稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究Ⅱ.钐基体对其他稀土元素的光谱干扰

稀土元素在当今生产、生活中具有极重要的地位，由于稀土元素的原子发射光谱极为复杂，因此光谱干扰给稀土元素的原子发射光谱分析带来极大的困难。本工作利用高分辨率ＩＣＰ－ＡＥＳ仪器详细研究了Ｓｍ基体对其他稀土元素重要分析线的光谱干扰，获得了大量的光谱及光谱干扰信息，为以稀土为基体的痕量稀土分析线的选择及光谱分析提供了依据     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP—AES研究…

稀土元素在当今生产、生活中具有极重要的地位，由于稀土元素的原子发射光谱极为复杂，因此光谱干扰给稀土元素的原子发射光谱分析带来极大的困难。本工作利用高分辨率ＩＣＰ－ＡＥＳ仪器详细研究了Ｓｍ基体对其他稀土元素分析线的光谱干扰，获得了大量的光谱及光谱干扰信息，为以稀土为基体的痕量稀土分析线的选择及光谱分析提供了依据。     

卡尔曼滤波ICP－AES法分析稀土元素及其对光谱干扰的校正

本文以卡尔曼（Ｋａｌｍａｎ）滤波ＩＣＰ－ＡＥＳ法进行稀土元素分析，并研究了卡尔曼滤波对其光谱干扰的校正，以及富线基体元素对待测元素、待测元素之间的影响，考察了该方法的检出限、精密度和准确度以及影响滤波的因素。结果表明，该法能有效地消除和校正光谱干扰，减少对分析谱线的选择，改善分析的检出限，分析速度快，结果准确可靠，可适合各种稀土试样（高纯稀土、混合稀土）的日常分析。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用 Ⅰ．测定高纯氧化铥中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铥中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用──Ⅱ．测定高纯氧化铕中的14种稀土杂质

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铕中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用…

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铥中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎｉ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种大大量基体存在下测定痕量杂质的有效方法。     

Kalman滤波法在电感耦合等离子体原子发射光谱分析中的应用…

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱分析Ｋａｌｍａｎ滤波法测定高纯氧化铕中的１４种其他稀土杂质的方法。Ｋａｌｍａｎ滤波法有效地消除光谱干扰，可利用受干扰的光谱灵敏线，因而可提高灵敏度，是一种在大量基体存在下测量痕量杂质的有产方法。     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP-AES研究——Ⅵ.镧、铽、钬、铒基体对其他稀土元素的光谱干扰

利用光栅刻线为3600条／mm的高分辨率时序扫描式ICP－AES光谱仪研究镧(La）、铽（Tb）、钬（Ho)、铒（Er)基体分别对其他14个稀土元素共65条“首选分析线”的光谱干扰情况,获得了相应的光谱干扰轮廓和稀土光谱干扰信息,为选择在该4种稀土基体中的其他稀土元素ICP－AES最佳分析线提供了参考。     

ICP-AES测定Nd-Pr合金中的杂质元素

用ICP－AES同时测定了Nd-Pr合金中的Dy、Gd、La、Sm、Ce等5种稀土杂质元素，并研究了基体元素Nd及主量元素Pr对杂质元素的光谱干扰，选择了合适的分析线，用基体匹配法对存在的背景干扰进行了校正。方法的检出限为0．009－0．044μg/mL；回收率为90％－103％。该方法准确可靠、简便快速。     

高纯氧化钇中镧、铈、钐、铝、铅和铜的电感耦合等离子体原子发射光谱法测定

本文以纯Y_2O_3中杂质元素的ICP-AES测定为例,研究用数值微分技术解决光谱干扰同题。结果表明,导数光谱法不仅可以有效地消除来自基体的光谱干扰,还能减小谱线干扰对检测能力的影响。当分析物浓度较低时,导数光谱法的加入回收率明显优于离峰分析法,多数情况下也优于在峰法校正光谱干扰时的回收率。     

发射光谱测定微量稀土杂质用的一种新的载体KBH4的研究

介绍了高纯稀土氧化物中微量稀土杂质的光谱测定方法，本工作用碳粉做缓冲剂，ＫＢＨ４做载体，用化学方法将大量稀土分离掉，而后对余下微量和稀土杂质进行光谱测定。只要取样量不少于１克，则可测定的纯度为９９．９９９９５％的稀土样品。     

高纯金属镨中痕量稀土杂质的电感耦合等离子体原子发射光谱分析及光谱干扰的校正

本文提出了PGS-2型平面光栅光谱仪(色散率0.18纳米,二级光谱)与PlasmaTherm ICP-5000D射频发生器联用,乙醇预去溶方式进样,同时直接测定高纯金属镨中5个痕量稀土杂质元素的方法。并讨论了基体浓度对检出限的影响以及光谱干扰及其校正方法。当样品溶液中镨的浓度为5毫克/毫升时,测定下限分别为镧、钕和钐0.002%,铈0.003%和钇0.0005%。获得了良好的实验结果,其相对标准偏差为1.2-6.2%。     

