金属双层膜中量子输运的表面和界面散射效应

运用格林函数的解析方法研究金属双层膜的电子输运.考虑了量子尺寸效应和来自杂质、粗糙表面和粗糙界面三方面的散射,计算单粒子格林函数和平行电导率,得到了金属双层膜的电导公式.计算结果表明,在薄膜极限和表面及界面散射的最低阶近似下,系统总电导率等于各子能级通道的电导率之和,而各子能级通道中杂质、表面和界面产生的散射率是可相加的. 关键词：     

多层金属圆柱线中量子输运的表面和界面散射效应

考虑了量子尺寸效应以及来自杂质、粗糙表面和粗糙界面三方面的散射,运用量子统计的格林函数方法和久保公式,计算多层金属圆柱线中的各种散射电导率.计算结果表明,在杂质、表面和界面的弱散射极限下,系统总电导率等于各个子能级通道的电导率之和,而各子能级通道中杂质、表面和界面产生的散射率是可相加的. 关键词：     

量子力学中的二维散射问题

研究了量子力学中的二维散射问题，讨论了分波法和Ｂｏｍ近似法，并计算了一些实例。     

量子力学中波包散射的可视化数值实验设计

考虑到常用量子力学教材中缺乏对波包散射问题的讨论,本文以一维δ势阱为例,介绍我们在研讨课教学中如何针对波包散射问题设计数值实验,以帮助学生自行建立量子散射的物理图像.     

《量子力学》自学辅导之十—散射（续）

《量子力学》自学辅导之十──散射（续）宋宇辰，曾心愉，裴衣杰（复旦大学理论物理骨干教师班，复旦大学物理系，上海２００４３３）２．４散射截面薛定谔方程的渐近解（１６）式一定满足波函数的边界条件（１８）式，即从此式我们可以解出散射振幅微分散射截面的表述式...     

高光洁度玻璃基片的表面散射和体散射测量

提出了一种利用总积分散射（TIS）测量K9玻璃基片表面散射和体散射的实验方法。首先采用磁控溅射技术在基片表面沉积厚度为几十nm的金属Ag薄膜,然后将基片的表面和体区分开考虑,通过TIS测得了基片上下表面的均方根粗糙度, 进而求得基片的总散射和表面散射,最后计算得到了体散射。分别利用TIS和原子力显微镜（AFM）测量了3个样品上表面所镀Ag膜的均方根粗糙度,两种方法所得的均方根粗糙度的数值相差不明显,差值分别为0.08,0.11和0.09 nm, 表明TIS和AFM的测量结果相一致。利用该方法测得3块K9玻璃基片的总散射分别为6.06×10-4,5.84×10-4和6.48×10-4,表面散射介于1.25×10-4~1.56×10-4之间,由此计算得到的体散射分别为3.10×10-4,3.30×10-4和3.61×10-4。     

高光洁度玻璃基片的表面散射和体散射测量

 提出了一种利用总积分散射（TIS）测量K9玻璃基片表面散射和体散射的实验方法。首先采用磁控溅射技术在基片表面沉积厚度为几十nm的金属Ag薄膜,然后将基片的表面和体区分开考虑,通过TIS测得了基片上下表面的均方根粗糙度, 进而求得基片的总散射和表面散射,最后计算得到了体散射。分别利用TIS和原子力显微镜（AFM）测量了3个样品上表面所镀Ag膜的均方根粗糙度,两种方法所得的均方根粗糙度的数值相差不明显,差值分别为0.08,0.11和0.09 nm, 表明TIS和AFM的测量结果相一致。利用该方法测得3块K9玻璃基片的总散射分别为6.06×10^-4,5.84×10^-4和6.48×10^-4,表面散射介于1.25×10^-4~1.56×10^-4之间,由此计算得到的体散射分别为3.10×10^-4,3.30×10^-4和3.61×10^-4。     

磁多层结构中处理界面散射的新方法

本提出了处理界面散射的新方法。在用准经典近似理论处理Ｆｅ／Ｃｒ多层结构输运性质时，把界面附近互扩散区域中磁性杂质体散射等效为一个有效界面的散射。新的界面散射机制不同于过去用的常数透射系数，而是与合金层的厚度、杂质散射的自旋不对称性以及电子运动方向都有关的散射系数。用有效界面散射可以提高界面对电阻率的贡献，能较好地同时解释磁多层结构中巨磁阻与电阻率的实验结果。     

