论一种机载光电稳瞄系统照射精度的测量方法

本文采用成像法对机载光电稳瞄系统的照射精度进行测量,用光斑监测设备对目标靶和照射光斑进行摄像监测。对摄取的视频图像中,激光光斑中心与目标靶十字中心点的偏离进行处理,统计计算得到照射过程中的照射精度。     

一种新的CO2探空测量方法

介绍了一种新的CO2探空测量方法。其原理是利用比尔-歩格-朗伯定律,使用非分光红外法,通过选择合适的红外光源和红外探测器,设计了合理的电路,在定标的基础上将测量的光强转换成CO2浓度,制作出可用于探空测量的实验装置。通过与EC9820型CO2分析仪的地面对比实验,结果表明,连续24h测量的误差范围在-10×10-6～10×10-6,平均误差为3.76×10-6,验证了设计的可行性,基本满足了大气CO2探空的精度需求,为进一步研制CO2探空仪提供了参考。     

卫星星等的可见光电视测量方法

提出一种可见光电视实时测量卫星星等的方法,分析了在实际运用中存在的约束条件,利用光电经纬仪对某卫星星等进行了测量;并分析了此测量方法的精度.实际证明,该测量方法具有很好的推广价值.     

一种可变长度光电基准尺

为了实现对非正交轴系激光经纬仪测量系统的快速、准确定向,采用构建新型光电基准尺的方法,提出并研究了一种基于高精度光电位置敏感器件的可变长度光电基准尺构建技术。阐述了非正交轴系激光经纬仪的特点,根据其特点及非正交轴系激光经纬仪测量系统定向的需要,确定了可变长度光电基准尺构建的总体思路,完成了硬件电路设计,构建了可变长度光电基准尺,并标定了两光电位置敏感探测器的空间位姿关系,以实现可变长度基准测量。结果表明,利用该可变长度光电基准尺定向后的测量系统,其相对测量精度优于0.03%,可方便、高精度地实现非正交轴系激光经纬仪测量系统的定向。     

一种基于IMU 的机相扫雷达阵姿测量方法

从高精度机相扫雷达的需求出发,分析了传统阵面测角方式的缺陷。论述了以高精度惯性元件构成的惯性测量单元(IMU),在雷达天线阵面测角功能上的工作原理和实现算法。提出了将转台伺服方位信息作为IMU 的量测对象,进行精确对准的方法,达到减小角度误差的发散速度的目的,从而满足系统对天线阵面的测角精度要求。仿真实验验证,结果与要求一致。     

一种超精密非球面在位测量方法

高面形精度非球面加工,离不开面形测量和误差补偿加工。离线测量容易导致工件装夹误差,并带来非加工时间增加。为解决这一问题,采用一种利用接触式的微小测头与激光干涉位移测量计相结合的在位形状测量装置,直接对磨削后的工件表面进行在位形状误差测量。介绍了该在位测量方法的原理及非球面测量过程,探讨了回转对称轴在半径方向的误差与测头倾角误差对测量误差的影响,并进行了补偿加工实验。对加工后的微小非球面进行了在位测量,并与超精密离线测量系统测量结果进行了比较。     

一种基于单片机的相位测量方法

介绍了一种将相位信息转化为时间的相位测量原理，以51单片机为核心实现了相位的测量且给出了相应的单片机程序实例。     

一种新的基于事件触发的网络流量采样测量方法及其应用研究

该文主要对采样测量方法进行了研究,提出了基于事件触发的分层随机双采样方法(ESRDS)。通过与传统采样方法的仿真实验比较,证明该方法在分析包长、包到达时间间隔时性能都比较高,尤其该方法采样结果在估计包到达时间间隔时方面和实际比较接近。同时作者还对采样测量方法在计算Hurst参数方面进行了研究,应用ESRDS对网络流量的Hurst参数进行了估计,估计值和实际值之间的误差非常小。     

模式滤波技术在平面近场天线测量中的应用

为了修正平面近场测量中的多次反射误差,介绍了模式滤波修正技术在平面近场测量中的应用,提出了一种合适的模式滤波函数.推导出模式滤波修正技术的相关公式并进行了数值仿真,仿真结果表明通过利用模式滤波技术对平面近场天线测量结果进行后处理能够有效地改善测量结果.     

Proposed novel technique for the measurement of antenna gain in satellite earth-stations

In the design of communication satellite systems, knowledge of earth-station receive antenna gain and gain stability is essential. Gain measurement relies on the establishment of a constant receive signal flux. This paper attempts to show how a standard gain horn and a reference source can be used together with a closed-loop satellite ALC circuit to provide a stable, known received flux at the input of the earth-station antenna with unknown gain. Theoretical limitations of the technique are discussed as a forerunner to future practical measurements. Elements of the reference receive chain are transportable and can therefore be used to cross-calibrate antennas, even in the case of receive-only terminals.     