高纯金属铈的ICP—AES分析和稀土元素间的光谱干扰及其校正

本文采用乙醇预去溶方式进样,ICP-AES直接同时测定了>99.99%的高纯金属铈中5个痕量稀土杂质元素,并讨论了基体量对检测限的影响,稀土元素间的光谱干扰及其校正方法等。当样品溶液中铈的浓度为5mg/ml时,铈中稀土杂质元素的测定下限为:镧、钕和钇0.001%,镨和钐0.003%。其相对标准偏差为1.9～6.4%。     

基体分离-电感耦合等离子体发射光谱法测定赤泥中的稀土氧化物

从赤泥中提取稀土金属,开发高附加值产品,对保护环境特别是提高矿产资源的综合利用率以及实现可持续发展有着重要的意义。赤泥中的稀土元素含量较低(0.001 0%～0.050%),且存在大量的铝和铁等基体元素,如何掩蔽基体元素对稀土元素的干扰是准确定量的关键。传统酸溶法会造成部分元素消解不完全,难以准确定量,回收率低,碱熔法则会由于引入大量的碱熔剂造成严重的基体干扰,同时还会堵塞雾化器。采用氢氧化钠熔融赤泥,熔融物用热水浸取,三乙醇胺溶液掩蔽铝和铁,乙二胺四乙酸二钠溶液络合钙、镁等干扰元素,稀土氢氧化物留存于沉淀中,沉淀经盐酸溶解进入待测液,从而将稀土元素与熔剂和基体元素分离。实验结果表明：标准溶液无需基体匹配,各稀土氧化物校准曲线的线性相关系数均不小于0.999 9,检出限在0.000 2%～0.001 5%之间;按照实验方法分析实际样品中稀土氧化物的含量,测定结果的相对标准偏差(RSD,n=6)为2.5%～7.2%,回收率为85.0%～105.0%;本方法与电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)相比,两种方法的测定结果无显著性差异。ICP-OES实现了赤泥中稀土氧化物的同时测定,为今后分...     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP—AES研究： …

本文是系列工作的第四部分。利用光栅刻线为３６００条／ｍｍ的顺序扫描高分辨率ＩＣＰ－ＡＥＳ光谱仪研究了铕和钆分别作为基体时对其他１４个元素共６６条“首选分析线”的光谱干扰情况,获得了相应的光谱干扰轮廓和其他光谱干扰信息,为选择不同稀土基体中的稀土元素最佳分析线提供了有益的参考依据。     

基于矩阵分析的STR荧光解谱技术

用多种荧光标记物进行STR检测时,由于荧光光谱的谱带展宽特性,各个荧光光谱之间有重叠部分,如何实现将相互重叠的各个波长上的能量有效利用起来,对提高荧光利用效率至关重要。本文给出了一种基于矩阵分析的数据处理方法,该方法在进行荧光探测前首先要对荧光谱进行光谱校正,即要得到每种所用标记染料受激发射荧光的光谱分布,根据光谱分布建立染料组合荧光信号矩阵,然后对矩阵进行归一,利用归一后的矩阵对所探测的荧光谱进行解谱,从而得到所期望的荧光谱图。理论分析和实验结果表明,该方法可以有效的利用各个波长的荧光光谱能量,并实现对不同荧光重叠谱的有效光谱解谱。     

ICP-AES法测定高纯氧化铕中微量稀土和非稀土杂质时光谱干扰的消除及分析条件的优化

本文提出了ＩＣＰ－ＡＥＳ直接同时测定高纯氧化铕中１４个稀土和２０个非稀土杂质元素的分析方法。着重考察了铕基体对分析元素的基体效应，谱线干扰及背景影响等情况。用标准加入法测出氧化铕基准中的微量杂质元素，消除了由于忽略基准中的杂质元素的含量给分析测定带来的误差。同时对仪器的工作条件进行了优化。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铈中11个稀土杂质的研究

报道了用电感耦合等离子体质谱法（ＩＣＰ－ＭＳ）测定高纯氧化铈１１个痕量稀土杂质的方法。分析讨论了氧化铈对测定元素所产生的谱干扰和基体效应，考察了Ｔｌ，Ｇａ，Ｃｓ，Ｉｎ等内标补偿基本抑制效应的作用，用此方法测定１１个稀土杂质的检出限为０．０１７－０．４０ｎｇ／ｍＬ，精密度（ＲＳＤ）为２．６％－８．２％，加标回收率为９６．７％－１０７．９％，分析时，不需要预分离和富集，酸溶后可以直接测定。