精确测量1/4波片相位延迟量的新方法

提出了一种精确测量1/4波片相位延迟量的新方法。测量光路由激光器、起偏器、被测1/4波片、光弹调制器、检偏器和光电探测器构成。起偏器和检偏器的透光轴相互垂直。被测1/4波片的快轴与光弹调制器的振动轴平行,且与起偏器和检偏器的透光轴分别成±45°夹角。准直激光束依次经过起偏器、被测1/4波片、光弹调制器和检偏器的探测光强由光电探测器接收。利用探测信号的直流分量与二次谐波分量精确计算出被测1/4波片的相位延迟量。实验验证了这种测量方法的有效性,改变初始光强过程中相位延迟量测量结果的复现性为0.012°,检偏器、被测1/4波片的方位角变化1°的过程中相位延迟量测量结果的复现性为0.008°。     

基于相位调制和样品摆动的1/4波片相位延迟量测量方法

提出一种基于相位调制和样品摆动的1/4波片相位延迟量测量方法。准直激光束依次通过起偏器、相位调制器、待测1/4波片和检偏器由光电探测器所接收,光信号被转换成电信号后经过放大、滤波以进行数据处理。利用待测1/4波片的摆动可以计算得到与快轴方位角无关的归一化二次谐波分量,在无需知道1/4波片快轴方位角的情况下得到其相位延迟量。实验中对一块石英1/4波片进行了测量,实验结果与现有快轴方向确定条件下的光弹调制测量方法的测量结果一致,某一快轴方位角上多次测量的重复性为0.13°,不同快轴方位角上多次测量的再现性为0.17°。     

测量波片相位延迟量的新方法

提出了利用平面光波两次通过待测波片对其相位变化进行补偿来实现波片相位延迟量测量的新方法.利用MATLAB编程进行仿真计算,拟合了检测量接收光强的对比度与波片相位延迟量间的函数关系,拟合精度为10-4;建立了实验系统,实验验证了该测量方法是可行的,波片相位延迟量的重复测量精度为0.0020°.     

半阴法测量λ／4波片的相位延迟

本文介绍了测量λ／４波片的半阴方法，并利用透过波片的透射光强度导出待测波片相位延迟到计算公式，分析了起偏器最佳位置的确定方法。     

分束探测法测量波片的相位延迟

本文给出了一种新的光电探测方法测量任意波片相位延迟的理论及实验方法。可应用于近红外、可见及紫外区域。特别使用于λ/2和λ/4波片的相位延迟的测量,实验精度可达0.2％。     

复合消色差1/4波片的再研究

由出射光与入射光的琼斯矢量变化,用矩阵方法得到了一种计算复合1/4波片的消色差能力的理论公式。并用实例说明了其可行性和使用方法。     

复合补偿法测量波片的相位延迟

利用波片的复合理论，采用任意波片作补偿，最小光强跟踪调节的方法来测量待测试片的相位延迟量，精度优于０．５°。     

晶体相位延迟测量的λ/4波片法及理论研究

通过两束平面偏振光的合成推导出椭偏测量的理论基础,并由此得出用λ/4波片测晶体的相位延迟时器件的设置及方法。     

自校准法测量波片相位延迟

在旋转补偿器椭偏仪(RCE)的基础上,提出了一种自校准的波片相位延迟测量方法。该方法将补偿器的相位延迟作为未知参数,根据Mueller矩阵理论建立了4个非线性方程,求解得到待测波片的相位延迟;实现了补偿器相位延迟的自校准,消除了其定标不准确带来的系统误差,尤其适用于多个波长的波片延迟测量。在此基础上建立了一套波片延迟测量系统,并分析和模拟了各种主要的误差源对系统测量精度的影响。结果表明,对于任意延迟的波片,测量系统最大的系统误差和随机误差分别为0.036°和0.040°。此外,使用该方法分别测量了λ/4波片、λ/2波片、127°波片和空气(不放入任何样品)在波长517.3、525.0、532.4nm处的相位延迟以评估测量系统的性能,其中空气的相位延迟代表测量系统的测量精度,与模拟结果基本一致。     

