利用法布里-珀罗腔抑制电光相位调制中的剩余幅度调制

激光经电光相位调制后,由于剩余幅度调制的存在造成调制边带幅度不相等。利用法布里-珀罗腔的透射特性和Pound-Drever-Hall技术对通过法布里-珀罗腔的调制光正、负一级边带的幅度产生不同的衰减,使得调制边带的幅度相等,从而实现对电光相位调制中剩余幅度调制的抑制。采用该方法,理论上计算了调制光经法布里-珀罗腔后的光外差光谱信号,获得锁定法布里-珀罗腔后调制边带幅度的不对称度较腔锁定前减小四个数量级。实验研究了调制光经法布里-珀罗腔透射的光外差光谱,结果表明将法布里-珀罗腔锁定于该透射光外差光谱中心零位时,对剩余幅度调制的抑制程度可达45 dB。     

正弦相位调制双法布里－珀罗干涉术的实验研究

讨论了光纤传光、正弦相位调制的双法布里－珀罗（Ｆａｂｒｙ－Ｐｅｒｏｔ）干涉术实验结果．通过光强信号的傅里叶分析，证实基频幅值和相位均含谐振腔长度或程函变化信息，从而提出实现基频相位或幅值测量的时间间隔测量法或幅值整流基频幅值测量法．在已研制的实验装置上，测试两种方法的灵敏度阈，结果表明：作者提出的平行双通道结构和光纤传光的测试方法能补偿谐振腔温漂影响，简化信号处理过程，更适合实时测量．     

法布里-珀罗腔对相位噪声测量的影响

从理论上讨论了通过法布里－珀罗腔将输入场的相位噪声转换为强度噪声的过程。分析了腔参数对输入场相位噪声测量的影响，并对自由运转时单模量子阱激光器相位噪声进行了测量。     

正弦相位调制双法布里—珀罗干涉术的实验研究

讨论了光纤传光、正弦相位调制的双法布里－珀罗干涉术实验结果。通过光强信号的傅里叶分析，证实基频幅值和相位均合谐振腔长度或程函变化信息，从而提出实现基频相位或幅值测量的时间间隔测量法或幅值整流基频幅值测量法。在已研制的实验装置上，测试两种方法的灵敏度阈，结果表明：作者提出的平行双通道结构和光纤传光的测试方法能补偿谐振腔温漂影响，简化信号处理过程，更适合实时测量。     

扫描式法布里-珀罗干涉仪测量高空大气风速

为测量中低纬度地区250km高空大气风速，采用扫描式法布里 珀罗干涉仪记录250km高度附近的OI630nm气辉辐射谱线的干涉图像。通过对观测图像分析处理，用高斯函数匹配干涉条纹强度分布以确定干涉条纹强度中心的精确位置，进而求出谱线的多普勒频移，反演出经向和纬向风速。经过理论推导，求出F P腔间距的漂移量对风速的影响，对反演风速进行修正。由风速随时间变化曲线得到在观测期间，经向风朝南，大小在4～67m/s间变化；纬向风朝东，大小在20～100m/s间变化，最小风速误差约为6m/s。     

在线型光纤法布里-珀罗折射率传感器及光谱分析方法研究

提出一种在线型光纤法布里-珀罗折射率传感器。传感器由空芯光子晶体光纤两端熔接单模光纤而成。理论分析并实验验证了其折射率传感特性。结果表明,干涉条纹对比度随溶液折射率的增加而减小,与理论模拟一致。提出利用标准差解调方法对干涉谱进行分析,标准差解调方法具有更好的线性度和准确性,可靠性更高,便于编程实现自动化、快速的数据分析和溶液折射率的实时检测。     

薄膜法布里-珀罗滤光片的偏振特性

用特征矩阵法研究了薄膜法布里-珀罗滤光片的偏振特性。研究发现:随着入射角增大,s偏振光透射模和p偏振光透射模的波长逐渐分离,但分离的幅度较小;随着入射角增大,s偏振光透射模的透射率作幅度较大的震荡变化,而p偏振光透射模的透射率变化较小;当入射角以1°/100的间隔变化时,可以在透射模波长不变的情况下,使s偏振光透射模的透射率发生显著变化,而p偏振光透射模的透射率基本不变。薄膜法布里-珀罗滤光片的偏振特性可以在角度变化的测量中发挥重要作用。     

