压痕诱发单晶硅非晶化相变的透射电镜观察

晶体硅在高压下会发生相变［１］。显微压痕实验能够产生极大的压强（ＧＰａ级），有可能诱发硅的相变［２］。Ｃｌａｒｋｅ等人首次利用透射电子显微镜（ＴＥＭ）在微观尺度上给出了单晶硅上维氏显微压痕的平视形貌像（ｐｌａｎ－ｖｉｅｗ）［３］，指出压痕中心已经发生...     

SEM研究镧对钛酸铅晶体结构的影响

作为功能材料 ,钛酸铅陶瓷具有居里点高(76 3K)、相对介电常数小 (2 0 0 )、热电系数大 (6 0×10 -8c (cm2 ·K) )等优点。但由于其四方矫顽场大 ,成为陶瓷的晶界能高 ,使它在退火过程中经过居里点时容易产生微裂纹 ,而使其应用受限。目前解决这一问题的方法大致分为两个方面 ,其一是改进合成方法来减少钛酸铅粉体的晶粒尺寸 ,以降低内应力 ;另一是掺杂改性 ,镧改性是其中研究的重点之一[1] 。1　实验方法以钛酸四丁酯、醋酸铅、氯化镧为原料 ,利用水热法 ,在碱性介质中合成了钛酸铅 [PbTiO3 ,简称PT]及钛酸铅镧 [(Pb1-3x 2 Lax)TiO3 …     

镁合金微弧氧化膜的SEM研究

镁合金具有密度低，比强度和比刚度高，铸造性能和切削加工性能良好等优点，在汽车制造、航空航天和电子通讯工业等方面有着广泛应用。为了增强镁合金材料对环境的适应性，减少腐蚀，延长使用寿命，一条有效的途径就是对其进行表面处理。微弧氧化处理是一种在有色金属表面原位生长氧化物陶     

尖晶石型LiMn2O4晶体中的相变序列

在研究三维钙钛矿型晶体ABX3，例如La1-xCaxMnO3的过程中，人们清楚地知道它们在温度变化的过程中可能的相变类型。在高温时，他们都是立方晶体。在降温的过程中，La1/3Ca2/3Mn1/3^3 Mn2/3^4 O3晶体中的MnO6氧八面体绕着立方晶体的[011]方向倾转，于是生成了a0=[011]ac，b0=[200]ac，c0     

液相法制备氧化镁晶须的SEM研究

氧化镁晶须 (熔点 30 73K)具有优良的耐热性、绝缘性、热传导性、补强性和很高的抗拉强度 ,很适合用做多种复合材料的增强剂。氧化镁晶须的制备方法大多采用气相法 ,工艺条件控制苛刻 ,生产成本高 ,大大限制了氧化镁晶须的工业生产与应用。本文以MgCl2 ·H2 O和NH3 ·H2 O为原料 ,借助纤维状碱式氯化镁中间体 ,运用“假象”技术获得了由纳米微粒烧结而成的氧化镁晶须状材料。利用SEM研究了制备条件对产物微观形态的影响。1　实验方法以精制卤水和氨水为原料 ,采用浓度适中的氯化镁溶液和较小的 [OH-] [Mg2 + ](0 15 ) ,控制反应温度…     

PTFE改性玻璃纤维织物磨损机理的SEM研究

目前，纤维及其织物材料的研究主要集中在其作为增强材料的应用方面，而纤维织物复合材料的摩擦磨损性能研究则较少。本文研究了PTFE(聚四氟乙烯)改性玻璃纤维织物复合材料的磨损机理，以便为玻璃纤维织物复合材料的进一步应用提供科学依据和参考。     

Cu—Zn合金中贝氏体预相变的电镜研究

尽管对β黄铜中的贝氏体相变已经作了大量研究,但其相变机制仍不清楚,主要可分为扩散控制的台阶机制与切变机制这二种观点,而且其争论正越演越烈。最近有人认为在母相的晶界、夹杂等处存在着应力场,溶质原子在应力场中定向扩散,产生了溶质原子贫化区,     

