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相似文献
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1.
俞祖和 《物理》1985,14(3):0-0
椭圆仪在测量介质薄膜和研究表面方面得到了广泛的应用.其主要优点是精度较高,而且是一种非破坏性测量.目前使用椭圆仪时,一般都是给定介质薄膜的折射率,再由椭圆仪的测量值来计算出膜的厚度.但在实际情况中,介质薄膜的折射率往往也是一个待测的参数.所以,如何用椭圆仪来同时测定介质薄膜的折射率和厚度,是一个很有实际意义的问题.一、原理椭圆仪的工作原理和在已知薄膜折射率的情况下如何测定薄膜的厚度,在一些文?...  相似文献   

2.
目前的多层增透膜都是以均质膜为基础的。所谓均质膜,就是膜的折射率沿厚度方向是一致的。如果膜是非均质的,也就是膜的折射率沿厚度方向逐渐变化,我们称为变折射率薄膜。当膜的折射率从玻璃的值逐渐变到空气的值时,表面的反射便消失了。当然这在工艺上目前看来是无法实现的,因为没有一种固体材料其折射率接近空气的折射率。然而,如果使膜的折射率由玻璃的值逐渐增高到可以同氟化镁相匹配的值,则将是另一番景象。而且,这在工艺上是可以实现的。我们利用假想面的方法来分析这样的双层膜。如图所示,三个界面的菲涅耳系数分别为r_0,r_1和r_2。两层膜的位相厚度分别为δ_1/2和δ_2/2,其中  相似文献   

3.
利用布儒斯特角测定透明薄膜的折射率   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文以光波在分层媒质中的传播理论及布儒斯特角原理为基础讨论了均匀媒质薄膜的折射率测量,为均匀媒质薄膜折射率的测量提供了一种简单的方法。  相似文献   

4.
电磁波在气体中的传播状况取决于介质的折射率n。气体介质的分子在电磁波电场强度矢量E的作用下极化,产生电偶极矩,用电极化强度矢量P描述。对均匀介质,设单位体积中的气体分子数为n_n。每个分子的极化电偶极矩为P_i,则有  相似文献   

5.
利用泄漏波导测量低折射率薄膜的折射率和厚度   总被引:1,自引:0,他引:1  
根据泄漏波导原理对K_9玻璃基板上的冰晶石薄膜进行折射率测量,达到的精度为1×10~(-4),与真实波导的情况相似。文中讨论了利用添加高折射率薄层减小待测薄膜的最小厚度的可能性。文中还利用光电方法观察反射光中暗条纹的方法判别波导的激发,并测出了冰晶石薄膜在4500到6500范围内的折射率。  相似文献   

6.
斜角入射沉积法制备渐变折射率薄膜的折射率分析   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
斜角入射沉积法是一种制备薄膜的新颖方法,它可以用来制备渐变折射率薄膜.本文首先探讨了膜料的沉积入射角为α,薄膜柱状生长倾斜角为β时的薄膜的填充系数;之后利用drude理论,分析研究了斜角入射沉积法制备渐变折射率薄膜的折射率与薄膜的入射角和生长方向的关系. 关键词: 斜角入射沉积 渐变折射率 填充系数  相似文献   

7.
本文应用介电椭球理论,推导出计算介质薄膜不同方向折射率的新公式.  相似文献   

8.
渐变折射率薄膜的分层评价探讨   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
首先阐述了将渐变折射率薄膜细分为多层均匀薄膜的分层介质理论,接着给出了一种获得最佳分层数目的分层评价方法,最后以线性变化渐变折射率薄膜为例说明了如何优化获得渐变折射率薄膜的分层数目.研究发现:渐变折射率薄膜的分层数目与薄膜的厚度和薄膜的折射率变化快慢有关,在一定的折射率变化范围内,渐变折射率薄膜的分层数目随着薄膜厚度的增加先减小后增大. 关键词: 渐变折射率 分层介质理论 分层评价  相似文献   

9.
用单波长椭圆偏光仪与分光光度计相结合,构成一种简便实用的测量方法,可以测出常用介质薄膜在任一波长的折射率。分析指出,适当选择薄膜的位相厚度,可使折射率测量误差<1×10~(-2),这对通常的膜系设计和镀制巳足够精确。  相似文献   

10.
徐延 《物理实验》1990,10(5):202-203
测量薄膜的折射率有多种方法,用椭圆偏振仪测量,精度较高,但方法繁复;用布儒斯特角法测量,方法简便,但精度较低。本文介绍用偏振法来测量薄膜的折射率,其实验原理简单,使用常用仪器即可达到一定的测量精度。  相似文献   

11.
讲述高中物理129节光的折射定律时,要介绍各种物质的绝对折射率,公式是n=sina/sinr°在求绝对折射率时,我们都是近似的利用一条光线由空气进入该种物质,而实验时只能观测到入射角和折射角的数值,如计算折射率尚须依靠三角函数表,颇为麻烦。现在介绍一种制作简单的仪器,在测定各种物质的绝对折射率时,只要看到入射角和折  相似文献   

12.
本文介绍了一种高精度测量玻璃折射率的任意偏向角法,主要说明了该方法的实验原理、测量方法及理论误差分析。  相似文献   

13.
14.
酞菁钴薄膜的折射率及吸收特性   总被引:2,自引:1,他引:2  
陈启婴  顾冬红 《光学学报》1996,16(2):07-211
通过真空镀法在单晶硅片上制备了酞菁钴薄膜,在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了CoPc薄膜的椭偏光谱并分析了其电子结构。  相似文献   

15.
用布儒斯特定律测薄膜折射率   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   

16.
陈启婴  顾冬红 《光学学报》1995,15(12):717-1720
通过真空镀膜法在单晶硅制备了酞菁铜薄膜,在波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪上研究了CuPc薄膜的椭偏光谱并分析了其电子结构。  相似文献   

17.
亚酞菁薄膜的折射率和吸收特性   总被引:3,自引:3,他引:3  
王阳  顾冬红  干福熹 《光学学报》2001,21(5):34-637
通过真空镀膜法在单晶硅片上制备了一种新的严酞菁(三硝基溴硼亚酞菁)薄膜,利用全自动椭圆偏振光谱仪研究了该薄膜的椭偏光谱,测量了其复折射率,复介电常数和吸收系数,估算了薄膜在窗口区域的俘获能级并对其吸收谱的成因作了分析。  相似文献   

18.
<正> 衍射光栅在正常照明条件下,用单色平行光束在衍射光的自成像平面上形成与它周期相等的精确条纹。衍射光栅这一性质可用来测量均匀物体的折射率。对于这种研究方法可选择一个同振幅的正弦衍射光栅,在折射率n_0=1的介质中,它把入射光束分为三个级次(见图1)。  相似文献   

19.
测定液体折射率的分光计方法   总被引:3,自引:0,他引:3  
钟菊花  顾懿 《物理实验》1995,15(1):10-11
测定液体折射率的分光计方法钟菊花,顾懿(华东理工大学物理实验教研室上海200237)折射率和沸点、密度一样是有机化合物的重要物理常数.它不仅是液体化合物纯度的标志,同时也是定性鉴定化合物的手段.根据折射率和混合物摩尔组成间的线性关系,还可用来测定含有...  相似文献   

20.
折射率是光学中一个重要概念。在中学物理教学中,让学生自己动手对光的折射和折射率进行实验研究,对于培养学生的探索能力,无疑是很有益处的。本文介绍一种测定液体折射率的简便的实验方法,供参考。  相似文献   

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