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复杂结构的损耗因子和耦合损耗因子的测量方法 总被引:15,自引:0,他引:15
本文介绍利用测量结构振动能量比,测量组装结构的损耗因子和耦合损耗因子的方法。这种方法既适合于保守耦合结构,也适合于非保守耦合结构。这种方法的优点是同时可测量得到结构损耗因子、耦合损耗因子和间接耦合损耗因子,而不需要知道各子结构的模态密度。耦合损耗因子不仅包括共振传输而且也包含低频的非共振传输的影响。利用这种方法测量了转动机械系统的损耗因子和耦合损耗因子并用修正的统计能量分析平衡方程预测了结构振动响应。然后与实测的结构振动平均响应比较,一致性非常好。 相似文献
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本文利用保守和非保守耦合系统的统计能量分析原理,针对平板-边框耦合系统的具体结构形式,分别建立了两子系统和五子系统SEA模型,重点研究了这两个分析模型之间的能量关系,从而使得复杂耦合系统的保守和非保守耦合损耗因子可以由与其相似的简单耦合系统推算出来。理论分析和实验研究的结果表明,平板到边框的保守耦合损耗因子为平板到梁的耦合损耗因子的4倍,非保守耦合损耗因子在计入与耦合阻尼相关的等效比例系数后也可得到相似的定量关系。理论分析结果与实验结果良好的一致性证明了本文研究方法的可行性与研究结果的可靠性。 相似文献
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相关激励形式下保守和非保守耦合振子的能量分布与功率流 总被引:1,自引:0,他引:1
作为相关输入形式下保守或非保守耦合系统统计能量分析的基础,本文主要研究耦合振子在比例相关输入条件下的能量分布与功率流.在推导了相关输入条件下耦合振子间的功率流与振子能量的基本关系式和功率平衡方程式及振子能量比的表达式之后,本文分别详细讨论了保守耦合振子和非保守耦合振子系统的能量分布和功率流问题,并与互不相关输入时耦合振子的能量分布与功率流的特点进行了比较,对于各种耦合阻尼情况下的振子能量分布与功率流也进行了数值计算,研究结果表明,相关输入下耦合振子的能量分布与功率流的特征与互不相关输入时的特征有着显著的差别. 相似文献
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本文提出了一种新的耦合损耗因子测量方法:声强法。声强法利用结构声强技术测量的耦合处功率流计算耦会损耗因子。严格地说,声强法是一种近似测量方法。本文以三种常见的典型耦合结构为例,实验证明了在大多数情况下,声强法的近似误差很小,可以略去不计;声强法测量的耦合损耗因子与传统的能级差法测量的耦合损耗因子是“相等”的,它们都具有“相同”的测量精度。声强法与能级差法是“等效”的耦会损耗因子测量方法。 相似文献
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法诺共振是物理体系中普遍存在的一种非对称共振现象,它最早起源于量子物理,其微观图像是原子谱线中窄的分离态与宽的连续态之间的相干干涉.本文利用经典力学体系中两个弹簧振子的耦合,使其中一个弹簧振子受到周期性外力的驱动,成功类比了量子力学中的法诺共振现象.通过分析每个弹簧振子的动力学方程,严格求解它们的振动公式,从而得到每个弹簧振子的振幅和位相与外部驱动力频率之间的关系.结果表明,耦合体系中受外力驱动的那个弹簧振子既可以发生非对称的法诺共振,又可以发生对称的洛仑兹共振,而另一个弹簧振子只能发生洛仑兹共振.本文的推导与分析能够使读者更好地理解法诺共振现象及其激发条件. 相似文献
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运用化学Langevin方程 ,数值研究了内噪声对单个和单向耦合自催化三分子模型动力学行为的影响 .研究发现 ,对于单个振子体系 ,内噪声可以诱导持续振荡 ,而且随着系统尺度的增大 ,信噪比经过一个极大值 ,从而证明了内噪声随机共振和最佳尺度效应的存在 ;对于单向耦合系统 ,信噪比还随耦合强度的变化而经过极大值 .此外 ,边界条件对耦合体系的内噪声随机共振行为有很大影响 ,非零流条件下 ,耦合可以增强内噪声随机共振 ,而零流条件下 ,耦合会抑制随机共振 ;当耦合强度适宜时 ,每个振子发生随机共振时的尺度几乎相同 ,表明最佳体系尺度和耦合强度有助于体系达到最佳的化学反应状态 . 相似文献
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传统的统计能量分析(SEA)理论不能解决非保守耦合系统的能量分析问题。本文在非保守耦合振子的能量分布与功率流特征的研究基础上,推导了互不相关随机激励条件下非保守耦合系统的功率平衡方程式及各有关功率项的计算式,建立了非保守耦合系统的统计能量分析理论。研究结果表明,保守耦合仅是非保守耦合的一个特例,耦合阻尼对非保守耦合系统的能量分布和功率流的特征有着显著的影响,只有在耦合阻尼远小于系统内阻尼时这种影响才可近似忽略。作为理论的一个应用实例,本文对非保守耦合板的能量问题进行了理论和实验研究。 相似文献
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利用亥姆霍兹方程和有限差分法,给出一种用于分析聚合物SU-8填充的双狭缝波导定向耦合特性的数值方法,推导出双耦合狭缝波导模式特性的特征方程,并做了离散化和稀疏化处理,得到耦合波导的模式场分布和有效折射率.通过求解最高阶偶对称和最高阶奇对称模式的有效折射率,得到TE和TM偏振态下定向耦合器的耦合长度.数值分析结果表明,当耦合间距小于800nm时,耦合长度小于100μm.利用椭偏仪测得狭缝波导各层材料的光学参数随工作波长的色散关系,研究分析了双狭缝波导耦合长度和模式损耗的色散特性.分析显示,随着工作波长的增大,两种偏振模式下的耦合长度均减小,且TM模式下的耦合长度大于TE模式下的耦合长度,当工作波长为1 550nm时,二者分别为28.2和26.2μm(两狭缝波导间的耦合间距为0.5μm时).同时,模式损耗也随波长的增大而减小,且TE模式损耗大于TM模式损耗,当工作波长为1 550nm时,TE及TM模式的振幅衰减系数分别为5.65和3.16dB/cm. 相似文献