电热原子吸收法固体加样直接测定高铝岩石中钾

粉末试样直接原子化是原子吸收中最引人注目的问题之一。不需要什么试剂,因而避免了试剂沾污。固体试样直接原子化,火焰及无火焰原子吸收分析国外时有报导,国内不多见。我们用常规手段,自制加样小舟,石墨粉稀释试样,在次灵敏线用石墨杯直接测定了红柱石、硅线石等高铝岩石中钾。用固定量的标准水溶液加到精确称量的不同重量试样中去的标准加入法作了校正比较。探索了固体试样直接分析的可行性。     

地质和硅酸铝材料中主要氧化物定量分析:试样制备和校正曲线的比较

地质和硅酸铝材料的主要氧化物分析,由于种种原因而变得复杂了。当选择试样制备技术时,应考虑所需要的试样制备的速度和难易,对分析准确度的要求和分析范围。这些材料的制备最快速、简易和低廉的方法是粉碎和把它压成片状样品,不幸的是他们由于基体效应和矿物效应限制了它的分析准确度和分析范围。当铝和硅的浓度改变而引起矿物相的变化,这     

卤化反应电弧蒸发粉末法ICP-AES分析的初步研究

固体进样是ICP-AES试样引入系统的薄弱环节,也是当前极感兴趣的热门课题。直至目前,固体试样引入ICP的方式已相当繁多,但其实际应用远不如溶液法那样成熟。粉末法和溶液法有着各自的优点和缺点。本文提出一种卤化蒸发装置,并以卤化反应电弧蒸发粉末试样的手段,试图解决粉末法ICP-AES所存在的问题。     

两种溶液法光电直读光谱分析技术

发射光谱分析可以在一份试样中同时测定几个至十几个甚至二三十个元素,灵敏度高,选择性好,因而在冶金材料和矿物的分析中获得广泛应用。光电直读法光谱分析还具有速度快和精度高的优点,是光谱分析技术的发展方向。我国目前的光谱仪大多是照相式,光电直读式较少。而现有的光电直读光谱仪,大多数只能分析已经具备光谱标样的金属固体样品,不能分析溶液样品,也不能分析缺乏固体     

等离子体发射光谱法同时测定铬铁矿中铬、铁、镁和铝

铬铁矿属难熔矿种之一，经典分析方法在铂金坩埚内过氧化钠半熔，容量法测定铬、铁离子交换分离富集后，再用容量法或比色法测定其它元素，分离手续繁杂，耗费试剂多，周期长。等离子光谱（ICP）技术具有稳定性好、灵敏度高、线性范围宽、化学干扰少、多元素同时测定等优点，但由于仪器进样量和雾化效率受测定溶液含盐量的限制，试样前处理通常用酸分解，或碱熔后经沉淀分离除去大量可溶性盐类，用酸溶液沉淀，定容，待测。本文利用ICP上述优点对碱熔试样不经分离直接酸化，对高倍稀释试液测定铬铁矿中的主量元素进行了探讨。试验表明，此设想是可行的。本文还就试样的分解条件、酸度、元素间的光谱干扰作了研究，拟出了同时测定铬铁矿中铬、铁、镁、铝的分析方法。本法 质矿产部标准试样的结果与推荐值对照，符合要求。本法称取试样量少，试剂用量少，用银坩埚代替昂贵的铂坩埚，不经分离直接酸化后同时测定4种主量元素，大大简化了操作手续，为分析铬铁矿中主量元素的含量寻找了一条准、快、省的途径。     

采用汽化样品引入法的ICP-AES,快速获得数据系统

ICP-AES很适于各式各样材料的分析,因为它具有很高的样品承受能力、很宽的动态线性范围和很好的灵敏度。但是,传统的采用雾化器的样品引入技术(常被称为“最薄弱环节”)往往会大大地降低灵敏度而限制该系统的性能。某些组分有优先雾化现象因而会使分析结果不准确。另外,在许多情况下,由于化合物的挥发性、毒性和可燃性又会使取样发生困难。本文叙述用VFS快速获得数据系统和ICP作水溶液和半导体材料分析的情况。半导体工业已越来越要求对制造过程所用材料中越来越低的杂质水平加以表征。VFS是一种可作瞬时信号测量和专门数据处理和报告的硬件/软件系统。由于不用雾化器而采用了全新的样品引入技术,方法的灵敏度和分析性能都得到了改善。系统可以每秒钟积分6次的速率对最多60种元素作同时测量。     

