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友清 《激光与光电子学进展》1998,(1):22-23
在今年4月举行的美国化学学会会议上报导,快速薄膜淀积法为制作非线性光学材料和目前难于产生的其它光学材料展示了希望。纽约州立大学J.Garvey等用激光辅助分子束淀积(LAMBD)制作了一种在氧化钛或氧化硅玻璃基质中含有有机分子的薄膜。虽然掺染料玻璃可用其它方法(如用溶凝胶法)制作,但可能会出现四坑和其它缺陷,染料分子起团或在高温处理期间分解。激光辅助分子束淀积工艺与分子束外延相似(见图)。由准分子激光器产生的248nm波长光脉冲在正常气压区使钛或硅之类靶烧熔,产生20000K的等离子体。反应性氧和等离子体相结合,高… 相似文献
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反应式脉冲激光溅射淀积AlN薄膜化学稳定性研究 总被引:2,自引:0,他引:2
就反应式脉冲激光溅射淀积制备氮化铝薄膜的过程,讨论了激光脉冲能量密度及脉冲频率对所有制备薄膜结构性能的影响,并对薄膜的化学稳定性作了比较详细的研究,结果表明,当薄膜中存在有未反应的单质铝时,薄膜的化学稳定性较差。比较而言具有高取向性,择优生长的致密AIN微晶膜的化学稳定性优于结构相对疏松的非晶膜。 相似文献
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本文简要介绍了激光蒸发淀积法制备高Tc超导薄膜的原理和实验装置,以及激光蒸发淀积技术在制备高Tc超导薄膜中的应用。 相似文献
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XIONGGang UCERKB WILLIAMSRT TANGPing LINBi-xia FUZhu-xi 《电子显微学报》2005,24(3):178-184
我们分别通过直流反应溅射及脉冲激光淀积法制备了ZnO多晶薄膜。X射线衍射结果显示出薄膜的c轴取向。原子力显微镜证实薄膜的多晶结构。两种方法制备的ZnO在光子激发下都发射较强的带边荧光。绿色荧光未被观察到。激光淀积在(001)硅表面的ZnO的发光源自“自由激子”辐射。激光淀积在(0001)氧化铝晶体表面的ZnO的发光机制则在相当宽的激发强度范围内都呈现出电子.空穴等离子体(electron-hole plasma)的复合特性。 相似文献
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脉冲准分子激光沉积Mg/Ag掺杂薄膜 总被引:1,自引:1,他引:0
基于梯度掺杂功能薄膜材料在工业应用中的需要、通过金属掺杂对新材料改性研究的需要 ,用单束激光交替作用于两相异靶材 ,制备了Mg Ag组分比为 0 .9的掺杂薄膜 相似文献
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采用能量密度为1.178×109W/cm2的XeCl准分子激光直接辐照高纯度的石墨靶,并同时采用辅助放电,在1×10-5Torr的真空环境中,于温度为80℃的Si(100)的基片上淀积出类金刚石薄膜,Raman光谱显示在1330cm-1处出现较强的散射峰值;对薄膜红外光谱进行测试,其光谱在2900cm-1处有吸收峰,表明所淀积的类金刚石薄膜含有C-H键,其H元素与C元素的比为45%.薄膜的电阻率为1.89×106Ω/cm,通过光吸收测得的该薄膜的能隙为1.55eV. 相似文献
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脉冲激光沉积法沉积类金刚石薄膜的实验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
为了研究脉冲激光沉积法中衬底温度和距离对类金刚石薄膜的影响,首先温度保持在200℃,靶和衬底间的距离分别取25.0mm和30.0mm来沉积类金刚石膜。其次温度保持在400℃,距离分别取25.0mm和30.0mm来沉积类金刚石膜。用Raman光谱仪对薄膜的微观结构进行检测,用原子力显微镜对薄膜的表面形貌进行检测。实验结果表明:距离增加或者温度升高都会导致类金刚石薄膜的密度和sp3/ sp2的比值减小,薄膜中石墨晶粒的数量增多和体积增大。近距离时温度的变化和低温时距离的变化对薄膜微观结构产生的影响更明显。距离和温度的变化对类金刚石薄膜的表面形貌也产生显著的影响。 相似文献
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The interfaces of YBa2Cu3O7−x (YBCO) superconducting thin films grown on (1 102) r-plane A12O3 by pulsed laser deposition have been investigated by a transmission electron microscopy and an Auger electron spectroscopy
depth profile. We used the PrBa2Cu3O7−x (PBCO) buffer layer to prevent the interdiffusion and compared the interfaces of YBCO/A12O3 and YBCO/PBCO/A12O3. The intermediate layer in the YBCO film deposited on bare sapphire is visible between the film and the substrate but no
boundary layer in the film grown on PBCO buffered sapphire was observed directly by the cross-section image of TEM. The thickness
of the intermediate layer in the film on bare sapphire is about 30 nm. This result of TEM observation is consistent with that
of AES depth profile. 相似文献
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脉冲激光纳米薄膜制备技术 总被引:7,自引:1,他引:6
脉冲激光薄膜沉积(PLD)是近年来受到普遍关注的制膜新技术。简要介绍了该技术的物理原理;探讨了脉冲激光沉积制膜的物理过程,激光作用的极端条件及等离子体羽辉形成的控制对薄膜成长的影响;评价了脉冲激光沉积技术在多种功能材料薄膜,特别是纳米薄膜及多层结构薄膜的制备方面的特点和优势,结合自行研制的设备,介绍了在PLD基础上发展起来的兼具分子束外延(MBE)技术特点的激光分子束外延技术(L-MBE),指出脉冲激光沉积技术在探讨激光与物理相互作用和薄膜成膜机理方面的作用,尤其是激光分子束外延技术在高质量的纳米薄膜和超晶格等人工设计薄膜的制备上显现出的巨大潜力。 相似文献