Simi—100数字集成电路多值逻辑测试仪

Simi-100数字集成电路多值逻辑测试仪，是聚星电子技术研究所通过总结国外同类产品的优点，本着实用、方便、测试精简的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。     

数字集成电路参数测试仪的设计及实现

本文论述了以AT89C52单片机为核心设计的一种数字集成电路参数的测试仪器。利用单片机的数学运算和控制功能,并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换,及各路测试项目的参数显示。实践结果表明,该测试仪器是一种性能实用、操作简单、成本低廉的优秀测试仪器,完全可以满足测试要求。     

基于ARM7数字集成电路测试仪的设计

本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。     

组合式集成电路专用测试仪简介

北京自动测试技术研究所最近研制成功一种组合式集成电路专用测试仪。所谓组合式,是指由几个基本模块加上少数专用模块和适配器所构成的,为某一类集成电路测试用的专用测试仪器。更换个别专用模块和适配器,就可以构成另一类集成电路测试仪。由于它的专用性,模块的数量相对     

ZJC-7数字集成电路测试仪

一、概述我所新近研制的ZJC-7数字集成电路测试仪是精密的数字式测量仪器,用于测试最大外引脚为24的数字集成电路的功能和各种直流参数。测量精度为被测值的±1％±1个该量程的二进制码。仪器由测试仪本体、监视器、计算机及外存器组成。 ZJC-7数字集成电路测试仪是采用Z-80CPU微机控制下的智能化测试仪器,能自动完成型号搜索,新旧型号转换,测试其功能与直流参数,并立即将测试结果直接在屏幕上显示出来。还可以连接打印机打印测量结果。具有自动故障定位指示,检测、维修方便准确。     

微机化TTL数字集成电路功能测试仪

随着微电子技术的发展,数字集成电路的应用越来越广泛.一般科研机构、院校实验室、工厂和生产单位在使用中经常需要检测集成电路的好坏,而且关键是判断芯片逻辑功能是否损坏,而不是电特性参数.由于TTL数字集成电路种类繁多,因此,如何准确、快速、方便地测出各种芯片逻辑功能的好坏就成了急需解决的问题.国内曾有人介绍过配备微型计算机的测试系统,也有借助单板机配接一些接口电路来进行测     

LF型集成电路在线测试仪

ＬＦ型集成电路在线测试仪最新增加３０余种反汇编软件力孚公司是西安电子科技大学电子所创办的高科技公司，隶属于国家信号处理重点实验室，其中有学部委员１人，博士后１人，博士８人。我所开发生产的１Ｆ型ＩＣ在线测试仪已在全国大量应用，可快速在线（即在板）判断焊...     

实用性集成电路测试仪设计技术

本文介绍我所新近研制的一种微机控制的数字集成电路测试仪及其软硬件设计技术,重点叙述在计算机的应用。该仪器所采用的微机、监视器和打印机都是市购的廉价通用品。该仪器作为微机的外设,能在监视器的中文系统引导下测试24芯以下(包括24芯)的TTL和CMOS数字集成电路以及28芯存储器,并且能在不改动硬件设计条件下而扩展到40芯组件测试。商业性样机已经生产出来,并已提供用户试用。     

基于AT89C51的数字集成电路测试仪的设计

以单片机AT89C51为核心,通过串口与下位机通信,设计了一种通过电脑操作,单片机控制的数字集成芯片测试仪,该系统能对常用的20种74系列数字集成电路作出准确快速的功能检查。系统主要由控制及测试、上位机通信两部分组成。控制及测试部分以单片机AT89C51为核心组成,上位机通信部分由Vb编写的可视化用户界面和电平转换电路MAX232组成。     

CRT—1型微电脑测试仪

一、引言肝性脑病是指肝细胞衰竭时伴有意识障碍的一种综合症,常见的肝昏迷是其极期,而其前驱期因无明显症状不易发现。近年来,国外着眼于其前驱期的研究,并称之为亚临床肝性脑病,提出了用连续反应时间原理诊断亚临床肝性脑病(SHE)的方法,并成功地将其用于对肝性脑病的定级和对器质性脑损伤的描述,推进了肝性脑病的早期诊断的研究。我们根据国外文献,应用上述原理,结合我国经济情况,研制了CRT-1型微电脑测试仪。它由一个随机信号发生电路、微电脑、显示器和一个微型打印机构成。信号通过声音或灯光给出,受试者通过按键反应,微电脑对其反应时间进行分析处理,作出判断。下面首先介绍该仪器的基本功能,然后介绍它的硬件结构和软件设计。     

