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为了精密检测靶丸壳层厚度及其分布数据,开展了靶丸壳层厚度及其分布的白光反射光谱测量技术研究。介绍了靶丸壳层的白光反射光谱及其光谱数据处理方法(极值法、峰值拟合法、干涉级次校正法等)的基本原理,搭建了基于白光反射光谱的精密回转轴系测量装置;开展了GDP靶丸壳层厚度及其分布的白光反射光谱测量、数据处理和可靠性验证实验,获得了靶丸壳层厚度圆周分布曲线。结果表明,基于峰值拟合法和干涉级次校正的白光反射光谱技术可实现靶丸壳层厚度及其分布的准确测量,其测量误差小于0.1 μm。 相似文献
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全息干板膜的厚度是全息干板的重要参数之一。使用迈克尔逊干涉仪和白光光源对2种全息干板膜厚度进行测量,并对测量结果误差进行分析,给出了测量误差与膜厚及折射率之间的关系以及此方法的适用范围。研究结果表明:在膜厚从8μm增至41μm的过程中,测量结果的绝对误差≤2μm且变化很小,相对误差则从14.1%降到了2.2%。随着膜厚的增加,相对误差明显降低;折射率n也参与了误差传递,其值与测量误差呈类似反比关系;当n值在1.5附近时,为保证测量的准确性,所测膜厚≥40μm。最后指出,迈克尔逊干涉仪在测量全息干板膜等较厚的薄膜时,具有测量范围大,结果较准确等优点。 相似文献
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Light trapping for a‐Si:H/µc‐Si:H tandem solar cells using direct pulsed laser interference texturing 下载免费PDF全文
Sven Ring Sebastian Neubert Christof Schultz Sebastian S. Schmidt Florian Ruske Bernd Stannowski Frank Fink Rutger Schlatmann 《固体物理学:研究快报》2015,9(1):36-40
We present a‐Si:H/µc‐Si:H tandem solar cells on laser textured ZnO:Al front contact layers. Direct pulsed laser interference patterning (DLIP) was used for writing arrays of one‐dimensional micro gratings of submicron period into ZnO:Al films. The laser texture provides good light trapping which is indicated by an increase in short‐circuit current density of 20% of the bottom cell limited device compared to cells on planar ZnO:Al. The open‐circuit voltage of the cells on laser textured ZnO:Al is almost the same as for cells on planar substrates, indicating excellent growth conditions for amorphous and microcrystalline silicon on the U‐shaped grating grooves. DLIP is a simple, single step and industrially applicable method for large area periodic texturing of ZnO:Al thin films. (© 2015 WILEY‐VCH Verlag GmbH &Co. KGaA, Weinheim) 相似文献
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