冻融对重塑黏土导热系数影响的试验研究

在工程建设中,导热系数作为温度场的重要参数一直是岩土工程领域的研究热点。为研究冻融作用对土体导热系数的影响规律,室内制作不同含水率和不同干密度的饱和与非饱和试样在低温环境模拟试验箱中进行封闭系统和开敞系统冻融循环,并提出实验室修正系数α和冻结指数相似比C_I对冻融过程温控模式进行优化。结果表明:未冻融试样,导热系数随含水率和干密度的增加而线性增加;封闭系统中,冻融后导热系数减小,且含水率对导热系数的影响大于干密度和冻融循环次数.通过对导热系数的偏相关分析发现,其偏相关系数分别为:0.998,0.994,-0.980.冻融次数与导热系数关系呈负相关,饱和试样中导热系数随冻融循环次数增大而降低.在考虑冻融作用时引入冻融项λ_f对Chung和Horton模型进行修正,修正后模型在预测饱和试样导热系数时与真实值相差较少,模型拟合度R~2为0.88.开敞系统中,冻融作用可改变试样的饱和状态,使非饱和土达到饱和,并且随着冻融次数的增加,试样导热系数先急剧增大后缓慢减小。     

基于高阶色散管理和相位共轭技术的色散补偿

相位共轭技术能够同时且高效地补偿二阶色散及非线性效应，且该技术同信号比特率、调制方式无关，是最有前景的色散补偿技术之一。理论分析了在高阶色散作用下，超短高斯脉冲信号在中距相位共轭通信系统中的传输演化特性，数值模拟了在二阶、三阶和四阶色散作用下，飞秒高斯脉冲信号在基于中距相位共轭技术的光纤色散管理链中的动态传输过程。结果表明，相位共轭技术和高阶色散管理相结合，不仅可以补偿和复原包括奇数阶和偶数阶色散在内的全部色散和非线性所引入的信号失真和畸变，而且能够减弱时分复用系统中脉冲之间的相互作用，使得信号在传输一个周期后恢复波形，从而提高了相位共轭系统对失真信号的补偿性能。     

声双折射法研究再结晶退火处理对45#钢微观组织的影响

本文在研究超声测试应力的过程中为了减小材料组织结构以及残余应力对应力测试结果的影响,对45#钢试样进行再结晶退火热处理,并用超声双折射法研究试样的再结晶退火组织,分析其微观组织和各向异性。实验结果表明,试样中横波声速随其偏振化方向改变而变化,存在声速快轴和慢轴且两者相互垂直;试样经650℃炉温,保温40分钟炉冷再结晶退火热处理后,声各向异性因子小,表现出材料微观组织均匀,晶粒细,各向异性小,并与金相实验结果一致。     

一次函数法巧析高中物理力学和电学实验题

数据处理是高中物理实验对学生的重要要求之一,而图像法又是处理实验的首选方法。在众多的数学图像中,一次函数以其简捷直观的特点成为物理实验中应用最广泛的图像。而且在高考实验题中,线性图像出现的频率极高。然而,题目中线性图像的横坐标和纵坐标往往代表的不是常规的物理量,学生往往不知如何着手分析图像。针对这一问题,我们根据多年的教学经验,总结了一套用于解决这类线性图线问题的普适性方法—一次函数法。并以力学、电学中几个典型的实验为例,详细说明一次函数法的解题思路。     

利用谱线宽度法作钢中渗铝层逐层分析试验报告

试验证明,当钢中铝含量变化时,谱线宽度亦随之而变。以试样中物质浓度与谱线宽度的关系进行定量研究,根据同一样品34次分析结果,其平均误差为2.4％。用逐层分析的结果与金相观察的结果大致相吻合。     

弯曲法测量圆柱形试样杨氏模量的研究

根据圆柱形的受力弯曲理论推导出弯曲法测量圆柱形试样杨氏模量的公式,改进了仪器,测出了圆柱形试样金属丝的杨氏模量,解决了弯曲法测量圆柱形杨氏模量的问题,消除了在实验教学及生产中由于试样形状的限制而产生的不利影响.     

