用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯材料中有害元素的标准样品的制备北大核心CSCD

制备了一套适用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯(PP)材料中5种有害元素(铅、镉、铬、汞和溴)的标准样品。首先,制备聚丙烯材料目标元素高含量母粒,然后通过逐级稀释的方法制备目标元素含量梯度的样品原料,最后制得符合X射线荧光光谱分析使用要求的标准样品。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法和离子色谱法测定所制得标准样品中各元素的含量。所制备的用于X射线荧光光谱分析的PP标准样品通过F检验和t检验,得到统计量F相似文献   

TXRF法测定松花粉中的9种生命元素

建立了微波消解前处理,全反射X射线荧光法(TXRF)同时测定松花粉中K、Ca、Ti、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn和Rb9种生命元素含量的分析方法.松花粉原料经过微波消解前处理后,采用全反射X射线荧光光谱净计数、QXAS分析软件解谱和单一内标法进行定量分析.比较了干灰化法、湿消解法和微波消解法3种前处理方法的效果,并确立微波消解法作为样品前处理方法.用微波消解- TXRF法测定了花粉标准物质中的上述9种元素,并计算得到其仪器检出限(LLD)为0.002～0.054 mg/L,方法检出限(LDM)为0.004～0.122 mg/kg.TXRF法测定各元素的相对标准偏差(RSDs)为1.0％～5.5％.该方法操作简单、样品用量少、检出限低,对实际样品松花粉的测定结果与ICP - MS法无显著性差异.     

扩大X射线荧光光谱分析范围的新途径

随着电子计算机应用技术的推广,X射线荧光光谱分析的应用范围不断扩大.仪器已高度自动化.X 射线荧光光谱分析方法已定为国际标准(ISO)分析方法之一,准确度优于发射光谱和原子吸收光谱,但检出限和分析元素的范围不如发射光谱和原子吸收光谱.现用的一般仪器只能分析周期表中原子序数11(Na)—92(U)的元素,含量只能分析 ppm 级以上的浓度.为了克服这些缺点,近几年来加强了扩大分析范围的研究,一是如何降低检出限,二是如何测定周期表中原子序数低于11(Na)的超轻元素.     

X射线荧光光谱法测定石膏中11种元素的含量

采用X射线荧光光谱法测定石膏中钠、镁、铝、硅、硫、钾、钙、钛、锰、铁、锶等11种元素的含量。样品研磨30s后压片,样片用于X射线荧光光谱分析。以GBW 03109、GBW 03110、GBW 03111、GBW 03109a、GBW 03111a、GSB 08-1352-2001、GSB 08-1352-2006、GSB 08-1352-2009等8种标准物质为基础制作校准曲线,优化了各元素的基体校正数学模型。各元素的检出限在0.001 4%~0.27%之间。对同一石膏样品平行测定10次,其相对标准偏差(n=10)在0.51%~4.0%之间。方法用于3个石膏样品的分析,所得结果与国家标准方法测定结果相符。     

X射线荧光光谱法快速测定铅铋合金中的铅、铋、金、银、铜、砷、锑、锡和碲

建立快速测定铅铋合金中铅、铋、金、银、铜、砷、锑、锡、碲含量的X射线荧光光谱法。采用自制的铅铋合金样品作为标准样品,用台式车床制样,用X射线荧光光谱法快速测定铅铋合金中各元素含量,并用α理论系数法和经验系数法相结合对基体效应进行校正。各组分校准曲线的相关系数均大于0.998,检出限为5.54～101μg/g,测定结果的相对标准偏差为0.06%～7.73%(n=9)。用该方法对3个铅铋合金样品进行分析,测定结果与参考值吻合,相对误差小于8.33%。该方法简便快捷,结果准确,能满足铅铋合金中各元素检测要求,对炉前分析具有很强的实用价值。     

