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采用分布反馈式半导体激光器作为探测光源,结合程长为100 m的离散型多通吸收池,采用直接吸收光谱技术,对室温下中心波长2.33 μm附近各种低体积分数的CO及混合气体(CO,CHCH4和N2)的直接吸收光谱进行了测量。选择CO在4 288.289 8 cm-1位置的吸收谱线和CH4在4 287.650 15 cm-1处的吸收谱线进行痕量探测,在40 698 Pa的总压力下,实验测得CO的探测极限为8.15×10-6(信噪比约为216),CH4的探测极限为18.48×10-6(信噪比约为147)。 相似文献
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利用可调谐激光长程吸收光谱测量系统,记录到1.315μm附近高气压(80kPa和40kPa)CO2的高分辨率吸收光谱,拟合分析获得谱线参数,结果与HITRAN 2k的数据基本一致。用程差法测量了绝对吸收,氧碘激光频率(7 603.138 5cm-1)的总吸收截面为(0.23~0.29)×-24cm2。仅计算谱线吸收的吸收截面为0.18×10-24cm2。在1.315μm波段COCO2存在连续吸收,吸收截面为(0.05~0.11)×10-24cm2。还讨论了测量误差问题。 相似文献
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以传统的浸渍法,在不同焙烧温度下制备了用于CO氧化反应的Co3O4/SiO2催化剂.通过激光拉曼光谱(Raman)、X射线光电子能谱(XPS)、X射线衍射(XRD)、程序升温还原(TPR)和X射线吸收精细结构谱(XAFS)表征了该系列催化剂的结构.在所有的催化剂中,XRD和Raman光谱都只检测到了Co3O4晶相的存在.与Co3O4体相相比,XPS结果表明在200 oC焙烧的(Co3O4(200)/SiO2)催化剂中Co3O4表面上存在着过量的Co2+.与XPS的结果一致,TPR结果表明Co3O4(200)/SiO2催化剂中Co3O4表面上存在氧缺陷, 并且XAFS结果也表明Co3O4(200)/SiO2催化剂中Co3O4具有更多的Co2+.提高焙烧温度使得过量的Co2+进一步氧化为Co3+,同时降低了表面氧缺陷浓度,从而得到计量比的Co3O44/SiO2催化剂.在所有的负载催化剂中Co3O4(200)/SiO2催化剂表现出了最好的CO氧化催化性能,表明过量Co2+和表面氧缺陷的存在能够促进Co3O4催化CO氧化反应的活性. 相似文献
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本文在从头算CCSD(T)/AVXZ(X=T,Q)水平上计算了CH4-Ne体系的三维势能面,同时在基组中加入了键函数,并且将基组外推到完全基组极限水平. 通过最小二乘法拟合摩斯长程势能函数形式,获得了三维分析势能面,其中对664个从头算格点的拟合的标准偏差仅为0.042 cm-1. 随后,采用径向离散变量表象和角度有限基组表象相结合的杂化基函数方法,并基于Lanzcos迭代的方法获得了CH4-Ne体系的振转能级,所预测的红外光谱与实验值非常吻合. 本文首次给出了CH4-Ne体系的微波光谱数据. CH4-Ne体系三维摩斯长程势能面分析的表达式为今后CH4在Ne团簇动力学性质以及其碰撞诱导吸收光谱的研究中奠定了基础. 相似文献
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用密度泛函理论和非谐振子模型计算了晶体HgGa2S4和Hg0.5Cd0.5Ga2S4的能带结构、态密度、化学成键及线性、非线性光学性质。结果表明:HgGa2S4的价带顶部主要是Ga-S成键态的贡献,导带底部主要是Ga-S反键态的贡献; Hg0.5Cd0.5Ga2S4的价带顶部主要由S-3p轨道组成,导带底部主要是Ga-S反键态的贡献。布居分析表明Ga-S键主要是共价成分,而Hg-S和Cd-S键主要是离子成分。HgGa2S4的折射率计算值与实验值在低能量区很好吻合。另外,HgGa2S4的能隙计算值比Hg0.5Cd0.5Ga2S4小,而二阶非线性极化率比Hg0.5Cd0.5Ga2S4大。 相似文献
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本文研究了在真空、空气和氧气中烧结制备的三种 CaCu3Ti4O12陶瓷材料的介电特性. 交流阻抗测量结果表明在10—300 K温度范围, 三种样品的介电温谱中均出现三个平台, 其电阻实部和电容虚部在相应温度出现损耗峰, 真空条件烧结的样品具有较高的介电平台和较明显的电阻实部与电容虚部峰值, 表明氧含量和氧空位对CaCu3Ti4O12的介电性质具有重要影响, 介电温谱出现的三个平台分别源于晶粒、晶界及氧空位陷阱.温谱分析表明晶粒的激活能与烧结气氛有较大关系,氧空位引起的电子短程跳跃及跳跃产生的极化子是晶粒电导和电容的主要起源.氧空位陷阱的激活能基本与烧结气氛无关,约为0.46 eV. 氧空位对载流子的陷阱作用是CaCu3Ti4O12 低频高介电常数的重要起源. 相似文献
