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晶体三极管简称晶体管或三极管,是一种具有两个PN结的半导体器件。晶体三极管的最大特点是具有电流放大及控制作用,它是在电子线路中被广泛使用的重要电流控制型器件。利用晶体三极管的特性,可以组成放大、振荡、开关等各种功能的电子电路。 相似文献
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和晶体二极管一样,晶体三极管的电流与电压关系(特性曲线)也是非线性的。但是三极管有三个电极,因而有两种特性曲线:输入特性曲线和输出特性曲线。一、输入特性曲线晶体三极管的输入特性曲线,是在集电极发射极电压V_(CE)固定的条件下,测出的基极发射极电压V_(BE)与基极电流I_B的关系曲线,如图1所示。这是3DG4A(NPN型硅管)的实际输入特性曲线。V_(CE)=0V的输入特性,也就是将集电极与发 相似文献
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三极管在使用时必须经过检测。三极管的测试,当然最好使用晶体管图示仪,但在业余情况下,常使用万用表来简单估测三极管。本文介绍业余条件下判别三极管的极性和性能的方法。一、三极管管脚极性的识别与判断1.根据管脚排列识别目前,三极管的种类很多,封装形式不一,管脚排列也有多种 相似文献
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晶体三极管,是半导体基本元器件之一,具有电流放大作用,是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体基片上制作两个相距很近的PN结,两个PN结把整块半导体分成三部分,中间部分是基区,两侧部分是发射区和集电区,排列方式有PNP和NPN两种。从外表上看两个N区(或两个P区)是对称的,实际上发射区的掺杂浓度大,集电区掺杂浓度低,且集电结面积大,基区要制造得很薄,厚度约在几个微米至几十个微米。如图1从三个区引出相应的电极,分别为 相似文献
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本系统依据三极管的工作特性,借助了可调电阻和模拟开关的结合,设计了一种三极管非线性放大失真研究装置.利用了STM32单片机的编程与数据处理能力,完成了对电路的控制和数据分析.研究了三极管放大电路多种失真的现象,分析每种失真的原因和正常放大的条件,实现了控制、测量、分析的一体化,并将失真波形与其THD值直观地展示.该装置... 相似文献
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阐述了三极管放大电路重理论分析,轻参数调整和参数设计,本文以共发射极分压式静态工作点稳定电路为例介绍一种三极管电路快速设计的原理、方法和步骤,利用软件仿真进行参数调整,经测试放大电路参数优良、工作稳定、方法简单方便、可操作性强,得到广泛应用。 相似文献
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晶体三极管的特性除用特性曲线表示外,还可以用相关参数来表示,在很多应用领域,用参数来表示管子的性能更方便、更明确。这里只介绍它的主要参数。一、直流参数直流参数表示晶体三极管在直流电压与直流电流作用下的性能。(1)集电结反向饱和电流I_(CBO):它是发射极开路,集电结加反向电压时流过集电极与基极的电流。这个电流一般很小,在室温下小功率锗管的I_(CBO)约为几微安到几十微安,小功率硅管在1μA以下,但大功率锗管可达几百微安,硅管的I_(CBO)比 相似文献
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无论哪种类型的三极管,电流放大倍数(“β”或“α”)都是一个主要参数,要想获得优良的放大倍数,往往采取很多措施仍然满足不了要求.在设备和工艺卫生条件比较差的情况下,放大倍数均匀性的问题更是难以解决,尤其是大功率晶体管,问题更多,更复杂.一、基区宽度及杂质浓度对电流放大倍数的影响根据晶体管的工作原理和管子内部载流子的流通情况,电流放大倍数“α”和“β”有如下的近似表达式: 相似文献
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文章对某晶体管厂寻找三个不同放大倍数范围的三极管芯片的七次供货中的相关数据进行了分析,提出了大功率三极管芯片在检测中应注意的问题,并对三极管芯片放大倍数在电老化试验前后的变化率进行了简单分析. 相似文献
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<正> [例5] 故障现象 一台春风IC44-4型17英寸黑白电视机,通电开机后图像模糊,且上下跳动,调整场频电位器也不起作用。在图像上下跳动时,伴音也受干扰。将高频头调至空频道上,光栅也同样跳动。上述故障与开机次数、开机时间长短均无关系,有时突然出现,有时又突然消失,但故障存在的时间要比正常工作的时间长得多。 分析与维修 从有或无图像信号时光栅均会上下跳动,且调整场同步电位器也不起作用这一现象来看,此故障要从场扫描电路入手查起。相关电路如图5所示。用万用表测场扫描集成块μPC1031H2的场扫描信号输出端①脚(即OTL 相似文献
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一般电子技术教材认为,在单级共发射极放大电路中,改变三极管的β值对电压放大倍数的影响不明显。即当增大(或减小)β值时,在静态发射极电流IE不变的情况下,电压放大倍数不会明显增大(或减小)。然而IE能否保持不变?与哪些因素有关?若IE发生了改变结果又会怎样?这些问题一般教材均未给予讨论。这些问题不讨论清楚,很容易在分析电路时出现错误。对以上问题进行了分析讨论并运用实验方法加以验证,最终得出明确结论。 相似文献
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本文通过"模拟电子技术实验"中一个典型的三极管放大电路,测量了电路参数。笔者从实验的角度探讨了将三极管发射极与集电极反接时电路的状态,并从三极管的内部结构入手,从理论角度分析了实验结果。通过这个实例的实践与分析讨论,我们可以更加深入理解三极管的工作原理,掌握三极管在实际电路中的使用方法。 相似文献
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如今使用晶体管图示仪对半导体三极管放大倍数进行测试的原始方案已经逐步淘汰,取而代之的是自动化较高的各种分立器件测试系统。阐述了影响测量放大倍数的因素和相关的解决方案。介绍了一种用于分立器件测试系统中的半导体三极管放大倍数脉冲测试方法,即软件调控方法。该方法是在普通的软件闭环方法的基础上引进了脉冲方案,采用了CPU控制的脉冲技术对三极管放大倍数进行间断式测量。这种软件调控的方法通过实验进行了验证,结果表明该方法符合相关测试标准,所测放大倍数与DTS-1000测量结果相差不超过±3%。 相似文献