活性炭脱硫剂的SEM研究

活性炭材料是由石墨微晶和无定形炭构成的一种黑色多孔固体，孔隙结构发达，具有巨大的比表面积，对气体、溶液中的无机或有机物质及胶体颗粒等都有很强的吸附能力。以活性炭为脱硫剂吸附烟气中的SO2具有良好的应用前景。     

用SEM研究高聚物的微观形态结构

用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）,对ＨＤＰＥ／ＣａＣＯ３填充高聚物、ＰＰ／ＥＰＤＭ高聚物共混物和ＰＡ／ＣＦ增强复合材料的微观结构形态进行了研究,并分析了各材料的改性机理,证明了ＳＥＭ技术在高分子多相体系的形态结构、界面状况、损伤机制及材料性能预测等研究中发挥着重要作用。     

用SEM的SACP技术分析解理断裂面的结晶学性质

用ＳＥＭ的ＳＡＣＰ技术分析解理断裂面的结晶学性质朱衍勇，廖乾初（冶金工业部钢铁研究总院，北京１０００８１）解理断裂是晶体沿一定晶面发生的开裂，它是Ｂ．Ｃ．Ｃ金属材料常见的一种脆性断裂机制。为了分析解理断裂过程的本质，往往要对断裂面中特征形貌的几何位向...     

Control of island formation on silicon surfaces using ultra-high-vacuum scanning electron microscopy

In situ scanning electron microscopy has been used to control Au island formation on a patterned Si(111) surface with a periodic array of atomic-step bunches and holes. Liquid phase Au-Si islands were observed to redistribute on the patterned surface by annealing. The islands accumulate at a particular position of the step bunch in each pattern unit. This phenomenon is interpreted in terms of the energetic stability of a droplet on a patterned surface.     

雀石蕊地衣体形态的扫描电镜研究

地衣是菌、藻共生的生物复合体 ,它既不同于一般真菌 ,又有别于一般藻类 ,是新的形态学与生物学实体 ,它们的共生关系是迄今为止任何互惠共生现象中最突出、最完善的类型。对其形态学方面的研究 ,有利于人们对生物共生现象进一步的了解 ,更深入的揭示其本质。地衣在我国分布广泛 ,蕴藏极为丰富。由于地衣对大气污染十分敏感 ,因此 ,人们常把地衣作为监测大气污染的灵敏指示植物加以利用 ;地衣中含有大量的防腐成分如 :松萝酸、地衣硬酸等 ,它们均具有很高的抗菌活性。以往人们对地衣形态学方面的研究 ,大都是限于一般的形态结构水平 ,本文利…     

Observation of dislocations in a silicon phototransistor by scanning electron microscopy using the barrier electron voltaic effect

Silicon planar phototransistors crossed by slip planes were examined both by X-ray topography and by conductive mode scanning electron microscopy using the barrier electron voltaic effect current as video signal. Only a few of the dislocations visible in the topographs gave rise to contrast in the scanning electron micrographs. This observation of single dislocations by means of the barrier electron voltaic effect is particularly valuable for the study of the role of defects in device failure and production yields as it renders visible only the electrically effective defects. Quantitative analysis of the barrier electron voltaic effect short circuit current obtained on scanning across an electrically effective dislocation provides a new means for measuring the electrical properties of dislocations. Repeated scanning produced lines of enhanced contrast across the surfaces of the devices. These lines were visible in surface X-ray topographs. This observation is believed to be due to beam induced damage in the oxide and interface region.     