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采用基于密度泛函理论的第一性原理方法, 在广义梯度近似(GGA)和GGA+U方法下对尖晶石型LiMn2O4及其Al掺杂 的尖晶石型LiAl0.125Mn1.875O4晶体的结构和电子性质进行了计算. 结果表明: 采用GGA方法得到尖晶石型LiMn2O4是立方晶系结构, 其中的Mn离子为+3.5价, 无法解释它的Jahn-Teller 畸变. 给出的LiMn2O4能带结构特征也与实验结果不符. 而采用GGA+U方法得到在低温下的LiMn2O4和其掺杂 体系LiAl0.125Mn1.875O4的晶体都是正交结构, 与实验一致. 也能明确地确定Mn的两种价态Mn3+/Mn4+的分布并且能够说明Mn3+O6的z方向有明显的Jahn-Teller 畸变, 而Mn4+O6则没有畸变. LiMn2O4的能带结构与实验比较也能够符合. 采用GGA+U方法对Al掺杂体系的LiAl0.125Mn1.875O4的研究表明, 用Al替换一个Mn不会明显地改变晶体的电子性质, 但可以有效地消除Al3+O6 八面体的Jahn-Teller畸变, 从而改善正极材料LiMn2O4的性能, 这与电化学实验的观察结果相一致. 相似文献
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利用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了Nd掺杂Bi4Ti3O12(Bi4-xNdxTi3O12, x=0.00,0.30,0.45,0.75,0.85,1.00,1.50)铁电薄膜样品.研究了Nd掺杂对Bi4Ti3O12薄膜的微结构和铁电性能的影响.研究结果表明:Nd掺杂未改变Bi4Ti3O12薄膜的基本晶体结构.在掺杂量x<0.45时,Nd3+只取代类钙钛矿层中的A位Bi3+.当x=0.45时,样品剩余极化强度达最大值,在270kV·cm-1的电场下为32.7μC·cm-2.掺杂量进一步增加时,结构无序度开始明显增大,Nd3+开始进入(Bi2O2)2+层,削弱其绝缘层和空间电荷库的作用,导致材料剩余极化逐渐下降.当掺杂量x达到1.50时,掺杂离子最终破坏(Bi2O2)2+层的结构,材料发生铁电-顺电相变. 相似文献
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采用第一性原理超软赝势平面波方法计算了Sn3InSb4的嵌Li性能,得到各种嵌Li相的嵌Li形成能、理论质量比容量、体积膨胀率、能带结构、态密度和差分电荷密度等.从能量角度分析,Li在嵌入时,优先占据晶胞的四面体间隙位置,然后逐步挤出处于节点位置的Sn原子和In原子.在嵌Li过程中,材料表现出较大的体积膨胀率(11.74%-43.40%),这是导致Sn3InSb4作为Li离子电极材料循环性能差的重要原因.态密度计算表明,体系的导电性能首先随嵌Li量的增加而增加,当所有的间隙位置被Li填满,发生Sn的替换反应时,富Li态合金相的导电性反而下降. 相似文献
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用超声水解方法制备MgO纳米颗粒,用化学沉淀法制备α-Fe2O3纳米颗粒,将MgO/α-Fe2O3混合体常温下超声活化2h,400℃固相合成制备出MgFe2O4纳米颗粒.通过X射线衍射和透射电子显微镜测试产品的化学成分、晶体结构和形貌尺寸,分析声化学反应机理及其影响因素.研究结果表明:所制备的MgFe2O4为尖晶石铁氧体,颗粒尺寸分布在20-30nm之间,粒度分布均匀;超声空化效应提高了化学反应活性、增加反应物的比表面积和反应物之间的接触面积,促进固相合成反应速度,降低反应温度,实现了一般条件下难以完成的化学反应. 相似文献
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对Er3+:GdVO4样品的光谱参数以及Er3+在晶场中能级的分裂情况进行了研究. 首先对样品进行了吸收光谱的测量,接着用Judd-Ofelt理论拟合出了Er3+在GdVO4晶体中的强度参量Ωt,并由此计算了跃迁的振子强度、自发辐射跃迁速率、荧光分支比和积分发射截面. 通过计算结果可以发现有较多能级之间的跃迁都有大于10-6的振子强度和大于10-18cm的积分发射截面,并且具有较高的荧光分支比,特别是2H11/2→4I15/2,4S3/2→4I15/2,4F9/2→4I15/2和4I13/2→4I15/2等几个强发光能级除了具有较大的振子强度和积分发射截面外还有很好的应用前景,因此也更加值得关注. 最后还利用群论讨论了Er3+离子在GdVO4晶场中各能级的分裂情况并对各Stark子能级的Jz混杂情况进行了分析. 相似文献