高分子、生物高分子与金属复合物界面结构的表面增强拉曼光谱研究

用表面拉强拉曼散射(SERS)研究了高分子、生物高分子与金属复合物界面的微观结构。由于 SERS仅对金属表面第一层分子有显著的增强效应,因此它是非常有效的界面结构研究工具。     

漫反射各向异性散射介质内的温度热流场

本文采用射线踪迹结合节点分析法和谱带模型,研究了漫反射不透明边界下吸收、发射、各向异性散射介质内的热辐射传递过程。考虑介质辐射能的入射和散射方向,导出漫反射、不透明边界、各向异性散射介质的辐射传递系数。在辐射平衡的情况下,考察了表面发射率和散射反照率对介质内辐射热流和温度场的影响。研究表明,介质不透明边界处存在温度跃迁现象,而且,内界面发射率越大,相应界面温度跃迁越小。     

SCATTERING AND RADIATION CHARACTERISTICS OF STEP DISCONTINUITY IN LEFT-HANDED SLAB WAVEGUIDE OPERATING IN EVANESCENT SURFACE MODE

The scattering and radiation characteristics of a step discontinuity in left-handed (LH) slab waveguide operating in evanescent surface mode of TE and TM polarization are analyzed by a method, which combines the rigorous mode-matching method with the multi-mode network theory. In the analysis the radiation problem is transformed into a propagation problem so as to tremendously simplify the calculation procedure. The dispersion properties of the grounded planar LH slab waveguide for both ordinary and evanescent surface modes are examined, from which the left-hand property of the operating mode is testified. The relative scattered power and radiation pattern of the step are given for the first time, from which the backward radiation of the stepped LH guide is clearly demonstrated. The frequency scanning characteristics of the step under consideration in this paper are just opposite to that of the ordinary antenna, which makes the considered structure promising candidate for new type of planar antennas. Supported by the National Natural Science Foundation of China (No.60371010, No.60471037, No. 63531020)     

铁磁-超导隧道结中粗糙界面散射对直流Josephson电流的影响

通过求解Bogoliubov—de Gennes(BdG)方程得到铁磁超导共存态(FS)的自洽方程，在考虑结界面的粗糙情形下，由推广的Furusaki—Tsukada(FT)的电流公式计算了铁磁超导态／绝缘层／s波超导体(FS／I／S)结的直流Josephson电流，讨论了FS/I／S结的直流Josephson临界电流随磁交换能、温度的变化情况．研究表明：铁磁超导态中磁交换能和结界面的粗糙势垒散射均对FS／I／S结的直流Josephson电流有抑制作用．     

光学表面光散射特性分析

通过对光学表面光散射特性的研究,结果表明:光散射强度随入射光波长的增加而减小,随表面粗糙度增加而增加.     

粗糙界面对铁磁半导体/d-波超导隧道结隧道谱的影响

考虑到铁磁半导体和d-波超导体中空穴的有效质量和费米速度错配,运用推广了的Blonder-Tinkham-Klapwijk(BTK)理论模型,研究了粗糙界面散射对铁磁半导体/d-波超导(FS/DS)隧道结的隧道谱的影响.研究表明:(1)铁磁半导体和d-波超导体中空穴的有效质量和费米速度错配对系统的微分电导影响显著;(2)粗糙界面散射对Andreev反射有抑制作用.     

金属基及涂层表面粗糙度的测量方法研究

本文用干涉显微镜法，触针法，总体积分散身镜向反射光强法对未抛光铝基。抛光微粗糙铝基，微粗糙不锈钢基，微粗糙钢基和涂漆表面的粗糙度进行了实验测量和对比分析，从粗糙面激光散射角度讨论了各种方法的适用范围和局限性。     

角度与光散射

本文通过计算和分析，得到了光学表面光散射随角度的变化关系。     

双层介电系统的Raman散射——ZnSe/玻璃和ZnSe/GaAs的表面声子模

本文实验观测了双层介电系统ZnSe/玻璃和ZnSe/GaAs的表面声子模,并利用极化场边界条件对上述体系的表面声子频率进行了计算。实验结果与计算结果符合得比较满意。     

蒙特卡洛法研究随机粗糙表面的光散射特性

本文采用蒙特卡洛(M-C)数值模拟,生成起伏高度满足高斯分布的随机粗糙表面。借助Kirchhoff近似,并在综合考虑辐射传输、光学及电磁学有关理论的基础上,利用M-C方法计算了符合高斯分布的一维随机粗糙表面的单次和多次光散射分布,模型结合射线追踪法考虑了粗糙表面的遮蔽效应。结果表明在考虑多次散射时,存在后向散射增强现象,该结论与实验结果相吻合,证明本文数值模拟方法的正确性。