二氧化硅超薄膜的扫描隧道显微镜和扫描隧道谱研究

用超高真空热氧化方法在Si(111)清洁衬底上生长了二氧化硅超薄膜，并利用超高真空扫描隧道显微镜和扫描隧道谱技术对超薄膜的表面形貌和局域电学特性进行了研究。结果显示，在超薄范围二氧化硅呈层状生长，不同层的微分电导谱所测禁带宽度差别可以达到约3eV，形貌对二氧化硅带宽的影响小于膜厚的影响。     

扫描电镜研究硝酸纤维素膜上的共结晶

MAL DI- TOF- MS以其“高灵敏度、宽分子量范围、允许混合样和一定量盐”的特点而成为蛋白质分子量测定的重要手段。但由于一些变性剂和无机盐常与样品竞争结晶 ,不但会大大抑制样品信号 ,而且会产生一些难以解析的离子峰。因此 ,测试前应尽可能除去样品中的添加剂。而将蛋白质吸附或印迹到转移膜上是除去干扰物的重要方法之一[1] 。固定在金属靶上进行 MALDI-TOF- MS分析的转移膜 [2 ] ,应满足以下要求 :能吸附蛋白质和肽 ;在操作样品过程中样品不丢失 ;干燥后的膜上蛋白质应能很好地重新溶剂化 ;蛋白质和基质均应在膜表面结晶。而…     

肿瘤细胞侵袭性体外检测的扫描电镜观察

肿瘤细胞的侵袭性是确定肿瘤恶性程度的指标之一 ,胎盘羊膜半透明 ,结构简单 ,可用作癌细胞培养的支持物 ,并可观察其向基质浸润程度 ,本文目的是用扫描电镜观察羊膜结构及癌细胞在羊膜侵袭的形态改变。材料与方法新鲜足月胎盘 ,剥离胎儿面羊膜 ,洗净 ,剪成 2 cm直径的圆片 ,放入 2 4孔培养板 ,培养 2 4h,加入食管癌细胞析 SHEEC1细胞[1] 。第 2天起 ,每天取 4孔羊膜检查 ,共 6天。羊膜在 2 .5 %戊二醛固定 ,常规脱水 ,置换 ,真空喷涂 ,在日立 H30 0电镜扫描配件下观察。结果在扫描电镜下 ,羊膜表面为一层上皮细胞铺盖 ,上皮细胞大小一致…     

Scanning electron mirror microscopy and scanning electron microscopy of integrated circuits

The recently developed scanning electron mirror microscope (SEMM) is compared with other types of electron microscopes, such as the electron mirror microscope (EMM) and the scanning electron microscope (SEM), for examining integrated circuits. Potential advantages of the SEMM include high resolution, elimination of electron bombardment damage, and high sensitivity of voltage gradients, magnetic fields, and topography. Preliminary observations of integrated, circuits obtained with the feasibility SEMM at various specimen potentials are discussed.     

Characterization of defects in hydrogenated amorphous silicon devices using charge collection scanning electron microscopy

Electron-beam-induced current (EBIC) and secondary electron image (SEI) modes of a scanning electron microscope (SEM) are utilized for characterization of charge collection inhomogeneities in hydrogenated amorphous silicon devices. These inhomogeneities are due to such fabrication defects as substrate surface roughness, pin holes, blistering and lift-off. SEM observations are correlated with the electrical properties of the devices. Electronirradiation-induced damage in these devices is also investigated by measuring the EBIC time decay at continuous electron irradiation as a function of both the electron -beam energy and current. This decay mechanism is based on the formation of electron-irradiation-induced microscopic defects that act as recombination centers and reduce the lifetime of carriers.     

Histochemistry of food tissue by colour scanning electron microscopy

A low-vacuum scanning electron microscope (SEM) allows microscopy of insulating specimens without metal coating, and so preserves the intact colour information on the specimen surface. We have attempted a new approach to characterize constituent distribution of food tissues by a histochemical method utilizing a colour SEM with an optical microscope and the low-vacuum SEM through digital image processing. To observe food tissues such as brown rice and adzuki bean, a colour SEM image of the specimen that has been stained by a modified method used in optical microscope histochemistry has proved to provide information of both the microscopic structure and constituent distribution on the specimen surface.