GH3123A集成电路自动测试仪性能简介

GH3123A型集成电路自动测试仪(以下简称测试仪),适用于24脚以内中、小规模数字集成电路逻辑功能与直流参数的测试。测试对象为TTL、CMOS、HCMOS、HTL系列器件,包括各类门电路、组合电路、时序电路(触发器,计数器,移位寄存器)及MOS开关等。测试仪采用微处理器控制,2000多种器件的测试程序,固化在机内EPROM中,只要输入被测件(DUT)的型号就可自动完成测试并自动判断DUT是否合格。测试结果采用CRT显示并伴有声音提示,可连接标准打印机打印输出。测试仪采用变电源测试逻辑功能,测试严格。精确的微电流测试,完全满足CMOS电路的测试要求。测试仪具有管脚接触判断功能,能自动判断接触不良的管脚号并中止测试。测试仪软件功能齐全,具备多种测量模式可供用户选择,测试操作简单,可靠耐用,性价比极高,是工厂、部队、院校和科研单位用于测试数字集成电路先进的检测工具。该测试仪具有如下特点:     

数字频率特性测试仪的设计

传统的模拟式频率特性测试仪存在价格昂贵、条件苛刻、操作不便和性能指标易受温漂因素影响等不足。针对以上缺点,通过采用数字技术,将先进的 DDS 和 MSP430单片机相结合,集合一些常用的外围模拟电路,设计了一个简易的频率特性测试仪。系统对待测电路的输入信号及其输出响应采样,经数字信号处理后,获得电路的幅频特性和相频特性。设计的测试仪测某RLC网络,中心频率的相对误差小于0.2%,有载品质因数相对误差小于1.25%,最大电压增益大于-1 dB。频率特性测试仪输入输出阻抗均为50Ω,幅频误差绝对值小于0.5 dB,相频误差绝对值小于3°。测试仪能满足一般测试参数需求。     

多功能数字测试仪的设计与实现

为把数字万用表、绝缘电阻表、漏电开关测试仪等三种功能的测量仪器,合并为一种新型手持式测量仪表。采用专用集成电路ES51921和高性能微控制器MSP430F2111及外部扩展电路、液晶显示器（LCD）等组成,将多功能测试仪设计成具有多功能、智能化的特点和显示直观、读数精准、功能完善、耗电省、体积小、易于携带等优点。该多功能测试仪经测试符合相关技术标准。     

基于PCI总线集成电路测试仪接口设计

为实现集成电路测试仪的软硬件通信功能,通过比较通用的PCI通信接口的实现方法,为了简化逻辑电路设计,使其更具通用性,采用了PCI专用接口芯片PCI9030,并使用可编程逻辑器件FPGA完成复杂的时序逻辑控制和地址译码,利用PCI驱动开发工具SDK提供的API函数,在VC6．0软件开发平台上设计专用的驱动程序。     

基于集成电路测试仪控制模块设计研究

本文在通信架构基础上,找出通信模式的主要瓶颈,并设计并出更为高效的设计优化方案以此来提升整个通信架构速率,全面推进集成电路产业的健康、高效发展。     

数字集成电路的低功耗设计

评述了近年来 Ｅ Ｄ Ａ 领域中最具代表性的功耗估计和优化的方法,并对低功耗设计技术的发展趋势作了展望。     

集成电路测试仪电源电路的仿真设计研究与应用

针对实验室某种集成电路测试仪使用中存在的因电源电路的设计不够完善、带负载能力差而存在死机或复位不正常的问题,在原有电路基础上,对电源电路进行改进设计,增加了扩流电路,并对改进电路用EDA仿真技术进行对比验证,并在实际应用中解决了问题.