ICP—AES法测定生铁中硅锰磷的研究

通过正交试验选择出最佳溶样条件,用电感耦合等离子体发射光谱（ICP－AES）法测定生铁中硅,锰,磷,方法简便可靠,具有良好的精密度和准确性,相对标准偏差不大于3．8％。     

ICP—AES法测定化探样品中8种元素

本法用HF+HClO_4+HNO_3混合酸溶样,样品溶后不去溶、不分离,清液直接引入ICP光源摄谱。标液中加入模拟基体元素与样品溶液匹配来消除分析误差。检测限和精度均能满足部颁化探分析要求。     

ICP—AES法测定氧化铕中14种数量稀土杂质

采用ＩＣＰ－ＡＥＳ单道扫描光谱仪详细考察了十四种被测稀土杂质元素的４７条灵敏分析线的谱线轮廓及基体Ｅｕ的背景谱线轮廓，从而选定基体干扰小，灵敏度高的分析线及扣除背景的合适位置，试验了酸度，载气流量，观测高度，射频发生器功率等对信号强度和基体干扰程度的影响，采用基体匹配法校正基体测定的影响，建立了氧化铕中１４种稀土杂质的直接测定法，已用于出口产品的分析和标准试样的定值测定，得到了满意的结果。     

ICP—AES法测定长石中杂质元素

长石作为陶瓷工业生产的主要原料,它的主要成分是二氧化硅,其杂质含量不等,但杂质的存在将影响产品的质量。目前,长石中铁、铝、钙、镁、钛的测定没有国家标准,所采用的方法均为化学法,较繁琐。JIS M 8853-76方法中,测定铝、铁、钛方法需进行分离测定,步骤较复杂,ICP-AES法同时测定长石中铁、铝、钙、镁、钛元素,未见报道。本文通过试验,提出了用ICPA—AES同时测定长石中铁、铝、     

ICP—AES法描绘钴对硅的光谱干扰轮廓图

钴基合金在锅炉制造业中应用广泛,尤其在制造阀门的堆焊材料中最为常见.用ICP-AES法测定钴基合金中的硅时发现,在硅251.611nm处,钴对硅的光谱干扰小,而在硅252.851nm处,钴对硅的测定有很强的光谱干扰,本文描绘了干扰线轮廓图.1 试剂与仪器试验所用试剂均为分析纯,王水按HCl:HNO_3=3:1比例配成.水为蒸馏水.JY38S ICP发射光谱仪