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椭圆仪在测量介质薄膜和研究表面方面得到了广泛的应用.其主要优点是精度较高,而且是一种非破坏性测量.目前使用椭圆仪时,一般都是给定介质薄膜的折射率,再由椭圆仪的测量值来计算出膜的厚度.但在实际情况中,介质薄膜的折射率往往也是一个待测的参数.所以,如何用椭圆仪来同时测定介质薄膜的折射率和厚度,是一个很有实际意义的问题.一、原理椭圆仪的工作原理和在已知薄膜折射率的情况下如何测定薄膜的厚度,在一些文?... 相似文献
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目前的多层增透膜都是以均质膜为基础的。所谓均质膜,就是膜的折射率沿厚度方向是一致的。如果膜是非均质的,也就是膜的折射率沿厚度方向逐渐变化,我们称为变折射率薄膜。当膜的折射率从玻璃的值逐渐变到空气的值时,表面的反射便消失了。当然这在工艺上目前看来是无法实现的,因为没有一种固体材料其折射率接近空气的折射率。然而,如果使膜的折射率由玻璃的值逐渐增高到可以同氟化镁相匹配的值,则将是另一番景象。而且,这在工艺上是可以实现的。我们利用假想面的方法来分析这样的双层膜。如图所示,三个界面的菲涅耳系数分别为r_0,r_1和r_2。两层膜的位相厚度分别为δ_1/2和δ_2/2,其中 相似文献
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利用泄漏波导测量低折射率薄膜的折射率和厚度 总被引:1,自引:0,他引:1
根据泄漏波导原理对K_9玻璃基板上的冰晶石薄膜进行折射率测量,达到的精度为1×10~(-4),与真实波导的情况相似。文中讨论了利用添加高折射率薄层减小待测薄膜的最小厚度的可能性。文中还利用光电方法观察反射光中暗条纹的方法判别波导的激发,并测出了冰晶石薄膜在4500到6500范围内的折射率。 相似文献
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用单波长椭圆偏光仪与分光光度计相结合,构成一种简便实用的测量方法,可以测出常用介质薄膜在任一波长的折射率。分析指出,适当选择薄膜的位相厚度,可使折射率测量误差<1×10~(-2),这对通常的膜系设计和镀制巳足够精确。 相似文献
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测量薄膜的折射率有多种方法,用椭圆偏振仪测量,精度较高,但方法繁复;用布儒斯特角法测量,方法简便,但精度较低。本文介绍用偏振法来测量薄膜的折射率,其实验原理简单,使用常用仪器即可达到一定的测量精度。 相似文献
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讲述高中物理129节光的折射定律时,要介绍各种物质的绝对折射率,公式是n=sina/sinr°在求绝对折射率时,我们都是近似的利用一条光线由空气进入该种物质,而实验时只能观测到入射角和折射角的数值,如计算折射率尚须依靠三角函数表,颇为麻烦。现在介绍一种制作简单的仪器,在测定各种物质的绝对折射率时,只要看到入射角和折 相似文献
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酞菁钴薄膜的折射率及吸收特性 总被引:2,自引:1,他引:2
通过真空镀法在单晶硅片上制备了酞菁钴薄膜,在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了CoPc薄膜的椭偏光谱并分析了其电子结构。 相似文献
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通过真空镀膜法在单晶硅制备了酞菁铜薄膜,在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了CuPc薄膜的椭偏光谱并分析了其电子结构。 相似文献
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测定液体折射率的分光计方法 总被引:3,自引:0,他引:3
测定液体折射率的分光计方法钟菊花,顾懿(华东理工大学物理实验教研室上海200237)折射率和沸点、密度一样是有机化合物的重要物理常数.它不仅是液体化合物纯度的标志,同时也是定性鉴定化合物的手段.根据折射率和混合物摩尔组成间的线性关系,还可用来测定含有... 相似文献
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折射率是光学中一个重要概念。在中学物理教学中,让学生自己动手对光的折射和折射率进行实验研究,对于培养学生的探索能力,无疑是很有益处的。本文介绍一种测定液体折射率的简便的实验方法,供参考。 相似文献