ICP－AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置；试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体对测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法。已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

ICP-MS 法测定高纯氧化铕中稀土杂质的研究

深入考察了ＩＣＰ－ＭＳ法测定高纯氧化铕时基体对稀土杂质测定的影响,研究了Ｐ５０７萃淋树脂分离大量基体Ｅｕ２Ｏ３的实验条件,建立了采用内标补偿直接测定大部分稀土杂质和经Ｐ５０７萃淋树脂分离基体后测定被干扰离子Ｔｍ相结合的高纯Ｅｕ２Ｏ３中稀土杂质的ＩＣＰ－ＭＳ分析方法。方法检出限为０．００５～０．０２１μｇ／Ｌ,加标回收率为８４％～１１２％。ＲＳＤ为１．４％～８．１％。本法适用于质量分数为９９．９９％～９９．９９９９％的高纯Ｅｕ２Ｏ３中稀土杂质的分析。     

高纯氧化铕中微量稀土杂质的化学光谱测定

将高纯Ｅｕ２Ｏ２通过Ｐ５０７萃淋树脂分离富集，分离掉大量基体Ｅｕ２Ｏ３剩下微量稀土杂质用碳粉吸附，加ＫＢＨ４作载体进行光谱测定，本方法可测定９９．９９９９％，纯度的Ｅｕ２Ｏ３中微量稀土杂质。     

ICP—AES半智能直接测定稀土氧化物

本文报道了一种用ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定稀土氧化物的半智能方法，稀土基体对某一稀土分析谱线的光谱干扰补预先扫描并存于谱图集中，在实际测定中，相应的干扰谱图被调用，参加扣除干扰谱线影响的校正计算。结果表明该法令人满意。     

ICP－AES半智能直接测定稀土氧化物

本文报道了一种用ＩＣＰ－ＡＥＳ直接测定稀土氧化物的半智能方法，稀土基体对某一稀土分析谱线的光谱干扰被预先扫描并存于谱图集中。在实际测定中，相应的干扰谱图被调用，参加扣除干扰谱线影响的校正计算。结果表明该法令人满意。     

DCP-AES测定氧化钇铕共沉物中稀土杂质

采用直流离子体发射光谱法测定氧化钇铕共沉物中稀土杂质的方法,考察了铕含量的变化对杂质测定的影响。确定了合适的分析谱线和最佳的工作条件。方法简单而快速,结果满意。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法直接测定高纯氧化铈中14个稀土杂质的研究

本文研究了电感耦合等离子体原子发射光谱直接测定99.95%氧化铈中14种稀土杂质的方法。讨论了基体线和光带对分析线的干扰及扣除、并加入70％乙醇提高灵敏度,方法简单,再现性好,准确度高,得到了满意的结果。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化铒中14种稀土杂质

用电感耦合等离子体质谱研究了直接测定９９．９９９％Ｅｒ２Ｏ３中１４个稀土杂质的含量。采用基体匹配法扣除Ｅｒ和Ｈｏ和Ｔｍ元素的基体峰背景干扰，选择同位素Ｅｒ＾１６２为内标，可显著提高测量精度和准确度。     

ICP—AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质

本文采用Ｊｏｂｉｎ Ｙｖｏｎ ３８Ⅱ谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ，Ｐｒ，Ｓｍ，Ｇａ，Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正交试验Ｌ２５（５）＾６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。     

高纯氧化铈中14个稀土元素杂质的光谱测定

高纯稀土氧化物的应用日趋广泛,由于工艺的完善,要求检出限越来越低。对稀土元素杂质总量小于0.01％的高纯稀土氧化物多采用化学光谱法测定。直接光谱和控制气氛光谱法测定氧化铈国内外已有报导。报导直流电弧粉末法测定镧、镨、钕、钐和钇下限总和为0.05％;控制气氛法测定上述五元素的下限总和为0.022％;国外以控制气氛法在GE-340光谱仪上摄谱测定14个稀土元素杂质下限总和为0.0216％。由于铈是光谱线最复杂的元素之一,加之电流较大,背景深,许多灵敏线受基体扩散影响和干扰。本工作在氧-氩气氛中以直流电弧粉末法测定14个稀土元素杂质,对分析线进行了细致的选择,对电极形状     

2-乙基已基膦酸单(2-乙基已基)酯萃淋树脂分离-火花源质谱法测定高纯氧化钐中痕量稀土杂质

1引言火花源质谱法是测定高纯稀土的方法之一，具有灵敏度高、基体影响小、谱线干扰少等优点。对于单同位素的超高纯稀土元素，通常可以利用火花源质谱法直接测定，但对于99．9999％的超纯Sm3O3，由于Sm有7个同位素，晕轮背景干扰，谱线干扰以及大量基林元素存在，严重影响火花源质谱法灵敏地测定痕星稀土元素，必须分离富集，以P507萃林树脂为固定相、HCl-NH4Cl为淋洗液研究了大量基体Sm和其它14个痕量稀土杂质元素的分离方法，结合资合剂-活性碳柱富集淋洗液中14个痕量稀土元素，成功的建立了化学分离-火花源质谱法分析高纯氧化衫的方…     

