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线阵CCD用于长距离衍射准直测量 总被引:2,自引:0,他引:2
本文介绍了在半导体激光光纤与位相板相结合的准直情况下,利用线阵CCD探测器测量大型工件形位误差遇到的光强变化而引起测量误差的问题,并对用线阵CCD进行衍射信号测量的原理和特点作了分析。根据CCD的工作原理和特性,提出了利用自动控制CCD积分时间的方法,使CCD输出的信号峰值保持恒定,提高了系统的测量精度。 相似文献
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线阵CCD用于实时动态测量技术研究 总被引:19,自引:1,他引:18
本文研究的是在连续光条件下线阵CCD实时动态测量技术,除了考虑CCD像元响应非均匀性、非线性等影响因素外,还应认真考虑采样频率、测量精度、动态范围、快速电路等问题。本文还详细讨论了测量精度和动态范围问题,推导了测量精度公式与动态范围公式。为了减小测量误差和提高被测信号的频率,必须相应减小积分时间。精度公式是进行线阵CCD电路设计的基本依据公式。动态范围与频率无关,只与结构参数有关,为了充分利用CCD的动态范围,激光功率要可调。 相似文献
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CCD在测量运动物体瞬时位置中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
本文介绍了一种利用线阵CCD实现测量飞行物体瞬时位置的原理和方法;对接口电路和数据采集系统进行了理论分析和实验研究,给出了用C语言编制的数据采集系统源程序;最后简要介绍了实验结果。 相似文献
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CCD摄像机用于测量中存在的问题及解决方法 总被引:20,自引:1,他引:19
本文从CCD面阵探测器的光电响应不均匀性、非线性以及摄像机内部的制式转换电路、自动增益控制(AGC)电路和γ校正电路等方面阐述了CCD摄像机用于能量分布测量存在的问题,并给出了相应的解决方法。同时对去除噪声的多幅积分法作了介绍。 相似文献
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介绍一种在线光电式非接触测量的装置及工作原理,即由一个半导体激光器LD作测量探头的光源,面阵CMOS图像传感器在实时光电位一移测量中进行图像采集,经过处理电路得到被测物体的位移。给出实验结果并分析测量精度。 相似文献
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应用CCD的透镜曲率自动测量系统 总被引:6,自引:2,他引:4
本文介绍了一种以线阵CCD固态图像传感器取代读数显微镜,能自动测量和实时显示结果的透镜曲率测量系统,论述了系统的工作原理、软件和硬件的设计及装置的测量误差。 相似文献
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使用多个线阵CCD-计算机系统实时监控多界面位置 总被引:1,自引:0,他引:1
本文提出一套多界面位置实时监控系统。该系统采用八个线阵CCD像感器分别接收每个界面的光学图像。按照控制程序的设定,适时点亮界面的照明光源,同时驱动CCD开始工作,并在采集完界面位置信息后,关掉照明光源及CCD,以延长系统的寿命,实现长期连续工作。为了同时分别监控多个界面,设计了专用微机接口电路,通过硬件电路实现各界面数据的同时锁存,然后将每个CCD的光电信号采入计算机,解决了目视读数无法保证多处数据在时间上一致性的困扰。运用该系统监控多处油水界面,每处均可在100mL体积的检测管内测量到0.1mL的界面变化。 相似文献
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提出了一种使用线阵CCD自动测量小圆孔参数的方法。该方法充分利用了线阵CCD分辨率高的特点 ,适当的光学设计使两个线阵CCD正交 ,通过测量小圆孔的夫琅和费衍射条纹 ,实现了小圆孔半径的一维参数高精度自动测量和圆度误差的二维参数定性自动测量。该方法具有一定的实用价值及应用前景。 相似文献
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以多光谱技术作为基础,针对CCD二维温度场测量的特点,提出了彩色CCD二维温度场多光谱真温在线多点标定系统。通过对多光谱辐射测温理论和CCD的测量模型的分析,推导出气体燃烧时的真温与CCD亮度之间的近似关系。使用多光谱多点测温技术计算出多点的发射率和真温并使用这些真温值完成CCD面阵上与之对应点的真温标定。将该真温标定系统应用于CO2激光焊接火焰的二维温度场测量过程中,不但得到了波长与光谱发射率之间的变化规律同时也得到了CO2激光焊接火焰的二维真温分布图。研究提出的多光谱标定技术具有实时性、灵活性的特点, 是一种可行的CCD在线真温多点标定与测量的方法。 相似文献
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1 Introduction Theinfraredchargecoupleddevice(IRCCD )sensitivefrom 3to 5μmhasnumerousapplicationsinbothmilitaryandcivilindustries[1] .To getlargearrayIRCCD ,recenttrendsinIRCCDtechnologyaretoreduceboth pixelsizeandtheactivearea .Whereastheformerincreasesarra… 相似文献
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Based on scalar diffraction theory, 8-phase-level 256×256 elements diffractive microlens array with element dimension of 50×33 μm2 have been fabricated on the back-side of PtSi(3~5 μm) infrared CCD. The measurement results indicated that the ratio of the signal-to-noise of the infrared CCD with microlens was increased by a factor of 2.8. 相似文献