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在长焦距的望远物镜和摄影物镜中,为了缩短镜筒的长度,常常采用折反式镜头。其结构形式如图1所示。上述两种结构形式,都能满足设计要求。但是,比较这两种结构就可以看出,图1(α)所示的结构比图1(b)所示的结构优越,不仅可少加工一块小反射镜,而且去掉了胶合定心工序。 相似文献
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一种大口径大非球面度天文镜面磨制新技术 总被引:4,自引:5,他引:4
主动抛光盘技术是近年来因天文望远镜的口径越来越大,焦比越来越快而发展起来的一种能够根据需要将抛光盘面实时地主动变形成偏轴非球面来磨制大口径非球面度高精度天文镜面的磨制技术。非球面表面的曲率不仅各点不一致,而且同一点的径向与切向曲率也不相同,所以经典的大的抛光盘不可能使其表面形状始终与所接触的非球面表面形状相吻合;常用的小磨盘抛光的致命缺点是解决不了高频切带,抛光效率也低。而主动抛光盘技术正好解决这些难题。与传统方法相比,它具有较高的磨削速率和较大范围内的自然平滑(无切带)。这是一种用计算机控制的磨镜技术,通过它可以像加工球面一样来加工一个深度的非球面。介绍了我国成功研制的主动抛光盘以及它在直径910mm,焦比F/2抛物面镜加工中的成功应用和加工的结果,以及此项技术将在2m以上直径天文镜面,特别是30m巨型天文光学/红外望远镜的分块子镜磨制中的应用前景。 相似文献
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全川生 《工程物理研究院科技年报》2004,(1):153-154
在球面零件上钻孔,要保证每一个孔的中心线都指向球心。尤其是要求在球面上分布多孔时,工件在钻床上定位,有一定的难度。根据球面零件的结构特点,针对以上条件,设计如图1所示的钻床专用夹具。 相似文献
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提出了一种用朗奇法定量检测大口径非球面的新技术。主要以大口径非球面镜的加工表面为研究对象,设计了大口径非球面检测系统,该系统由CCD摄像机、He-Ne激光器、郎奇光栅、微型计算机等组成。并利用大口径非球面检测系统对一个顶点曲率半径为1638.69mm,被测曲面半通光口径为315mm的光学元件的面形进行了实际测量,给出了光学元件标准偏差和峰谷值测量结果。最后对测量结果进行了讨论。研究结果表明:基于郎奇法的几何原理,利用CCD摄像系统定量检测大口径非球面的方法具有较高的精度。 相似文献
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基于PZT压电陶瓷驱动器的非球面能动抛光盘,能够在PZT驱动器的作用下改变面形,用于中小口径非球面镜加工。为优化设计基于PZT压电陶瓷驱动器的非球面能动抛光盘,利用有限元分析方法,计算各驱动器的影响函数,计算非球面能动抛光盘的输出面形,与理论面形比较得到剩余残差。以优化设计驱动器排布方式和极头直径为例,当非球面能动抛光盘中心到非球面工件中心的距离L为120mm,分别计算比较,极头直径为Φ10mm时,19单元PZT圆形排布与21单元PZT方形排布的剩余残差;以及19单元PZT圆形排布时,极头直径为Φ10mm与Φ14mm的剩余残差。结果表明,非球面能动抛光盘产生变形后的剩余残差RMS相应分别为0.303μm、0.367μm、0.328μm。因此,基于PZT压电陶瓷驱动器的非球面能动抛光盘确定选用19单元PZT圆形排布且极头直径Φ10mm。 相似文献
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<正> 光学模具铜样板加工多在车床上进行,一般最大加工半径只能达到R180mm左右,半径再大就只能靠手工划线、锉削、研磨加工了。手工操作既费工时,难度又高精度也低。我们 相似文献
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傅里叶变换条纹相位分析法测量非球面镜 总被引:1,自引:0,他引:1
本文将傅里叶变换(FFT)条纹位相测量方法用于非球面镜的检测。叙述了波面位相偏差测量原理。提出用最小二乘拟合波象差代替计算全息图(CGH)补偿非球面波象差,并分析了测量误差。 相似文献
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Ronchi线条法检验大非球面镜的理论计算 总被引:4,自引:0,他引:4
由光线追迹和三级像差理论计算大抛物面的Ronchi弯线条。分析这两种理论计算方法的结果和偏差,其偏差值随镜子的口径增大而增加,用所计算的结果制作的Ronchi弯线条检验可移动式平行光管的φ700mm口径的抛物面主镜。给出检验结果。 相似文献
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在文献(1)的基础上,推导了光源是发散光和平行光时,镜式补偿器位于被检测非球面曲率中心之外的初始结构的参数计算公式,讨论计算机最佳优化设计方法,并给出设计实例。 相似文献
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使用环形子孔径拼接检测大口径非球面镜 总被引:2,自引:0,他引:2
针对高精度大口径非球面镜通常存在定量检验方法(补偿器法、全息法、自准直法)所需要的辅助元件制造困难、成本高这两个主要难点,利用不同曲率半径的参考球面波前来匹配被测非球面表面不同的环带区域,使它们之间的偏离量减小到在小口径干涉仪的测量范围内,每次测量仅是被测表面的一部分,通过算法"拼接"可得到全孔径的面形信息。给出了其拼接数学模型、参量求解方法及其精度评定判据。仿真分析表明,该技术是切实可行的,算法具有较高的拼接精度。该方法无需辅助光学元件就可实现对大口径、大相对口径非球面的直接测量,且具有很宽的适用范围。 相似文献