍了双光路测量的优点.针对衍射光学元件衍射效率的测量装置,讨论了影响衍射效率测量精度的因素,合理地选择测量装置中的针孔光阑,即可以让主衍射级次的光全部通过被探测器接收,又可以滤掉次级衍射光,保证测量结果的准确度.针对所设计研制的一个折衍射混合成像光学系统,测量了可见光波段3个激光波长的衍射效率,并对测量结果进行了模拟和分析.在473~632.8 nm波段范围内任意一个波长处,衍射效率的测量结果同理论值的偏差均小于5.0%.实验证明,双光路测量装置可以用于测量衍射光学元件的衍射效率.  相似文献   

4.
衍射光学元件热稳定性的分析   总被引:4,自引:2,他引:2       下载免费PDF全文
本文对折射元件和衍射元件的温度特性进行了分析,建立了透镜焦距和衍射效率随环境温度的变化关系,通过施密特红外望远镜系统的设计,比较了折射非球面与衍射光学校正板的温度特性对系统光学传递函数的影响,结果表明衍射光学元件具有较好的热稳定性.  相似文献   

5.
刘成森 《物理实验》1995,15(1):39-39
制作替代双棱镜的全息光学元件刘成森(辽宁师范大学物理系大连116022)全息光学元件在很多领域可以代替传统的玻璃光学元件(1),本文提出了一种制作可以代替玻璃双棱镜的全息光学元件的方法.光路如图1所示.其中L1、L2是柱透镜,它们将平行光会聚成狭缝状...  相似文献   

6.
巫玲  陈念年  范勇  叶一东 《光学学报》2019,39(6):304-311
针对已有的相对角差法面形检测的原理验证装置,提出了一种具有更高稳健性的最小二乘积分面形重建算法。利用相对角差改写了经典最小二乘积分技术的代价函数,避免了积分重建中的测量误差累积的问题,空间复杂度和时间复杂度仍分别为O(N~2)和O(N~3)。仿真结果表明,本文算法的稳健性显著优于Zernike波前重建法与基于样条的最小二乘积分法(SLI);实验结果证明,本文算法可适用于大口径角差法面形检测。  相似文献   

7.
王润文  叶超 《光学学报》1995,15(6):62-766
报道二维纯位相环带衍射光学透镜的研究。结果表明,在确定位置的像平面的光强分布呈现相当理想的光聚焦作用;同时以1.06μm和0.6328μm两种波长为例,对双波长二维成像的环带衍射透镜进行分析计算,结果表明二种波长的光束都能聚焦于同一像平面。这种元件可方便地用于非可见激光中的对焦与光路调整。  相似文献   

8.
长焦距测量的Talbot-Moiré法是研究热点,目前很多方法虽然都是基于Talbot现象和Moiré技术,但基本原理和实验方案各不相同,因此焦距计算公式也不相同。基于透镜位相变换作用,利用Talbot效应和Moiré条纹,通过图像处理的方法获得条纹的斜率变化,根据焦距与莫尔条纹斜率之间的关系求得透镜焦距。由于长焦透镜的焦距相对于被测透镜厚度大得多,完全可以看作是薄透镜对光束的变换,可用薄透镜对球面波的变换作用来近似表示其对高斯光束的变换。因此,该方法测量长焦透镜焦距对于高斯光束与非高斯光束焦距测量结果无差别,均适用。最后全面分析了该测量方法的误差及精度极限。在影响测量精度的各个误差因素中,光栅节距误差对焦距测量的影响最为显著。  相似文献   

9.
10.
针对位相测量偏折术(phase measuring deflectometry,PMD)在光学元件面形的高精度检测中存在面形低阶误差控制困难等问题,介绍了位相测量偏折术检测平面光学元件面形的基本原理,对有关PMD技术的面形改进重建算法、相对检测和四步剪切的系统误差扣除方法的研究进展进行了阐述,分析了基于PMD技术实现对口径398.7 mm×422.8 mm平板玻璃的拼接检测以及平面元件中可能存在的寄生反射影响的消除方法。指出建立的6相机斜率拼接检测系统的检测精度RMS可达1 μm,利用多频条纹法和二值条纹法可有效地消除寄生反射的影响,为大口径光学平面元件的前、后表面面形高精度检测提供一种可行的方案。  相似文献   

11.
一种测量透镜单色焦距的新方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
根据单狭缝衍射原理,提出了一种测量透镜单色焦距的新方法。结合光电扫描技术,使该方法既可适合于可见光区,又可用于不可见光区的测量,同对,可获得较高的测量精度。  相似文献   

12.
本文讨论了用平行光管测量透镜焦距中的误差来源 ,并以测量数据说明了各误差来源对实验结果的影响程度 ,提出了相应的改正措施 ,取得了较好的效果。  相似文献   

13.
于军  郑锐  田敏  甘秀英  曾卫 《大学物理》1998,17(7):38-39,45
介绍了一种新的测量凹透镜焦距的方法:复合成象法。该方法通过凹透镜的两次成象过程中透镜位移的测量,再利用贝塞尔公式将凹透镜的焦距值间接测量出来,此方法的测量精度高,相对误差约为1%左右。  相似文献   

14.
本文通过对薄透镜焦距测量中的测量条件的分析,说明了通过实验教学更好地提高学生实验能力的方法  相似文献   

15.
采用传播圆的方法分析了平行平面激光谐振腔,给出了激光谐振腔动态运行时热焦距测量的一种方法,并对实验系统的热焦距进行了测量,分析了这种方法的优缺点。  相似文献   

16.
本文根据对物距-像距法测凹透镜焦距存在的系统误差分析,指出实验安排上应选择长焦距、对称的双凹透镜.  相似文献   

17.
郑国武  余飞鸿 《光子学报》1994,23(2):145-151
本文从波动理论出发,引入用于分析微波传输线的方法-二维CC-FD-TD方法对光纤的色散特性进行研究。并利用电磁场的叠加原理对分析光纤时在圆心处出现的奇点进行了处理,最后利用计算例证明这一方法的可行性。  相似文献   

18.
高万荣  查冠华 《光子学报》1996,25(6):537-540
报告了一种新的长焦距光学系统杂光系数测量装置,该装置除具有避免了制作大直径积分球的优点外,还能精确测量轴外杂光系数,分析各部分杂光源对杂光系数的影响.  相似文献   

19.
讨论了近代物理实验中用扫描电子显微镜(SEM)进行微米级测量长度的不确定度评定方法。  相似文献   

20.
PSD用于稳像仪稳像精度测试方法探讨   总被引:3,自引:0,他引:3  
刘正云 《应用光学》1995,16(1):50-52
介绍位置灵敏探测器用于测试稳仪稳像精度的方法,给出了测试系统的组成和工作原理。  相似文献   

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