原子吸收法测定金和银(综述)

金和银是人们熟知的最古老的金属。除大量用于作钱币、饰物和器皿外,还具有广泛的工业用途而成为现代工业重要原料之一。痕量金银的分析是分析化学领域中的难题之一。金和银的分析方法目前国内外多采用原子吸收法、分光光度法、光谱法、电化学法、重量法、容量法和中子活化法等。本文主要综合介绍原子吸收法测定金和银的情况,以供参考。原子吸收法测定金和银的工作波长分别是242.8nm和328.1nm。有火焰法和无火焰法,火焰法的灵敏度金为0.1ppm,银为     

“扫描电声成像系统及其相关器件和材料”项目简介

扫描电声成像系统是在电子显微镜（SEM）的基础上，增加一电子束斩波系统，使入射到试样表面的电子束强度以频率f变化。由于电子与试样原子之间的非弹性散射，在电子束焦斑附近就形成一时变的热弹源，会同时激发出热波和声波。声波作为信息的载体透过试样，而被在试样背面相耦合的压电换能器接收，该信号经锁相放大器检测后再输入电子显微镜的成像系统。当强度调制的电子束在试样表面上扫描时，由于试样表面的形貌、局域的力学、热学、电学特性等的差异，形成具有不同衬度的电子声像（SEAM）。由于SEAM是一近场成像技术，它的成像分辨率不受远场夫朗和费衍射和中场的费涅尔衍射所确定的波长限制，它的最佳分辨率可优于0.5μm。而且它可以获得原位的试样表面的SEM像和亚表面的SEAM像。此外还有试样制备简单等优点。     

一种新的X射线衍射物相定量法──J值法

本文提出的Ｊ值法是一种新的Ｘ射线衍射物相定量法．每次测量需配制由两个混合试样组成的试样系．在两个混合试样中，参考物质及待测相的衍射峰总共有四个．它们之间强度的比值即为Ｊ值．在样品条件固定时，Ｊ值只与待测相在待测试样中的含量百分数有关．本方法吸取了Ｋ值法及增量法的优点，并可对两个混合试样的配比量进行优选，使测量在最佳条件下进行．织构及微吸收效应会使强度的测量值发生偏差，其它方法必须对强度作一些修正，而本方法的主要特点是可以避免这些修正．Ｋ值法是本方法的一个特例．两次验证的结果表明．本方法相当准确．     

使用斜率比法考察平台石墨炉测定镉和钯的基体干扰

石墨炉原子吸收分析具有很多优点。但用它进行痕量或超痕量分析时常常会遇到样品基体的干扰,因而,其优越性的发挥受到限制。B. V. L'vov等人都曾指出,在石墨炉中遇到的多数干扰都是由于炉内环境温度不均匀造成的。因此,L'vov提出了平台原子化技术,即将被测试样置于石墨管内的石墨平台上,由于平台主要靠石墨管的热辐射加热升温,使得石墨平台的温度滞后于管壁,延迟了试样蒸发和原子化,样品蒸发后进入一个近于恒温的气相,使分析信号很少再受基体物质的影响。     

水平电极吹样法光谱分析

化探样品的光谱分析,国内应用得比较普遍的是水平电极撒样法。本文介绍采用高频火花放电雾化试样,借压缩气流通过瓷吹样管,把试样引入电弧的水平电极吹样法。十多年的生产证明,本法具有:1.元素的检出限低,一次取样、摄谱能获得三十余个易、中、难挥发元素的光谱(不包括造岩元素)。其中满足区域化探扫面样品检出限要求的有Ba、Be、B、Mn、Pb、Sn、Cr、Ni、V、Mo、Nb、La、Ti、Cu、Y、Zr、Zn、     

APDC-MIBK萃取原子吸收光谱法测定水中痕量三价铬和六价铬

作者前文报导了DDTC-MIBK萃取原子吸收光谱法测定铬(Ⅲ)和铬(Ⅵ)。该法灵敏、准确,但在氧化和分离过程中,需引入其他试剂,增加了干扰成分。APDC-MIBK萃取体系曾用于铬(Ⅵ)含量的分析;H.Bergmann等报导了APDC-MIBK测定铬(Ⅲ)和铬(Ⅵ)的研究。以两份等量试样,在不同酸度和温度试验条件下,分别测定     

宇宙射线探测

<正>1主要内容宇宙射线与基本粒子的性质及相互作用反映宇宙的本质,因此宇宙射线一直是人类最感兴趣和不懈探索的问题之一.宇宙射线探测是由武汉大学物理实验中心于2012年在综合物理实验教学中引入的新的本科教学内容.在中国科学院高     

椭偏法测厚及折射率的计算机解算

WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质薄膜的厚度和折射率;除作为高校中级物理实验外,亦可用于材料表面光学参数的分析研究。但是,与原椭偏装置相配用的椭偏仪数据表,只能适用于K_q基底上生长的氧化锆薄膜标准试样,这就实际上限制了椭偏仪的使用范围;另一方面,即使对上述标准试样测量,所获数据往往与数据表提供的数值偏离甚大,直接影响实验效果。经过多次实际试验,本文分析了三相椭偏方程解的特性,讨论了不同条件下椭偏法测厚及折射率的计算机解算。