旋转检偏器式自动椭偏仪检偏器方位角的校正方法

给出了一种旋转检偏器式激光自动椭偏仪检偏器方位角的校正方法。方法的基本点是测量同一样品在不同起偏器方位角时反射光偏振状态的斯托克斯参数,根据偏振光的Poincar(?)球表示,借助于坐标旋转来确定检偏器偏振方向相对于入射面的初始方位角。实际的测量结果证明此方法是正确的。     

椭偏仪的测量研究和误差分析

本文通过模拟数据的计算,详细分析了椭圆偏振仪数据处理的复杂性,讨论了搜寻精度对准确求解的影响。     

使用椭偏仪测量玻璃棱镜折射率的方法

 测量三棱镜玻璃折射率的实验是普通物理实验的一个基础实验课题。在实验室里通常采用测量最小偏向角的方法进行测量。本文提出了一种利用光的偏振知识,在椭偏仪上实现棱镜折射率测定的一种方法。既扩大了学生的知识面,又使物理现象更加直观、明显,实验效果及重复性、稳定性都很好。     

双轴晶衬底上双轴晶单晶薄膜的椭偏测量

本文给出了两种测量双轴晶衬底上双轴晶单晶膜的折射率和膜厚的方法及测量的公式.我们利用这种方法测量了所研制的KTP光波导薄膜层的折射率和膜厚.     

有机电致发光器件材料的椭偏研究

本文报道了用可变入射角椭圆偏振仪（Variable angle incidence Spectroscopic Ellipsometer）测量Alq3,NPB,CuPc,Rubrene薄膜的光学常数，我们采用真空蒸镀法在硅衬底上分别制备了以上四种薄膜，然后我们用可变入射角椭圆偏振仪对四种薄膜进行了测量，测量在大气中进行，光谱范围从200到1000nm（或1.24到5cV），测量角度为65℃、70℃、75℃、80℃，接着，用Wvase32软件对四种薄膜的光学常数随波长（光子能量）的变化函数进行拟合，通过拟合我们得到了真空蒸镀的Alq3,NPB,CuPc,薄膜的光学常数随波长的变化函数及曲线，并且从材料吸收谱的吸收边，我们还得到了这些材料的光学禁带宽度。     

椭偏测厚实验的CAI软件设计

分析了椭偏测厚实验存在的困难,采用Authorware等工具软件,成功地设计和编制一套椭偏测厚实验的CAI仿真程序,使用表明,软件界面友好,仿真度高,互动功能强,实验内容丰富,可用于辅助教学。     

一种新型椭偏测量实验 --塞曼激光外差椭偏仪

分析了大学物理实验中传统的消光式椭偏仪实验存在的问题，提出以一种新型外差式椭偏测量系统取代．结合塞曼激光外差干涉和反射式椭偏测量原理，给出了光学结构设计．系统中没有任何运动部件，也无需手动操作，实验过程自动化程度高，测量速度快．     

纳米精度外差椭偏仪的研制

本文介绍了各种椭偏仪的原理及性能,重点对外差式椭偏仪进行介绍,并对提出的几种外差透射椭偏仪的原理进行了实验验证。     

椭偏仪中ES=EP的椭圆偏振光

指出一些实验教材中关于椭偏仪实验原理的一个不确切提法,并给出了详细的分析。     

Development and construction of rotating polarizer analyzer ellipsometer

A detailed mathematical derivation and an experimental characterization of one to two ratio rotating polarizer analyzer ellipsometer (RPAE) are presented. The alignment, calibration, and testing of reference samples are also discussed. The optical properties of some known materials obtained by the proposed ellipsometer will be shown and compared to accepted values. Moreover, the constructed ellipsometer will be tested using two ellipsometry standards with different thicknesses.     

Rotating polarizer analyzer ellipsometer with a fixed compensator

Recently, a rotating polarizer analyzer ellipsometer (RPAE) in which the two optical elements rotate in opposite directions with the same angular speed has been proposed. Calculated optical constants of some materials obtained from this ellipsometric configuration were in good agreement with published values except in the low photon energy regime. We here improve the structure by adding a fixed compensator after the rotating polarizer. The optical constants of c-Si calculated from the noisy signal in the low energy regime show a high reduction in the percent error when compared to that obtained from the previous structure that does not contain the fixed compensator.     

A spectroscopic ellipsometer using rotating polarizer and analyzer at a speed ratio 1:1 and a compensator

Ellipsometers have been widely used in thin film characterization. They have shown a high degree of accuracy. We here propose theoretically a rotating polarizer and analyzer ellipsometer at a speed ratio 1:1 with a fixed compensator placed just after the rotating polarizer. Our calculations of the optical properties of c-Si and SiO \(_{2}\) reveal a substantial decrease in the percent error due to the fixed compensator. The uncertainties in the ellipsometric parameters as functions of the uncertainties of the Fourier coefficients are presented in details.     

基于晶体旋光效应的近场光学空间滤波

在激光传输与放大系统中,激光束的空间滤波是光束质量控制的重要环节。利用各向同性晶体的旋光性,采用偏振光检偏法选择不同空间频率光束的通过与阻挡,实现激光光束的近场空间滤波。用多个滤波器串接构成滤波器组,可提高光束空间窄带滤波性能。该方法有利于克服激光工程中采用4f滤波带来的空间滤波器体积庞大与抽空耗能的缺点。     

用线偏振光产生椭圆（或圆）偏振光的另两种方法

给出用线偏振光产生椭圆（或圆）偏振光的另两种方法.     

使线偏振光变为圆偏振光——薄膜1/4波片的设计

在一个折射率为N_2的基片上,镀制一层折射率为N_1=(N_0·N_2)~(12),厚度为d_1=λ/4(N_1~2-N_0~2Sin~2φ_0)~(-1/2)的透明介质薄膜,当一束波长为λ的线偏振光以特定的方位角α,在合适的入射角φ_0下,倾斜辐射到薄膜表面上时,可得到的反射光线为圆偏振光。     

获得偏振光的方法

介绍了用反射、折射及干涉等方法获得线偏振光、椭圆偏振光和圆偏振光的方法 ,并从原理、实验及生产工艺等方面进行了说明     

部分偏振光通过透镜时的偏振像差分析

本文定量推导了轴上物点发出的部分偏振光通过透镜时其偏振度、偏振分量方位角和椭率角与透镜参数和入射光参量间的关系。对已知参数的透镜进行了定量计算，表明处于一定偏振状态的部分偏振光经透镜后其偏振度、偏振分量方位角和椭率角在出射光束截面上呈一定分布，产生偏振像差。给出了部分偏振光基本参量变化的数量级。指出在高精度光学测量中为避免透镜偏振像差影响，应尽可能减小光束半径和发散角。     

双锥光纤滤波器的研制

实验研究了熔锥条件对双锥光纤滤波器的影响。提出一个高斯模型，预测锥的几何形状。获得了窄带带通双锥光纤滤波器以及带阻中心波长分别为１３５ｎｍ和１５５９ｎｍ的带阻双锥光纤滤波器。