高压制样X-射线荧光光谱法测定煤样品中17种元素和灰分

采用自制的高压制样模具,在1400 kPa压力下直接压制煤样品,解决了由于煤样品粘结性差难以直接压制成型的难题。用电子显微镜对高压样片(1400 kPa)和常规压片(400 kPa)作了表面形态的比较,高压制备的样片表面致密、平整、光滑、不掉粉末。由于煤国家标准样品中定值的元素少,为了增加煤标样中可测定元素,以ICP-AES多次分析结果的平均值作为标准值,用高压制样建立了波长色散X射线荧光光谱测定煤样品中17个主次微量元素的分析方法,绝大部分组分的检出限较常规压力制备的样品有所改善,大部分组分的精密度都低于1%,制样的重现性好,X荧光的测定值与化学值基本相符。特别指出的是:使用SiKα测量强度和煤样品中的灰分含量建立的校准曲线,其RMS为0.9441,可直接用于测定煤样品中的灰分。     

X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量

采用X射线荧光光谱法测定废塑料表面涂层中8种元素的含量。考察了样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响。P、Si、Fe、Pb、Al、Cu、Cr和Ni的测定范围在0.002%~52.0%之间,检出限在0.000 2%~0.000 8%之间。采用本方法测定废塑料样品表面涂层中元素含量,结果与ICP-AES测定结果一致,测定值的相对标准偏差(n=7)小于1%。     

能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素

利用能量散射X射线荧光光谱（ED-XRF）法快速测定中草药中的Cd元素.方法对中草药进行简单预处理（粉碎）,使用X射线荧光光谱法建立中草药中Cd元素含量与相对强度的校正工作曲线,分析中草药样品中的Cd元素.Cd元素的检出限为0.083 mg/kg,定量限为0.207 mg/kg,定量限低于国家控制标准0.3 mg/kg.测量定量限以上的中草药样品时,其准确性与化学分析结果相当,重复性和稳定性等结果完全满足GB/T 4889-2008数据的统计处理标准.方法预处理时间不超过5 min,完成一个样品的检测时间不超过15 min,可应用于中草药生产企业中的重金属监控.     

X射线荧光光谱法同时测定矿石中钨钼锡

提出了X射线荧光光谱法同时测定钨钼锡矿石中钨、钼、锡元素含量的分析方法。方法选择四硼酸锂作熔剂,熔融制成样片,通过PW2403型X射线荧光光谱仪自带Super Q系统软件,以经验α系数法和Rh康普顿散射线内标法校正基体效应。以标准样品建立工作曲线,同时测量样品中钨、钼、锡元素含量。方法准确度和精密度能满足规范要求,钨、钼、锡的分析方法检出限分别为0.0042%、0.0026%、0.0072%。采用本法同时测定矿石中钨、钼、锡元素含量结果与传统分析方法测定结果相吻合,样品检测结果能满足矿区地质勘查的工作要求。     

X射线荧光光谱法半定量和电感耦合等离子体质谱法全定量快速测定花草茶中多种元素

采用粉末压片制备花草茶样片,以X射线荧光光谱无标准样品半定量法对5种花草茶样品进行全元素扫描得出所含元素的种类及含量范围;采用微波消解5种花草茶样品,以电感耦合等离子体质谱法进行多种元素的全定量测定.X射线荧光光谱法(XRFS)可以检出5种花草茶样品中质量分数在1μgg-1以上的所有金属元素和非金属元素,5种花草茶样品...     

X射线荧光光谱熔融法测定锶永磁铁氧体中各组分含量

本文使用自制标准样品,采用混合熔剂熔融样品,用X射线荧光光谱法(XRF)测定锶永磁铁氧体半成品中Fe,Sr,Si等元素的含量.熔融制样有效地消除了矿物效应,并降低了基体效应的影响.实验结果表明,本法准确度高,重现性好,平行测定11次相对标准偏差(RSD)可达到0.1%.该方法用于实际样品分析,其结果与传统化学分析方法结...     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF_2、CaCO_3、S、Fe及SiO_2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

