X射线荧光光谱法快速测定FeSiB非晶合金薄带中硅、硼、铁

提出了以自制的标准样品,采用单点法绘制校准曲线,利用X射线荧光光谱仪测定FeSiB非晶薄带样品中硅、硼和铁的含量。对于4个FeSiB非晶合金薄带样品中硅、硼和铁进行了10次测定,其分析结果的相对标准偏差分别为0.4%~0.5%、1.3%~4.2%和0.2%~0.4%。方法的分析结果与火花源原子发射光谱法、化学重量法和电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法的测定值吻合较好。方法快速、简便,薄带样品无需制样,适用于FeSiB非晶合金薄带的快速成分分析。     

X射线荧光光谱法测定合金中钨的含量

采用X射线荧光光谱法测定了多种含钨合金钢以及含钨较高的镍基和钴基合金中钨的含量。方法中选择钨的Lβ1线为分析线,并选择2θ角在39.50°处作为背景位置。在合金中钽的Lβ2线对钨分析线有重叠干扰,选两套标准样品用基本参数法(FP)测出了干扰系数k,将k值列入仪器的FP工作软件中来消除钽对钨测定的重叠干扰。用所提出的方法分析了钨质量分数在0.054%～11.71%内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.55%～9.5%之间。     

X射线荧光光谱法测定合金中的磷

采用X射线荧光光谱法测定铁基和镍基合金中磷的含量。选用钨的Mα线和钼的Lα线作为测量重叠干扰系数时的参照线。选用合金系统中不存在的钾和钪元素作为校正元素代替钨和钼,这两个元素实际测量的分别是钨的Mα线和钼的Lα线。分别用只含钼和同时含钼、钨的两套标准样品测定了重叠干扰系数,并制定了分析磷的校准曲线。方法应用于标准样品的测定,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=10)为0.68%。     

X射线荧光光谱法测定铀钼合金中钼

建立铀钼合金中钼的X射线荧光光谱测定方法.用硝酸–盐酸混合酸溶解样品,调节样品溶液pH值为1～2,在选定的仪器工作条件下进行测定,采用α校正消除干扰.钼的质量分数在1.0％～16.0％范围内与X荧光强度呈良好的线性关系,线性相关系数为0.9999,检出限为0.039％.样品加标回收率为99％,测定结果的相对标准偏差为0...     

X射线荧光光谱法测定不同类型分子筛中氧化物的含量

分子筛是催化裂化催化剂中重要的活性组分.产品中Na2O、Al2O3、SiO2、RE2O3,等元素氧化物的含量将直接影响分子筛的质量和性能.通过对方法准确度和精密度的考察,表明X射线荧光光谱法(XRF)测定分子筛中重要元素氧化物的含量,准确度高,重复性好,是一种高效、快速、能有效指导企业生产的分析方法.     

X射线荧光光谱法快速测定铜基催化剂中金属含量

本文使用X射线荧光光谱仪,采用人工制备标样,以粉末直接压片和经验系数校正基体效应的方法,建立了铜基催化剂中CuO、ZnO和Al2O3含量的快速测定方法。考察了样品厚度的影响及方法的精密度和准确度。该法待测元素线性范围较宽,分别为:CuO:13.0%~97.0%,ZnO:0~63.0%,Al2O3:0~25.0%,且相关系数均大于0.99。测定各元素的相对标准偏差均小于0.3%,且测定结果与化学滴定分析结果吻合。该方法快速、简便,可应用于工业生产质量监控。     

粉末压片-X荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量

硫是过磷酸钙中重要营养指标之一,为准确快速测定过磷酸钙中硫的含量,试验采用粉末压片-X荧光光谱法,将过磷酸钙试样充分干燥后研磨至粒度小于74 μm,采用硼酸镶边,在压力18 Mpa条件下保压30 s,制成样片。通过在过磷酸钙样品中添加不同质量的纯物质硫酸钙（质量分数范围1.52 %～17.21 %）,经过专用混匀设备混合均匀后,与试样压片相同条件下压制标准样片,作为过磷酸钙中硫的标准样品,建立硫标准曲线,曲线线性相关系数R2为0.9995,采用经验系数法校正干扰,建立了粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定过磷酸钙中硫含量的方法, 方法检出限为0.002 %。对3个不同硫含量的过磷酸钙样品采用本实验方法重复测量7次,RSD在1.4 %~3.1 %,方法精密度性好,同时用高温燃烧红外光谱法和电感耦合等离子发射光谱法对比,三者测量结果相对极差小于2.0 %,测量结果无显著性差异。此方法不需要对样品进行熔融或溶解,样品制备简单,数据准确度和稳定性好,分析效率高,适合大批量样品中硫的测定。     

X射线荧光光谱法快速测定钢基中锰元素

应用波长色散X射线荧光光谱法对中低合金钢、电工钢、高锰钢、不锈钢中锰元素进行测定.采用经验系数法校正元素间的增强-吸收效应和光谱重叠干扰,元素检测限为2.1μg/g,线性相关系数大于0.9998.考察了分析方法的精密度和准确度,元素的测定结果与认定值一致,相对标准偏差小于2%.     

