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介绍一种自测量和显示透镜曲率半径的系统。叙述该系统的工作原理,分析系统软、硬件设计及测量产生的误差。 相似文献
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Zhu BL Bai YL Wang B Liu BY Ouyang X Yang WZ Bai XH Qin JJ Zhao JP Gou YS Lu K 《光谱学与光谱分析》2012,32(4):1028-1031
针对瞬态光谱检测中对CCD线扫描速度要求高的特点,提出一种基于面阵CCD的瞬态光谱检测方法。该方法通过改变面阵CCD的电荷转移方式,以实现基于面阵CCD的高速线扫描。为了探究此方法的可行性,初步通过改变线阵CCD的电荷转移方式,建立了基于线阵CCD的单点超快探测系统。在发光二极管(light emitting diode,LED)光脉冲探测实验中,系统分别工作在单点超快探测模式和正常模式下。测试结果表明,基于线阵CCD的单点超快探测方法是可行的,单点探测速率可达20MHz。从而在理论上证明,通过改变CCD电荷转移方式以实现基于面阵CCD的瞬态光谱检测也是切实可行的。 相似文献
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线阵CCD用于长距离衍射准直测量 总被引:2,自引:0,他引:2
本文介绍了在半导体激光光纤与位相板相结合的准直情况下,利用线阵CCD探测器测量大型工件形位误差遇到的光强变化而引起测量误差的问题,并对用线阵CCD进行衍射信号测量的原理和特点作了分析。根据CCD的工作原理和特性,提出了利用自动控制CCD积分时间的方法,使CCD输出的信号峰值保持恒定,提高了系统的测量精度。 相似文献
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线阵CCD用于快速实时动态测量技术研究 总被引:4,自引:0,他引:4
重点研究线阵CCD快速实时动态测量技术。由于测量速度快,除应考虑CCD像元响应非均匀性、非线性等影响因素外,还应考虑采样频率、测量精度、动态范围、快速电路等问题。就上述问题进行了详细研究,并给出解决问题的具体方法。对于采样频率,除了满足采样定理的要求外,还要根据工程实际被测系统要求的振幅和频率,合理选择CCD的动态范围和光源功率。CCD信号处理电路除了采用高速器件小,还要根据具体情况采用其它特殊方法实现。 相似文献
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光散射法测量颗粒尺寸、浓度的实验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
为了能够准确快速地求解出微米量级颗粒系的尺寸和浓度,设计了一套基于Fraunhofer衍射,以线阵CCD为接收器件的实验颗粒测量装置.采用Shifrin积分变换方法,分析了给定样品颗粒的粒径分布、峰值、平均值和体积浓度.实验结果表明,与传统的Swithenbank方法采用环形光电管阵列为探测器接收衍射光强来反演颗粒分布方法相比,该方法不需要知道颗粒粒径上下限,各粒径区间间隔等预知信息,而且对粒径、浓度的实验测量值与理论值相差较小,样品峰值粒径为9.849 8 μm,与给定峰值的相对误差为3.432%,具有较高的测试准确度和较好的测试效果. 相似文献
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用低精度CCD获得高精度测量方法的研究 总被引:3,自引:1,他引:2
为了大幅提高线阵CCD的测量精度,提出了一种全新的CCD使用方法。该方法是将N个像元间距为H的线阵CCD器件许排组合住一起,并沿像元线性分布方向以距离为H/N依次均匀错开排列。多个线阵CCD的感光电信号经多通道模一数同步采集,保存到存储器中指定位置。然后,通过对所有CCD测量数据的分析计算来获得精确的测量值。分别采用单CCD和双CCD错排对长为30mm,直径为5.000mm、8.000mm、12.000mm的三个标准杆件的直径进行了测量。结果表明,蚁CCD错排可获得两倍于单CCD的测量精度。该方法可从理论上彻底打破CCD像元问距的限制,并使线阵CCD的测量精度大幅度地提高。 相似文献
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线阵CCD用于实时动态测量技术研究 总被引:18,自引:1,他引:18
本文研究的是在连续光条件下线阵CCD实时动态测量技术,除了考虑CCD像元响应非均匀性、非线性等影响因素外,还应认真考虑采样频率、测量精度、动态范围、快速电路等问题。本文还详细讨论了测量精度和动态范围问题,推导了测量精度公式与动态范围公式。为了减小测量误差和提高被测信号的频率,必须相应减小积分时间。精度公式是进行线阵CCD电路设计的基本依据公式。动态范围与频率无关,只与结构参数有关,为了充分利用CCD的动态范围,激光功率要可调。 相似文献
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提出了一种使用线阵CCD自动测量小圆孔参数的方法。该方法充分利用了线阵CCD分辨率高的特点 ,适当的光学设计使两个线阵CCD正交 ,通过测量小圆孔的夫琅和费衍射条纹 ,实现了小圆孔半径的一维参数高精度自动测量和圆度误差的二维参数定性自动测量。该方法具有一定的实用价值及应用前景。 相似文献
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CCD测量误差的研究 总被引:5,自引:1,他引:4
为了提高CCD的测量精度,对CCD的测量误差进行了深入分析。以单CCD和双CCD错排,对直径为5.000mm、8.000mm、12.000mm的三个标准杆件直径的测量数据为基础,对CCD测量误差的大小及其影响因素展开研究,重点对测量误差、像素间距间的关系进行了深入分析。对N个像素间距为H的CCD错排进行测量,其最大误差减小为H/N,当被测对象大小刚好是像素间距的整数倍时,测量值以很高的机率靠近真实值,检测零件尺寸时,在极值处分别设置一列CCD像素,调整零件极值刚好位于CCD两相邻像素的中间,能准确地判别零件的合格性。 相似文献
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基于面阵CCD的影像光度快速测试系统 总被引:1,自引:1,他引:0
根据光度学的理论,分析了面阵CCD运用在影像光度快速测量中存在的问题和解决办法,讨论了面阵CCD匹配成与人眼视觉相符合的光度匹配器的匹配方法和误差推算方法,详细介绍了运用光电积分法结合面阵电荷耦合器的影像光度快速测试系统的工作原理、组成结构和设计方法。系统一次成像即可实现全画面各个细节的光度信息,为影像光度参数的快速测试提供了较好的应用技术。 相似文献