小型X射线荧光光谱仪快速分析萤石的成分

本文以粉末压片法制样，小型多道QX荧光光谱仪测定萤石中的SiO2、Fe2O3、A12O3、CaO，方法的准确度高、精密度较好，分析误差能满足化学分析方法的要求，可完全代替化学分析法。对一个萤石样品的全分析只需30min。方法快速、简便，结果令入满意。     

X射线荧光光谱法测定碳酸锶产品中的主次组分含量

Mg,Ca,Sr,Ba同为碱土金属,性质相似,准确分析SrCO3产品中的Sr,Ca,Mg,Ba难度大,分析繁杂.文章采用人工合成配制系列标准样,以硼酸镶边垫底的粉未压片法制样,建立了准确分析SrCO3产品中主次组分的定垦分析曲线,可同时测量SrCO3产品中的Sr,Ba,Ca,Mg,Si,Fe,Al,S等组分.由于SrCO3产品中Sr含垦高,按照仪器给定的测量条件进行测量产生谱峰饱和现象,造成计数率溢出,分析误差较大,文章对Sr的分析条件进行了分析,提出通过降低Sr的测定功率来降低计数率,达到测量目的;粉末压片制样分析SO4时,随着测量次数的增加,SO42的结果呈递增趋势.在文中提出了解决方法;同时对自成特性很差的SrCO3产品的压片条件进行了讨论.使用a经验系数法校正基体效应,经对配制的合成样进行检验,测最值与标准仉结果吻合.方法的检出限和准确度满足分析要求,除SO42-的RSD＜9.0%,其他主次元素RSD＜2.5%.     

掠射技术与X射线荧光分析

掠射技术引入Ｘ射线荧光分析成为一种新的材料及薄膜分析技术。运用此技术命同材料表面及薄膜的密度、厚度、界面粗糙度、成分的深度和剖面分布等各种信息，本文介绍了掠射技术在Ｘ射线荧光分析中的应用及近年来的发展和前景。     

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法

本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料，作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。     

X射线荧光光谱粉末直接压片法测定哈默斯雷铁矿中的主次元素含量

本方法采用塑料环作镶圈，粉末直接压片，用X射线荧光光谱法测定哈默斯雷铁矿中的TFe、SiO2、Al2O3、P、S、Cu、MgO和Na2O的含量，试验结果表明：基体影响无需进行校正，方法的准确度和精密度均较高，结果令人满意。     

X射线荧光光谱快速分析地质物料主、次元素

本文建立了X射线荧光光谱分析地质、化探扫面样的快速方法，掌握各元素的分析特征，选择适宜的条件，从而缩短分析时间，降低其成本，达到快速、简便的目的。     

硅铁中Si,Al,Ca,Mn,Cr,P和S元素的X射线荧光光谱分析

叙述了用ＡＲＬ８４８０型Ｘ射线荧光光谱仪测定硅铁中Ｓｉ、Ａｌ、Ｃａ、Ｍｎ、Ｃｒ、Ｐ和Ｓ元素的Ｘ射线荧光光谱分析方法。采用直接粉末压片法制样。分析结果与化学法结果相符。方法快速、准确、经济、简便，精密度很好。通常，结果是令人满意的     

X射线荧光光谱法同时快速测定多金属矿样品中的铜、铅、锌、钼、钨和硫等元素

粉末压片法制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus X射线荧光光谱仪对多金属矿样品中、低含量的铜、铅、锌、钼、钨和硫等元素同时进行快速测定,方法的测试范围为:Cu:0.0030%—5.00%;Pb:0.0050%—5.00%;Zn:0.010%—5.00%;Mo:0.0030%—1.50%;W:0.005%—2.00%;S:0.010%—10.00%。方法测定值与标准值、ICP-OES/MS、比色分析、红外碳硫分析数据基本吻合,可满足实验室对多种多金属矿石批量检测的要求。     

全反射X射线荧光分析

介绍了全反射Ｘ射线荧光分析的基本理论，实验装置和定量分析方法，简述了其发展史及其在医学，法学，环境科学，地矿科学，材料科学等领域的应用。评述了今后Ｘ射线荧光发展的方向。     

微束X射线荧光分析

用能量色散微束X射线荧光分析仪实际测量了微束准直器孔径和X射线强度对微束空间分辨率的影响,在准直器孔径为0.1mm条件下,获得以FWHM定义的空间分辨率最好为0.073mm。通过微束扫描测量出某硫化锰矿微区内的Mn、Fe、Zn、Pb的三维等高线荧光强度分布图和不同小区域内的能谱。     

应用小型X射线荧光光谱仪快速测定钾长石的化学成份

本文采用粉末压片法制样,用小型多道波长色散Ｘ射线荧光光谱仪测定钾长石中的ＳｉＯ２Ａｌ２Ｏ３、ＣａＯ、ＭｇＯ、Ｆｅ２Ｏ３、Ｋ２Ｏ、Ｎａ２Ｏ。测定准确度、精密度较好,所得结果满足化学分析误差要求,能完全替代化学分析,将一个钾长石作全分析整个过程只需３０ｍｉｎ,本法快速、简便、结果令人满意。     

