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分析大学物理教学中的微积分思想方法及其一些重要概念,说明了用微积分解决物理问题的一般步骤,以及如何选取微元及在微元内如何建模,并举例说明了利用微积分的知识解决几类较为重要的物理问题. 相似文献
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随着新课改的深入发展,新的教育理念更加注重对学生各种能力的培养,尤其在高中物理教学中还应注重对学生物理思想方法的渗透.其中“微元”思想渗透于一些物理概念、公式中.近年来“微元法”在高考物理压卷题中频频应用,这既说明这种方法的重要性,也体现了新课程理念的要求.但许多学生对此感到困惑,无从下手.对此,下面就“微元法”谈谈在一些物理问题中的具体应用和做法. 相似文献
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通过一个具体的实例,给读者详细介绍了如何基于力的冲量的定义直接计算洛伦兹力冲量的两种方法:微元累加法和复数法.熟练地掌握数学工具,有助于拓展学生多样化求解高中物理问题的思路.同时,也能让中学物理教师体会到,在日常教学中将中学数学教学和物理教学相结合的必要性. 相似文献
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定积分是研究物理问题的重要数学方法,其本质是连续函数的求和.在高中物理教学中适当地渗透定积分“分割、建立微元、求和”的思想方法,有助于学生对物理概念的准确理解和辨析,有助于提升学生运用数学知识处理物理问题的能力以及拓展思维空间.本文以变力做功、力的两种平均值、交流电的有效值等问题为例,介绍定积分在高中物理中的应用. 相似文献
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无网格方法根据分布于近邻空间各个方向的微元体物理信息构造离散方程,显著降低了空间导数计算对微元体本身及微元体之间拓扑结构的条件限制,极大提高了拉氏方法的大变形计算能力.由于不能利用微元体的完备几何信息,不容易构造符合物理的无网格算法,对那些物理参数存在间断的模型对象,难以获得稳定和准确的计算结果.本文基于对物理规律及数值模拟发展趋势的分析,提出符合物理且具有强普适性的无网格方法体系.基于该方法的一维算例表明,即使物理参数存在强烈间断,数值结果也能很好地逼近问题的真解. 相似文献
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1简述微元法处理物理问题时,从对事物的极小部分分析入手,达到解决事物整体的方法,叫做微元法.微元法的灵魂是无限分割与逼近.用微元法解决物理问题的特点是"大处着眼,小处着手",对事物作整体观察后,必须取出该事件的某一个小单元即微元进行分析,通过对微元构造"低细节"的物理描述,最终解决整体问题.微元法解决物理问题的两要诀就是取微元——无限分割以及对微元做低细节描述——逼近.对物理问题的无限分割,可以分割一段时间或 相似文献
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学生从单个质点的牛顿力学的学习,到连续介质(流体介质、电荷介质等)问题的求解过程中,研究对象的确定从一个具体质点跃迁到无数个抽象的质点所组成的连续介质,学生解决问题时的思维也将同时上升一个台阶.为跨越这个台阶,笔者首先从思维上稚化以贴近学生的实际;其次在具体的教学行为上注重微元柱体法的教学,以突破连续介质问题的求解. 相似文献
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在处理物理问题时,从对事物的极小部分(微元)的分析入手,达到解决事物整体问题的方法,叫作微元法.微元法在近几年物理高考中崭露头角,体现出它独特的解题魅力,并逐渐为广大高中教师所重视.2013年高考全国理综新课标卷Ⅰ与高考天津卷的压轴题,都运用了微元思想.笔者以这两道题为例,剖析微元法之妙用,以期 相似文献
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SUN Xue-peng ZHANG Xiao-yun SHAO Shang-kun WANG Ya-bing LI Hui-quan SUN Tian-xi 《光谱学与光谱分析》2021,41(11):3493-3497
共聚焦X射线荧光技术是一种无损的三维光谱分析技术,在材料,生物,矿物样品分析,考古,证物溯源等领域具有广泛应用。共聚焦X射线荧光谱仪的核心部件为两个多毛细管X光透镜。一个为多毛细管X光会聚透镜(PFXRL),其存在一后焦点,作用是把X光管所发出的发散X射线会聚成几十微米大小的高增益焦斑。另一透镜为多毛细管X光平行束透镜(PPXRL),其存在一几十微米大小前焦点,置于X射线能量探测器前端,其作用是接收特定区域的X射线荧光信号。在共聚焦X射线荧光谱仪中,PFXRL的后焦点与PPXRL的前焦点重合,所形成的区域称作探测微元。只有置于探测微元区域的样品能够被谱仪检测到,使样品与探测微元相对移动,逐点扫描,便能够对样品进行三维无损的X射线分析。探测微元的尺寸决定共聚焦X射线荧光谱仪的空间分辨率,因此精确测量谱仪的探测微元的尺寸是非常重要的。如图1所示,谱仪探测微元可以近似为椭球体,其尺寸可以用水平方向分辨率X, Y,和深度分辨率Z表示。目前,常采用金属细丝或金属薄膜通过刀口扫描的方法测量谱仪探测微元尺寸。为了精确的从三个维度测量探测微元尺寸,金属细丝直径要小于探测微元尺寸。金属细丝和探测微元都是数十微米级别的尺寸大小,很难把金属靠近探测微元。为了得到探测微元在不同X射线能量下尺寸变化曲线,要采用多种金属细丝测量。采用单个金属细丝依次测量比较耗费时间。采用金属薄膜可以很方便地测量探测微元的深度分辨率Z,但是当测量水平分辨率X, Y时,难以准确测量。为了解决以上谱仪探测微元测量中存在的问题,本文提出采用多种金属丝平行粘贴在硬纸片上作为样品用于快速测量探测微元尺寸。附有金属细丝的硬纸片靠近谱仪探测微元,可以将探测微元置于硬纸片所在平面。由于硬纸片与金属细丝在同一水平面,在谱仪摄像头的协助下,可以把金属细丝迅速的靠近探测微元。靠近探测微元后,在全自动三维样品台的协助下,金属细丝沿两个方向对探测微元分别进行一次二维扫描。通过对二维扫描数据的处理便可以获得探测微元尺寸随入射X射线能量变化曲线。采用此方法对实验室所搭建的共聚焦X射线荧光谱仪的探测微元进行了测量。 相似文献
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1 引言 初学大学物理的学生们大多苦于如何把已学过的高等数学与物理问题联系起来,结果造成了理论不能与实际相结合的现象.本文用求解万有引力大小的三个例子说明高等数学中微元的概念在物理中的应用,希望能起到抛砖引玉的作用. 相似文献