镜面散射光干涉条纹的观察与分析

普通镜面的散射光干涉是一个极易观察、且富有启发性的现象．本文对干涉条纹的生成、条纹方程、条纹形状及其与观察条件的关系进行了比较完整的分析与讨论．     

杨氏干涉双曲线条纹的实验观察

杨氏双孔干涉实验是物理光学史中著名的实验．其意义在于有力地证明了光的波动性，并首先在应用方面完成了对光波波长的测量．我们结合物理实验教学，设计一简易的实验装置，不仅可以观测杨氏双孔所产生的直线条纹，也可以观测到在非近轴条件下的双曲线条纹．一、原理杨庄四刀立验县中分钟降而技得相干件而实现干涉的实验．如图1所示，点光源S发出球面波，被两小孔S；和S。（S；和S。相距很近，且到S等距）由同一波阵面分割出的相干光，在屏上P（x，y，z）点相遇，则光程差j为消去式中根号，化简便得到等光程差面的方程（2）式表明等光程…     

干涉条纹分析的空间扫描方法

本文讨论在垂直载频条纹方向进行空间扫描方法,以干涉图来确定波前的形状,精度约为(λ/50)的标准误差.     

劈尖干涉中斜干涉条纹的测量

劈尖干涉中斜干涉条纹的测量王雪冬，王红理，刘平（西安交通大学物理系７１００４９）在等厚于涉实验中，所使用的劈尖干涉装置是由两块平面国玻璃板或长方形平面玻璃板中间夹一全属箔条，同时为了固定金属箔条及防止平面玻璃的脱落而损坏，用螺旬将其固紧在胶木圈内．根...     

薄膜干涉条纹的可见度

在一级近似条件下，导出薄膜干涉条纹的可见度公式，人条纹可见度的角度定量分析干涉定域问题，直观地给出定域中心、定域深度随扩展光源、薄膜的劈尖角和厚度变化的规律．     

薄膜干涉条纹定域的确定

薄膜干涉条纹定域的确定，文献［１］～［４］等已有讨论．其中［４］较简单直观。本文在直角坐标系中推出定域中心曲面方程，作适当近似与文献［１］、［４］的结果相同，并在此基础上对条纹定域深度进行了讨论     

关于杨氏干涉条纹的讨论

阐述了杨氏干涉实验中，理论上应该看到明暗相间双曲线条纹，而实际上，在实验室中看到的是明暗相间直线条纹。     

点光源劈尖干涉的条纹分布特征

在有限远的点光源照射下,导出了劈尖干涉的明、暗纹条件,通过Matlab软件,用数值分析方法给出了劈尖表面条纹分布特征,讨论了光源距离对表面条纹分布的影响.     

提高干涉条纹清晰度的条件

分析了在满足干涉三条件后,提高两束光干涉条纹清晰度的条件.     

干涉条纹移动的偏振法

本文根据二个椭圆偏振光场进行的理论分析,着重讨论了两个相互正交的圆偏振光(左旋和右旋〕场和一个椭圆偏振光与线偏振光场的特点,以此为基础讨论了干涉条纹移动的偏振法。     

新型干涉条纹计数器的设计与应用

针对用迈克尔逊干涉仪测量激光波长实验需要人工记录干涉环改变数量问题,研制一种干涉条纹自动计数器。该计数器不仅能显示干涉条纹改变数量,还能显示不同光强对应信号强度。同时,准确度高、操作简便,能在不同背景光强环境和光源光强条件下使用。     

干涉条纹的数据拟合方法

如何对干涉条纹数据进行有效地拟合,直接关系到条纹的定位精度以及待测量的检测精度。分析了上前使用的多项式最小二乘拟合法的局限法,提出了一种基于条纹特征的分步拟合新方法。该法避免了非线性拟合问题,其仿真拟合度优于９９．９９％,实验拟合度优于９７．２４％,可有产地对干涉条纹进行实时拟合,并可满意地得到整个序列的拟合曲线。     

关于双光束干涉条纹形状的讨论

用分波阵面法获得干涉条纹,以杨氏双缝干涉实验为代表双光束干涉条纹,一般在干涉屏上得到的为平行等间隔直线条纹.关于两相干点光源形成光束间的干涉条纹,其分布规律如何,本文将对此进行讨论.     

基于点光源的迈克耳孙干涉实验条纹的机理分析

一般国内的大学物理和大学物理实验教材都只介绍干涉圆条纹和直线干涉条纹,用迈克耳孙干涉仪可以调制出椭圆和双曲线干涉条纹;但对条纹形成的理论推导很少涉及．本文根据点光源双光束干涉理论,分析基于点光源照明的迈克耳孙干涉实验中所产生的各种可能的干涉条纹：双曲线形干涉条纹、圆形干涉纹、椭圆形干涉纹及直线形干涉纹的形成条件．本文也对等倾干涉条纹、等厚干涉条纹与既非等倾也非等厚干涉条纹的机理进行分析和比较．通过对每一种干涉图样的解析分析和比较,旨在对迈克耳孙干涉实验有更全面和更深刻的了解．     

单色点光源产生椭圆形干涉条纹的分析研究

本文主要对迈克尔孙干涉仪产生椭圆形条纹的原因进行了全面分析，从而定量得出在单色点光源状态下，椭圆形干涉条纹的长轴、短轴之间的变化关系．     

迈克尔逊干涉仪中补偿板与干涉条纹

通过分析缺失补偿板的迈克尔逊干涉仪中的附加光程差,推出干涉条纹满足的方程式,并用计算机模拟了动镜移动过程中变化的干涉条纹,与实验结果相一致.     

非定域干涉条纹的几何分析

本文绘出了非定域干涉条纹的轨迹方程，定量分析了观察屏正截和斜截时所得干涉条纹的几何形状。