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通过Surface Evolver软件对LGA焊点进行了三维形态预测,利用有限元数值模拟对LGA焊点在热循环条件下寿命进行了分析。研究了热循环条件下LGA焊点的应力应变分布规律,随着焊点远离元件的中心位置焊点所受到的等效应力、等效应变和塑性应变能密度逐渐增大,从而得出处于外面拐角的焊点最先发生失效的结论。基于塑性应变范围和Coffin-Manson公式计算了焊点热疲劳寿命;找出了LGA焊点形态对焊点寿命的影响规律,模板厚度一定时PCB焊盘尺寸小于上焊盘时LGA焊点的热疲劳寿命与PCB焊盘尺寸成正比,大于上焊盘时成反比,大约相等时焊点寿命最大。当PCB焊盘和模板开孔尺寸固定时,通过增大模板厚度来增加焊料体积在一定程度上可提高LGA焊点的热疲劳寿命,但是模板厚度增大到一定值时LGA焊点寿命会逐渐降低。 相似文献
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表面组装技术焊点的几何形态是影响焊点可靠性的重要因素之一。通过设计片式元件焊点的几何形态,制作热循环试件,考察焊点形态影响焊点热循环寿命的规律。 相似文献
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由于SMT中焊点形态影响焊点质量和可靠性,国外对SMT焊点形态的预测和控制研究有所重视。文中用有限元方法对RC3216片式元件焊点三维形态进行计算,考虑了焊点钎料量对焊点三维形态的影响;提出了一种用触针测量法研究点三维形态的实验方法,并对计算结果和实验结果进行了比较,结果表明,计算结果与实验结果吻合良好。 相似文献
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关于SMT焊点后置反应问题的探讨 总被引:1,自引:1,他引:0
叙述了SMT焊点的后置反应现象。对后置反应产生的原因,以及SMT焊接工艺参数对SMT焊点后置反应的影响,进行了一些探讨。同时提出了实际生产中避免与减小后置反应危害的工艺措施。 相似文献
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基于能量最小原理,采用三维有限元方法,考究了片式元件与基板的间隙对SMT焊点三维开矿的影响,利用焊点系统的能量数据,分析元件与基板的间隙。研究表明,元件与基板的间隙对焊点三维形态有重要影响,元件与基板的间隙随焊点钎料量的增加和焊盘伸出长度匠减小而增加,提出了间隙与钎料量,焊盘伸出长度关系的回归模型。 相似文献
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热循环加载条件下SMT焊点应力应变过程的有限元分析 总被引:4,自引:0,他引:4
SMT焊 热循环条件下的应力应变过程分析是SMT焊点可靠性的重要方向。本文采用粘弹塑性材料模式描述SnPb钎料的力学本构响应,对非城堡型LCCC焊蹼结构进行三维有限元分析,考察焊点在热循环加载过程中的应力应变等力学行为。研究结果表明,焊点钎料内的高应力发生在热循环的低温阶段,升降温过程中的蠕变和非弹性应变的累积显著,蠕变应变在非弹性应变中占主导地位,应力应变滞后环在热循环的最初几个周期内就能很快稳 相似文献
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随着表面贴装技术广泛地应用于微电子电路,使得研究环境对焊点的可靠性影响等问题越来越重要,尤其是低周热疲劳问题。通过-40-125℃和0-100℃温度循环情况下的印刷电路板焊点拉拔实验及其实验数据找出温度变化对焊点失效的影响情况。分析得出随着温度循环数的增加,平均拉拔力从15N减小到5N,且温差越大拉拔力减小的速率越快,即实验1明显比试验2拉拔力下降速度快并且最终能减小到3.52N。分析其原因可知在经过长期的热循环,焊点和焊盘发生了部分开裂,但并没有导致电性失效。焊点部分开裂,使拉拔过程,在施加很小的力的情况下即发生失效。 相似文献
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SMT焊点质量检测方法 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了SMT焊点质量常用检测方法,包括从外观到内部组织机构、从电性能到机械性能等各项检测的原理和应用范围,并分析了在工艺、制造和使用过程中出现的各种焊点失效机理,并从焊点几何结构设计、钎料性质及材料热匹配等方面提出了降低失效率、提高焊点可靠性的途径。 相似文献
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BGA焊点的质量控制 总被引:1,自引:0,他引:1
本文将结合实际工作中的一些体会和经验,就BGA焊点的接收标准、缺陷表现及可靠性等问题展开论述,特别对有争议的一种缺陷空洞进行较为详细透彻的分析,并提出一些改善BGA焊点质量的工艺改进的建议. 相似文献
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BGA是现代组装技术的新概念,它的出现促进了SMT(表面贴装技术)与SMD(表面贴装元器件)的发展和革新,并将成为高密度、高性能、多功能及高I/O数封装的最佳选择。本文将结合实际工作中的一些体会和经验,就BGA焊点的接受标准、缺陷表现及可靠性等问题展开论述,特别对有争议的一种缺陷空洞进行较为详细透彻的分析,并提出一些改善BGA焊点质量的工艺改进的建议。 相似文献