高纯氧化镝电感耦合等离子体原子发射光谱法摄谱分析时光谱干扰校正方法的研究

本文建立了高纯氧化镝样品ICP摄谱分析时干扰系数法校正光谱干扰的方法。测定了镝基体对14种稀土杂质元素20条灵敏分析线的干扰系数(KCT)。并有效地校正了镝基体造成的光谱干扰,获得满意的结果。     

ICP-AES法测定钼酸铵及多钼酸铵中14个杂质元素

提出了用浓硝酸沉淀并分离大量基体钼，ICP-AES同时测定钼酸铵中14个杂质元素的方法，考虑了钼基体、酸度、谱线干扰及背景影响等情况。在未引入其它任何试剂的情况下，用硝酸既除去了大量的钼基体，又调整了溶液的酸度，用标准加入法测定钼酸铵中的杂质元素，无需加入高纯基准试剂进行基体匹配，有效降低了分析成本，又消除了由于忽略基准物质中杂质元素的含量给分析测定带来的误差。回收率在85％～112％之间。     

电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钢铁中微量硅

在综述文献和谱线表数据的基础上,实验研究了ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定钢铁中硅的分析线。基体匹配得标样经校正后,Ｓｉ２１２．４１２ｎｍ和Ｓｉ２５１．６１２ｎｍ分析线测定钢铁中硅的检出限达０．０００６％,比现行国家标准方法改善约两个数量级。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化钇

报道了高纯氧化钇中３０种痕量稀土和非稀土杂质元素的电感耦合等离子体质谱测定方法。考察了谱干扰及基体效应，采用Ｇａ内标能较好地补偿基体钇的影响。方法检出限为０．０１３￣４．１μｇ／Ｌ。方法简便，快速，灵敏。     

ICP-AES直接测定氯化稀土中稀土元素

以电荷耦合器件为检测器的ＩＣＰ－ＡＥＳ光谱仪直接测定了混合稀土中的十五种稀土元素。考察十五种稀土元素的五十余条灵敏线的谱图,分析稀土元素之间的干扰并选取了合适的分析线,利用多组分谱图拟合方法扣除了空白及稀土元素间的谱线干扰,试验了最佳的溶液酸度及仪器工作参数,方法回收率为９８．４％￣１０１．７％,相对标准偏差小于２％。     

电感耦合等离子体发射光谱法测定二硼化锆中26种杂质

建立微波消解样品,电感耦合等离子体发射光谱法测定二硼化锆中26种杂质元素含量的方法。根据二硼化锆的化学组成对杂质检测的影响,确定了各元素最佳分析线;通过考察不同浓度的锆基体对待测元素的影响来确定最佳锆基体浓度;通过萃取法分离硼元素,消除硼对杂质检测的干扰;采用基体匹配法、多谱拟和技术消除了锆基体的干扰。在选定的仪器工作条件下,各待测元素的质量浓度与信号强度成良好的线性关系,线性相关系数均大于0.999。测定结果的相对标准偏差不大于6%(n=11),样品加标回收率为94%~101%。该方法操作简便,测定结果准确,可用于二硼化锆中26种杂质元素的测定。     

电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化镨中稀土杂质

深入考察了ＩＣＰ－ＭＳ法测定高纯氧化镨时基体对稀土杂质测定的影响,研究了Ｐ５０７萃淋树脂分离大量基体Ｐｒ６Ｏ１１的实验条件,建立了采用内标补偿直接测定大部分稀土杂质和经Ｐ５０７萃淋树脂分离基体后测定被干扰离子Ｔｂ相结合测定高纯Ｐｒ６Ｏ１１中稀土杂质的ＩＣＰ－ＭＳ分析方法。     

端视ICP-AES法测定钕铁硼永磁材料中常量及微量元素

报道了用高灵敏度的电感耦合等离子体原子发射光谱法（ＩＣＰ－ＡＥＳ）直接测定钕铁硼永磁材料中常量、少量及微量元素：Ｎｄ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｂ、Ｌａ、Ｃｅ、Ｐｒ、Ｄｙ、Ｇｄ、Ｓｍ、Ａｌ、Ｍｎ、Ｃａ、Ｍｇ、Ｇａ和Ｓｉ的分析方法。选择了合适的分析线，研究了基体元素Ｎｄ、Ｆｅ、Ｃｏ对被测杂质元素分析线的光谱干扰，采用基体匹配与背景扣除法进行校正。各被测元素的检出限为０．５～３０μｇ／Ｌ，回收率为９２～１１０％，相对标准偏差小于７％。本法已用于钕铁硼产品的快速检验，并获得了满意的结果。     

新型固态检测器端视ICP-AES中Ca、Mg基体效应的研究

本文详细研究了0．1％Ca和0．1％Mg基体在端视ICP中对激发电位不同的谱线的干扰效应;对端视与侧视ICP中的基体干扰进行了比较;探讨了主要工作参数对基体干扰的影响。结果表明,在Ca、Mg基体存在时,大部分待测元素的谱线受到抑制,并且激发电位较高的谱线受抑制程度较大;侧视ICP中基体干扰比端视ICP中略好;适当增大功率和选择合适的载气流量可减少Ca或Mg基体的干扰。