经验系数法X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素

利用粉末样品直接压片,以峰背(包括X光管靶线的康普顿散射线)比法校正基体效应,X射线荧光光谱测定硅酸盐中微量元素,方法简便快速,检出限通常可达到数个ppm。然而,若单纯采用峰背比法校正基体效应,硅酸盐样品中主元素铁的含量在较大范围内变化时,会造成较大的测定误差。本文在峰背比法的基础上,同时采用经验系数法校正由铁含量变化造成的基体及背景的影响,提高了方法的准确度。     

熔融制样-X射线荧光光谱法测定锰铁中硅、锰、磷、铬、镍和铜

采用熔融制样-X射线荧光光谱法测定锰铁中硅、锰、磷、铬、镍和铜的含量。样品以四硼酸锂为熔剂,在300℃下加热15min,慢速升温至1 100℃,熔融15min,冷却后制成玻璃片,用于X射线荧光光谱分析。6种元素在一定的质量分数范围内与其信号强度呈线性关系,方法的检出限在15~59μg·g-1之间。方法用于锰铁样品的分析,测定值的相对标准偏差(n=11)在0.16%~3.6%之间。     

X射线荧光光谱无标样分析在轻合金中的应用

基于X射线荧光光谱仪,运用其无标样分析软件以及元素灵敏度系数校正,分析了镁合金、铝合金样品的元素组成及其含量。结果表明,X射线荧光光谱仪无标样定量分析镁合金、铝合金,其测量结果具有非常高的可靠性和准确度。通过对元素灵敏度系数的校正,可以进一步提高合金的测量精度。     

X射线荧光光谱法测定钒铁合金中主次元素含量

用熔融制样法将钒铁合金样品在铂金坩埚中与四硼酸锂和偏硼酸锂熔融,熔体在铂金坩埚中自动成型,用X射线荧光光谱法测定钒铁合金中钒、硅、锰、铝和磷等主次元素含量。经试验求得熔融时,四硼酸锂、混合溶剂(四硼酸锂∶偏硼酸锂=67∶33)和样品的最佳质量比为30比5比1。各元素的检出限在12.4～51.2μg.g-1之间。方法用于标准样品分析,测定值与认定值相符。     

XRF法快速测定粉饼化妆品中Pb

讨论了粉饼类化妆品的成分配比,通过添加分析纯Pb粉末,采用硼酸镶边垫底的粉末压样法,制备了用于X射线荧光分析的粉饼类化妆品Pb元素的标准样品,保证了标样和待测样品基体大致相同。在XRF分析过程中选择Pb Lβ作为分析线,建立了粉饼类化妆品Pb元素的工作曲线,其线性相关系数为0.9977,检出限为2.30μg/g。对市售5款粉饼化妆品进行了Pb含量检测,样品加标回收率为106%;待测样品RSD为2.7%(n=11);5款样品中有2款Pb含量略高于当前国标限值。     

X-90型荧光光谱仪在无机定性分析中的应用探讨

目前用于金、银、铂饰品检测的 X- 90荧光光谱仪 ,具有检测方法简便、快捷、准确、成本低、无损伤等优点 ,也可利用此仪器的特点 ,扩展测定范围。1　理论依据每一种物质都有其特定的原子结构。样品被某种激发源 (本机为2 4 1Am放射性同位素 )所发射的初级射线激发而自发地发射出其所含元素特征的荧光X射线。每个元素的特征荧光 X射线都具有特定的能量 ,探测这些特征荧光 X射线并识别其能量 ,就能识别出该被测样品中含有哪些主要元素。2　操作步骤按操作规程 ,打开仪器 ,以银、铜块校准峰位 (即谱峰尖顶所对应横座标的位置 ) ;将被测物放入…     

在能量色散X射线荧光分析中用基本参数法计算合金成份

引言在X射线荧光分析中,基本参数法是校正元素间吸收增强效应的一种数学方法。它是根据样品受激发射荧光X射线的原理在测定了样品中各元素的特征X射线强度以后,利用已知的物理参数,如质量吸收系数,荧光产额,X射线特征谱线的相对强度,入射辐射能谱,几何因子,探测效率等,在给定的初值条件下通过理论计算,用迭代逐步逼近法直接求得样品中各元素的含量。