X射线荧光光谱法测定超硬铝合金中成分

叙述了用SRS 300型X射线荧光光谱仪测定超硬铝合金中铜、镁、锌、铁、硅、锰、铬、镍、钛、锆的X射线荧光光谱分析方法。试样用车床加工至表面平整、光滑,采用强度校正模型,由计算机拟合回归曲线。此法测定结果与常规湿法化学法测定结果相符。     

X-射线荧光光谱法测定锌铝铜合金中的铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉

建立了X射线荧光光谱法测定锌铝铜合金ZnAl6Cu1中铝、铜、铁、硅、镍、铅和镉的分析方法。探讨了各元素的分析条件,比较了不同制样方式及不同放置时间对铝强度的影响。在最佳的仪器分析条件下,测定了微量元素的检出限及主、次元素的精密度和准确度。检出限结果表明:各微量元素的检出限均满足标准要求,Cd和Pb元素的定量限稍高。精密度和准确度结果表明,铝、铜、铁元素的测量相对标准偏差在2.1%~5.9%,分析结果与国家标准方法一致。     

X射线荧光光谱法测定高含量有机碳样品中的钾、钠、钙、镁、硅、铝、铁、钛、锰、磷

通过事先对有机碳含量较高的样品于1000℃ 下灼烧2 h,计算其烧失量,再将灼烧后的样品经Li2 B4 O7(67％)和LiBO2(33％)的混合熔剂熔融制样后,经X射线荧光光谱仪测定,能够有效地去除因有机质含量高导致的分析结果的偏差,总体的平均相对误差从11.1％ 减少到了4.5％,而且较湿法化学分析节省时间.分析结...     

铝合金建材的X射线荧光分析

用高性能飞利浦PW2424型X射线荧光光谱仪,测定铝合金建材中的Si、Fe、Cu、Mn、Mg、Zn、Ti、Cr、Ni等9个化学元素的含量.给出各元素的干扰校正系数和基体效应校正系数.方法准确、灵敏,稳定性好,速度快.     

X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量

熔融制样X射线荧光光谱法测定电解锰中锰、硅、磷和铁含量。用熔融后的四硼酸锂制作铂金坩埚保护层,以BaO2做氧化剂,在马弗炉内通过逐渐升温来氧化电解锰,然后熔融制取玻璃熔片,用X射线荧光(XRF)光谱法分析电解锰中锰、硅、磷和铁含量。锰、硅、磷和铁的相对标准偏差RSD分别为0.23%、2.82%、0.31%和0.53%。与其它分析方法比较,其结果更稳定。有效消除了电解锰熔融制样过程中的坩埚腐蚀问题,分析误差可完全控制在国家相关标准允许的范围内,实现了电解锰中各元素的快速准确测定。     

X射线荧光光谱法测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷、砷

采用波长色散X射线荧光光谱仪测定黄铜中铜、铅、铁、铋、锑、磷和砷。考察了试样表面质量对测量结果的影响,并对黄铜中元素间的吸收增强效应进行了研究。实验发现,吸收效应对黄铜的分析结果有较大影响,需用理论α影响系数进行基体效应校正。采用本法分析了多种黄铜标准样品(普通黄铜、加砷黄铜和特殊黄铜),结果显示,普通黄铜和加砷黄铜的分析结果与标称值相符。文中还给出了方法的实验室内和实验室间的精密度试验结果。     

X射线荧光光谱法测定铝合金中铜元素的测量不确定度评定

利用X射线荧光光谱法(XRF)对硬铝合金中铜元素进行测定,分析了测量不确定度来源,并对不确定度分量进行评定,经计算得出合成标准不确定度和扩展不确定度。当硬铝合金中铜的质量分数为4.33%时,扩展不确定度为0.17%(k=2)。     

X射线荧光光谱法测定灰岩中14种主次量元素

采用X射线荧光光谱法对灰岩中的Ca,Mg,Si,K,Na,Fe,Al,Ti,P,S,Mn,Sr,Ba,Cl等14种元素进行同时测定,采用硼酸镶边垫底的粉末压样法,优化了测量条件。对比较轻的元素,采用经验影响系数法校正基体效应,对于较重的元素,采用理论α影响系数法校正基体效应。分析标准参考物质GBW 07132,各元素的精密度(RSD)为0.1%~5.9%,分析标准参考物质GBW 07130,各元素的测定值与标准值相符,该方法对各元素的测定范围宽、速度快。     

X射线荧光光谱法分析镁砂中的主次成分

采用镁砂标准样品作为校准样品,建立了熔融制样X射线荧光光谱法测定镁砂中MgO,Al2O3,SiO2,CaO,P2O5,Fe2O3的方法。采用熔融法为样品片和校准片的制备方法,选择四硼酸锂-偏硼酸锂(67+33)为助熔剂,1.00mL LiBr溶液为脱模剂,熔融温度为1 100℃,熔融时间20min。对镁砂样品测定的相对标准偏差(RSD)小于3%,对不同镁砂标准样品进行测定,方法的测定结果与认证值相吻合。