扫描波束天线无相位近场测量技术

以寻找高频扫描波束天线近场测量方法为目的, 提出了一种结合差分进化算法和迭代傅里叶变换算法的双平面无相位近场测量方法.首先用线极化探头在近区采集正交方向切向场幅值信息; 其次使用差分进化算法寻找合适的初始迭代相位; 再利用迭代傅里叶变换算法对一扫描面上的相位进行还原; 最后使用采样幅值和还原相位结合近远场变换理论求得天线远场方向图.为验证方法可行性, 以对称振子天线阵为模型, 对不同扫描角时的测量过程进行仿真, 均获得良好结果.     

星载测控天线的布局与设计

星载测控天线是每颗卫星必备的设备之一,其方向图的设计不仅要考虑正常运行时的测控通信需要,也要保证卫星姿态异常情况下能够与地面进行测控通信,因此星载测控天线往往通过几副天线的合成来达到方向图的准全向,但合成部位存在干涉区,此干涉区在某些情况下会影响正常的测控通信。主要阐述通过对天和对地分配能量的调整,以及对天和对地天线的合理布局和设计来调整干涉区的位置,从而满足不同卫星的使用要求。     

利用窄脉冲技术的天线测量系统

介绍一种利用窄脉冲技术对天线电性能进行测试的设备。该设备不需要传统测试中的信号源发射连续波信号,其发射和接收的均是窄脉冲信号,然后将接收到的窄脉冲信号进行快速傅里叶变换计算出各频率上的幅度相位信息,因而在天线方向图测量时快速高效,而且可以利用时窗技术选取测试主信号,消除多路反射,杂波干扰等信号,故不需要微波暗室也能实现对天线的精确测量。     

基于视觉测量的回转轴线标定方法研究

为了实现高压涡轮叶片上的气膜孔特征的高精高效测量,设计并搭建了一套非接触式的四轴视觉坐标测量系统。针对其中的回转轴线的空间位置标定难题,结合工业影像测头的成像特点,提出了一种基于视觉测量的回转轴线标定方法。在标定过程中,采用了定制的长方体标定块,并通过回转工作台与三坐标测量机之间的配合,使工业影像测头对焦于标定块的表面并采集到其锋利棱边的图像,而后再通过边缘提取、像素距离计算、物理距离转化和代数运算等步骤,最终确定了回转工作台的轴线在机器坐标系中的空间方位。最后,选用一个标称尺寸为80 mm的标准量块作为被测物体,以对标定方法及标定结果进行验证,各次测量结果的误差均小于±0.01 mm,并进行了合成标准不确定度的分析。实验结果表明:文中所提出的回转轴线标定方法能够达到较高的标定精度和较好的重复性,能够满足气膜孔形位参数的检测要求。     

双折射晶体厚度干涉测量技术的研究

为了能精确测量出晶体厚度,利用晶体的双折射特性,采用剪切干涉法来测量双折射晶体的厚度,从理论上推导出其实现的可行性,并结合实验验证了测量系统的具体实现过程及计算厚度的算法.结果表明,该方法可用来测量厚度为厘米量级的双折射晶体的厚度,测量的均方根误差小于20nm.     

"时间窗"对天线时域平面近场测试结果的影响

天线时域近场测试技术是一种新兴的、测试宽带场和工作在窄脉冲激励下天线辐射场的高效的测试技术.因为它可以利用"时间窗"技术进行信号处理,使其相对频域测试具有独特的优势.本文在已建立的天线时域近场测试系统的基础上,从实验的角度,对"时间窗"参数在天线时域平面近场测试中的影响进行验证分析.举例了三个波段标准天线方向图的测试分析结果,并得出初步结论.     

天线时域平面近场测试的误差分析

天线时域近场测试技术对误差体系研究的缺失,导致测试结果的不确定度分析一直无法完成.为解决这一问题,以天线时域平面近场测试为例,对时域近场测试的误差进行研究,给出时域测试区别于频域测试技术的四个误差项:探头调制误差、信号源稳定度误差、时间采样间隔误差、时间采样长度误差.在给出误差项后,对误差的产生机理进行了讨论,通过仿真和实测给出了误差对测试结果的影响.     

表面粗糙度光切显微镜测量系统的研制

以光切法测量原理为基础,采用CCD摄像头和传统光切显微镜,使用VC开发工具和图像处理技术开发了一套材料表面粗糙度测量系统。根据光切显微镜下材料表面粗糙度图像有明显方向性的特征,使用旋滤波方法对图像进行预处理,并与传统的几种滤波方法进行了比较,同时讨论了滤波窗口的大小和切线方向采用的滤波方法对粗糙度测量结果的影响。该测量系统能够测量新国标中的全部参数,并能进行在线测量。介绍了系统的标定方法,对影响测量精度的主要误差因素进行了分析,并对算术平均偏差Ra为3.2μm的标准粗糙度比较样块进行了测量,测得的结果是:Ra约等于2.93μm,相对误差约为-8.5%,低于该系统的示值允许误差。