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本文描述了BPL的RF系统中出现的反射对相位测量和相位控制的影响, 得出了关于这些影响的某些数学表达式, 提出了减少反射影响的一种具体方法. 相似文献
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反射相差对光学玻璃电流传感器测量灵敏度和稳定性的影响 总被引:3,自引:0,他引:3
在光学玻璃电流传感器中,如果在光线反射转向时的光的p,s分量之间引入反射相差,则会降低传感器的测量灵敏度和稳定性,本文对这种影响进行了理论上的分析,并给出了数值模拟的结果。 相似文献
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根据单轴晶体的双折射和双反射性质,通过数值计算研究了光轴在入射面内并与晶体界面成任意角时光波p分量在单轴晶体表面反射和折射的相位特性.结果表明,光轴取向对相位变化有较大影响,光从光疏各向同性介质射入单轴晶体时,光轴方向改变反射光p分量的相位突变点,但对折射光p分量相位无影响.光从光密各向同性介质射入单轴晶体未发生全反射时,光轴方向同时影响p分量反射光和折射光的相位突变|发生全反射后,光轴方向影响反射光p分量的相位变化曲线.从单轴晶体出射到光疏各向同性介质未发生全反射时,光轴方向改变反射光p分量的相位跃变规律,折射光p分量在光轴方向和晶面成小角度时在布儒斯特角附近发生相位突变|发生全反射后,反射光p分量的相位变化曲线随光轴方向的改变发生较大变化. 相似文献
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光波p分量在单轴晶体表面反射和折射的相位特性 总被引:1,自引:0,他引:1
根据单轴晶体的双折射和双反射性质,通过数值计算研究了光轴在入射面内并与晶体界面成任意角时光波p分量在单轴晶体表面反射和折射的相位特性.结果表明,光轴取向对相位变化有较大影响,光从光疏各向同性介质射入单轴晶体时,光轴方向改变反射光p分量的相位突变点,但对折射光p分量相位无影响.光从光密各向同性介质射入单轴晶体未发生全反射时,光轴方向同时影响p分量反射光和折射光的相位突变;发生全反射后,光轴方向影响反射光p分量的相位变化曲线.从单轴晶体出射到光疏各向同性介质未发生全反射时,光轴方向改变反射光p分量的相位跃变规律,折射光p分量在光轴方向和晶面成小角度时在布儒斯特角附近发生相位突变;发生全反射后,反射光p分量的相位变化曲线随光轴方向的改变发生较大变化. 相似文献
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在热压缩态中测量相位算符的涨落 总被引:1,自引:1,他引:0
利用热场动力学的方法计算了热压缩态中测量相位算符的涨落,引入了两种类型的基础量子涨落,一种是与测量相位的两个正交分量相联系,另一种是与一个测量相位分量和光子数相联系。由此,研究了热压缩压中测量相位涨落的两种压缩及其与温度的关系。 相似文献
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在相位光栅位置测量系统中,加工、后处理等工艺会导致光栅结构发生非对称性变形,增加了位置测量误差.因此,建立了非对称性光栅的衍射场理论模型,分析了光栅非对称性对位置测量精度的影响,并根据不同衍射级次对非对称性敏感度的差异提出了一种多衍射级次权重优化方法,以修正光栅非对称性变形引入的测量误差.实验结果表明,当光栅中心槽深为入射波长的1/4时,顶部倾斜非对称性和底部倾斜非对称性对测量精度的影响可以忽略;当占空比为0.5时,侧壁非对称性对测量精度的影响可以忽略.非对称性引入的位置误差,经多衍射级次权重优化法修正后可控制在0.05 nm以内. 相似文献
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超声传播速度和衰减值的测量,作为超声基本量的测量和超声技术的一些应用,都有着重要的意义。多次脉冲反射法是目前超声测声速、声衰减等工作中最常用的方法,尤其对体积不大的固体材料的测量中,用得更多。用这类方法测声速时,都需要测定超声脉冲在被测样块内在返一次所经历的时间。而对这一时延值的确定,目前来说,有着两种方案,即当超声脉冲往返一次反射后,或者依据它的包络的相应时延直接确定;或者依据它的射频相位的比较来推算确定。前者测量方法和设备较简单,后者测量结果的精度较高。 相似文献
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本文报道一种测量标准具间距的方法,其误差为λ/60.用波长连续可调的染料激光器的输出射到标准具上,借助于列阵探测元件和计算机组成的OMA系统可从干涉图形中精确测定对应波长的中心小数,在此基础上发展了剩余小数处理数据的方法,利用至少四个不同的波长可得到干涉级数的绝对值和标准具的厚度.进一步用数据拟合法可得到镀层反射相位的相对色散曲线. 相似文献
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相位比较法测量声速实验中,由于声波在传输过程中存在衰减、反射以及在收、发换能器之间多次反射叠加,当收、发换能器间距较小时,发射信号和接收信号合成的李萨如图形变化规律与理论不一致,即,接收器移动1个波长的距离,示波器中观察到合成直线段在同相和反相区域分别连续出现多次,该现象影响了学生对实验现象的判断和实验测量.本文通过理论计算分析,声波在收、发换能器之间的多次往复反射叠加次数增加,声波传输衰减小和换能器表面反射系数大会增大该现象产生的强度和持续的空间范围,理论计算直观地说明了接收器接收的声压信号与空气振动信号之间的关系和利用相位比较法测量声速的合理性. 相似文献