基于法布里-珀罗腔反射光相位特性设计的梳状滤波器

提出了一种用于设计密集波分复用全光网络中梳状滤波器的方法，该器件利用法布里-珀罗腔反射光相位的非线性性质，结合光的相位在一定光程差下随频率呈线性周期变化的特点，通过使这样两束相位匹配的光发生干涉，得到所需滤波特性。运用江膜特征矩阵对模型进行了模拟计算，并分析了计算结果，论证了这种结构的可行性。     

级联二阶非线性法布里-珀罗谐振腔特性分析

在小信号近似下,得出了级联二阶过程的表达式。利用该式的有效三阶极化率的表达式,讨论了存在二阶非线性光学晶体的法－珀谐振腔的非线性光学特性。分析表明,由于谐振腔的存在,通过非线性晶体的功率密度超过入射功率密度几十倍以上,因而产生较大的、随相位失配变化的非线性相位漂移。当相位失配接近２π时,获得基叔光的最大相位漂移。该最大相位漂移对应的相位失配随着入射功率密度、非线性晶体的地阶极化率和晶体长度而变化。     

光热正弦相位调制干涉仪中相位的抗干扰测量

在正弦相位调制半导体激光干涉仪中,半导体激光波长随注入电流和温度漂移而产生相位测量误差,同时干涉仪的机械振动和干涉仪两臂中的空气扰动也会引入相位误差,在已有光热正弦相位调制干涉仪中引入反馈机制,有效地降低了上述误差,增强了干涉仪的抗干扰能力,使用此干涉仪测量了物体的位移,测量结果表明这种方法可以有效地提高相位的测量精度。     

Sinusoidal Phase-Modulating Fabry-Perot Interferometer for Angular Displacement Measurement

In this paper, a sinusoidal phase-modulating Fabry-Perot interferometer is proposed to measure angular displacement.The usefulness of the interferometer is demonstrated by simulations and experiments.     

Sinusoidal Phase-Modulating Superluminescent Diode Interferometer with Fabry-Perot Etalone for Step-Profile Measurement

In this paper we use a superluminescent diode (SLD) as the light source of an interferometer and extract a narrow spectrum from a wide spectrum of the SLD with a Fabry-Perot Etalone (FPE). By varying sinusoidally the distance between the two mirrors of FPE, the central wavelength of the narrow spectrum is scanned sinusoidally. The distance between the mirrors is exactly set by a feedback control system, and sinusoidal phase-modulated SLD light that has a large scanning width of about 10 nm can be obtained with high stability and spatial uniformity. The phase of the interference signal has two different components. One is amplitude Z_b of sinusoidal phase modulation, which is proportional to the optical path difference (OPD) and the scanning width. The other is conventional phase α, which provides a fractional value of the OPD in the range of the wavelength. By combining the two values of the OPD obtained from Z_b and α, an exact OPD larger than the wavelength can be measure with ment accuracy in α. Characteristics of the interferometer are made clearly through step-profile measurements.     

物体表面形貌的正弦相位调制实时干涉测量技术研究

表面形貌干涉测量技术是一种高精度的非接触式测量技术,在工业生产和科学研究中具有广泛的应用。提出一种实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉测量新技术。该技术用激光二极管作光源,用自制的高速图像传感器探测干涉信号,通过信号处理电路实时解相得到被测表面所对应的相位分布,实时分析相位获得物体表面形貌。该技术消除了光强和部分外界干扰的影响,提高了系统的测量精度。楔形光学平板表面形貌的测量结果表明,测量点为60×60个的情况下,测量时间小于8.2 ms,重复测量精度(RMS)为4.3 nm。     