X荧光光谱法测定烧结矿中SiO2等7个成分的含量

本文采用粉末压片法制样，X荧光光谱法分析烧结矿中的TFe、SiO2、CaO、S、MgO、A12O3、P，建立的校准曲线线性较好，测定结果令人满意。     

粉末压片-X射线荧光光谱法在地球化学标准物质均匀性检验中的应用研究

均匀性是标准物质三大特性之一.X射线荧光光谱法(XRF),精密度高,可实现多元素同时分析,是地球化学标准物质均匀性检验重要方法之一.目前,应用XRF对标准物质进行均匀性检验还存在争议.由于均匀性检验要求称样量为最小取样量,一般地球化学标准物质的最小取样量为0.1 g,而采用粉末压片-XRF进行均匀性检验时称样量为4 g...     

SPECTROSCAN-U型便携式波长色散X射线荧光光谱仪现场测定铜矿区的15种元素

采用SPECTROSCAN－U型便携式波长色散X射线荧光光谱仪，使用粉末样品压片制样，现场分析了某铜矿区样品中的Cu、Pb、Zn、Co、Ni、Cr、V、Ti、Mn、Rb、Sr、Zr、Y、Ca、Fe等15种元素，获得了较好的精密度与准确度。用现场分析数据圈出的异常图与室内化学分析数据圈出的异常图符合较好，为野外现场快速分析作了有益的尝试。     

黄磷电炉用硅石的X荧光光谱快速分析

本文选择了硫酸钡为粘合剂,使其高含量硅石能直接粉末压样,应用于黄磷电炉中间控制成份分析,结果满意。     

X射线荧光光谱法分析炼钢污泥中化学成分

炼钢污泥灼烧氧化后,对其残渣进行熔片,使用X射线荧光光谱法进行分析测定,最后折算为污泥中各元素百分含量,分析结果与化学方法相符,满足生产使用要求.     

基于手持式X荧光光谱仪对乐山大佛赋存砂岩的分析

为探索手持式X荧光光谱仪在石窟研究和保护中的应用,结合岩相分析和前期地调数据,使用手持式X荧光光谱仪,对四川乐山大佛从佛脚到胸部位置共42 m厚的砂岩以平均0.5 m间隔进行高密度XRF测试,做出元素含量和比值变化曲线。研究结果显示,手持式XRF测试结果中的Si,Ca,Al和Fe等主量元素可以较好地与岩相分析结果和自然层划分结果吻合,反映石英、方解石、褐铁矿的含量变化以及岩屑绢云母化程度。元素比值能够反映厚层块状岩体内部的抗风化能力差异,Si/(Si+Fe+Al)可以反映砂岩胶结物含量变化和受溶蚀程度,(K₂O+CaO)/Al₂O₃指示抗化学风化强度变化,S元素含量与Fe、Mn元素的去耦合指示了溶孔发育,综合反映了大佛赋存岩体在胶结物成分、孔隙度和层理发育方面的情况。Cl元素的两段高值与乐山大佛胸部带状滞状区及大佛脚部潜水区高度吻合。手持式X荧光光谱仪应用在石质文物分析中具有以下三个优势：（1）对大型、不可移动的石质文物本体来说,手持式X荧光光谱仪提供了高效、无损的岩石化学成分分析手段,主量元素的含量及分布可以较好地与赋存岩体的岩相分析结果和自然层划分结果吻合,能够成为石质文物本体岩性和岩层划分的辅助手段,有利于进行不同区域石质文物的对比研究。（2）对凿造于同一厚层块状岩层中的石质文物来说,手持式X荧光光谱仪能够满足测试间隔不到0.1 m的高分辨XRF扫描,元素比值的波动和元素间耦合关系的变化反应胶结物成分、孔隙度、溶孔发育度等方面反应块状岩体抗风化能力的内部差异。（3）Cl元素含量变化曲线可以精确指示含水量高的岩层,有助于进行滞水、透水情况和水患防治重点的评估,为处于不同气候和水文条件下的石质文物进行病害位置和机制对比提供辅助信息。     

蛛丝和蚕丝化学元素X射线荧光光谱分析及其应用

采用X射线荧光光谱(XRF)方法研究蛛丝和蚕丝的化学元素组成,探讨成丝机制中金属离子的作用及生物丝性能优良的元素基础。XRF分析蚕丝中C含量是47.10%、O为29.92%、N是16.52%;金属元素包括：Ca含量0.166 2%、Mg含量0.104 0%和K含量0.039 5%,而Na,Zn,Ni,Fe和Cr是微量元素。Ca和Mg元素含量高,在桑蚕吐丝机制中起着重要的作用。在蛛丝中,主要的非金属元素是：C含量44.09%、O含量26.64%和N含量22.34%。高含量的N元素可能是蛛丝优异的刚性和韧性性能的元素基础。在蛛丝中,Na含量0.268 0%、K含量0.081 4%和Mg含量0.011 6%,而Ca,Zn,Fe,Cu和Cr则是微量元素。蛛丝中Na和K元素含量高,在蜘蛛吐丝机制中可能起重要作用。运用数学统计方法研究生物丝元素组成与XRF元素分析结果吻合。