移相法测量波片的相位延迟量

在分析波片测量方法优缺点的基础上,借助于波片的一般琼斯矩阵公式,推导出可以测量各种波片的通用测量原理公式,提出一种新的基于移相法原理测量波片相位延迟量的方法。在波片测量时,无需被测波片的光轴和补偿片的光轴成45°要求,即不必知道波片的具体快慢光轴方位,只要将波片平行放入。该方法可以测量多种波片。测量装置采用了步进电机带动检偏器旋转,运用光栅编码器测角装置测量检偏器的转动角度,使用光电探测器采集检偏器在四个方位角度的光强值,根据移相算法得出波片的相位延迟角。该方法测量周期短,是一种方便快捷的方法。     

四分之一波片的制备

本文叙述一种四分之一波片的制备方法。     

空间调制线偏振光谱测量的波片延迟误差校正

基于四分之一波片-复合双折射光楔-偏振片的空间偏振调制结构,提出了四光束校正方法,对四分之一波片延迟量误差进行校正,从而达到提高线偏振测量精度的目的;利用计算机仿真手段,研究了待测目标圆偏振参量变化时,线偏振参量测量结果的变化情况以及相应的测量精度水平。仿真结果表明:当待测目标的线偏振度、圆偏振度分别在0.1~0.2、0~0.2随机波动时,延迟校正后的斯托克斯参量Qi、Ui以及线偏振度的测量精度优于10-3,Ui以及线偏振度的测量精度比延迟校正前提高了约14倍。     

旋转波片法在低应力测量中的应用

本文提出用旋转λ/2波片和分析片来代替转动物体的新方法,解决了用电光调制法测定某些物体低应力值时,物体很难转动的难题.     

New method of resistance measurement

A new method of resistance measurement is reported. A transistor-resistor negative-resistance device has been used for resistance measurements in the range 103?107 ?, with an accuracy within ± 1%. The performance of this new method is compared the with conventional 4-point voltmeter-ammeter method.     

New method for complex permittivity measurement of dielectric materials

A novel technique for the measurement of dielectric properties of a homogeneous isotropic material is described. An accuracy better than 1% can be obtained on the permittivity and loss tangent values. The structure used is a cylindrical metallic cavity, carrying at its centre the circular cylindrical dielectric sample. The complex permittivity is deduced from the comparison between the experimental and the computed electromagnetic characteristics (frequencies, quality factors) of the resonant TE01? mode of the dielectric resonator.     

New measurement method of Gunn-diode impedance

Using a suitably designed cavity, the negative conductance of X band Gunn diodes is derived from oscillation buildup characteristics when a steep bias voltage step is applied. By this method, a quick assessment of the diode negative conductance as a function of r.f. voltage amplitudes can be made.     

New de-embedding method for millimetre-wave bipolar transistor S-parameter measurement

An improved de-embedding method is used to measure the intrinsic HBT S parameters to millimetre wave frequencies. Standard twelve-error element models and dummy pads with resistors as calibration standards are used. This new method correctly reveals the effect from the extra delay time, parasitic capacitance, and parasitic inductance introduced by the layout and enables the performance at millimetre-wave frequencies to be accurately predicted.<>     

多端口散射参数测量的一种新方法

本文对利用双端口矢量网络分析仪（VNA）进行多端口网络散射参数测试的问题进行了研究。通过网络参数矩阵的归一化、反归一化变换以及基于不同接入阻抗下网络散射参数矩阵之间的关系,对测试参数进行校正,解决了接入阻抗反射系数的精度带来的测试误差问题,提高了这类测试方法的测试精度。     

激光测量大尺寸物体直线度的新方法

介绍一种激光测量大尺寸物体直线度的新方法。此方法优点在于测量精度并不取决于激光束的直线度及激光器本身的稳定性。用它可测数十米物体的直线度,使用粗光栅即可容易地达到微米以下的精度。