具有速度谱分辨能力的角色散FP干涉测量技术

 发展了可用于速度谱诊断的角色散Fabry-Perot干涉测量技术,使不同频移探测激光形成的干涉条纹在空间分离,从而可对单一或混合运动源引起的多普勒频移成分进行检测,并给出物体速度谱分布。利用Fabry-Perot干涉测量技术,开展了激光驱动铝箔飞片实验。随着驱动激光能量的变化,观察到了铝箔飞片的不同速度谱分布,包括没有速度空间分散的速度谱、分裂成几片并以不同速度飞行的离散速度谱、碎片云或射流状态下的连续速度谱分布,此外还观测到了冲击下铝箔/玻璃界面分离引起的条纹分裂现象。     

Parallel Plate Interferometer with a Reflecting Mirror for Measuring Angular Displacement

A parallel plate interferometer with a reflecting mirror for measuring angular displacement is proposed. A deflection angle of a beam caused by an angular displacement is amplified by use of a reflecting mirror to increase the optical path difference (OPD) in the plane-parallel plate, which provides high sensitivity of the phase measurement. Detection of light transmitted through the plane-parallel plate with a position sensitive detector (PSD) enables high accurate measurement of the initial angle of incidence to the plane-parallel plate with insensitivity to stray light. The improved parallel plate interferometer achieves a measurement repeatability of 10⁻⁸ rad.     

基于敏感Fabry-Perot腔光纤角位移传感器的原理与设计

提出了一种全角度并且可以连续测量微小角位移(秒级）的新型光纤角位移传感器.利用微小光学谐振腔的基本理论,主要是基于光学法布里-珀罗(Fabry-Perot）腔的基本原理研究特定光波下光强度的变化与角位移的线性变化关系,利用光纤技术、敏感技术融合微机械技术研发而成.适合于一些特定领域中对角位移的精确测量.     

测量光纤外腔Fabry-Perot干涉仪的白光干涉术

提出了一种基于白光干涉术测量低锐度光纤外腔Fabry Perot干涉仪（EFPI）的方法用宽带光源注入F P腔,在接收端用一高锐度的可调谐光纤F P滤波器对EFPI的反射光谱进行扫描,获得了周期性变化的光谱输出为了测量出EFPI的腔长,对光谱信号进行傅里叶变换,得到光谱的周期,由此求出EFPI的绝对腔长证明了用低锐度EFPI的测量准确度由腔长决定F P腔越长,测量准确度越高在腔长分别是200 μm,400 μm和600 μm时,测量的腔长与实际腔长相同.     

法布里—珀罗干涉仪的调节研究与应用简

法布里珀罗多光束干涉仪的调节技巧,分别以钠、汞和激光为光源调节出清晰、理想的多光束干涉图样,并较精确的测定了氦氖激光的波长。     

大剪切电子散斑干涉的载频调制与位移场测量

将电子散斑干涉场的载波调制引入到大剪切电子散斑干涉中,通过对参考物的微小偏转引入载波条纹;利用傅里叶变换法,解调出了变形场的相位,从而实现了物体变形场的精确测量。讨论了大剪切载频的调制机理,理论分析表明,调制条纹的空间频率与参考面偏转的角度成正比;因此,控制参考面的偏转角度可实现不同位移量系统的调制。利用中心加载周边固定圆盘进行了典型实验,实验结果证明在大剪切电子散斑干涉技术中可以通过参考面的旋转高质量地实现电子散斑干涉条纹的调制,求解位移场。该系统具有系统简单,不需要专门引入参考光,条纹质量好等优点。该技术可扩展电子散斑干涉的应用范围,有一定的实际应用价值。     

Grating Interferometer Using ± 1st Order Beams for Step-Profile Altitude Difference Measurement

We propose a grating interferometer for step-profile altitude difference measurement. There are two main characteristics in this interferometer. The first is that the intensity distribution of the interference pattern is independent of the wavelength of the laser-diode used. No change of the intensity distribution occurs when the wavelength fluctuates. The second is that the measuring range is much larger than the wavelength of the light source because the spatial period of the grating is much larger than the wavelength. Sinusoidal phase modulating interferometry is easily applied to detect the phase variation of the interference pattern by vibrating the grating sinusoidally. The thickness of a 3.5-inch disk is measured with an accuracy of less than 0.5 μm.