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我们用Z-扫描方法测量了C60薄膜在633nm处大的双光子吸收系数β≈5.4cm/W,并由此计算了C60薄膜双光子共振三阶非线性极化系数的实部和虚部。与计算的C60分子能级进行比较,讨论了它的共振双光子光学跃迁。 相似文献
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讨论了C60作为一种有机半导体材料,与聚合物半导体和有机化合物半导体构成的异质结的一些基本特性,分析了这种结构在半导体光电器件中的潜在应用价值。 相似文献
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采用脉冲宽度为7ns、波长为532nm的激光束,首次利用Z-扫描技术测量了新型功能配合物材料Ni(mpo)2[分子式C10H8N2NiO2S2]的非线性吸收系数和非线性折射系数。用粒子数重新布居模型,合理地解释了非线性吸收和非线性折射的产生机理:非线性吸收来自于近共振双光子吸收,而非线性折射是由于近共振双光子吸收造成的折射加强。非线性吸收系数和非线性折射系数随光强的增大而线性减少是近共振双光子吸收引起粒子斯雷斯布屠的结果。 相似文献
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通过测量光电导和调制光电导,观察到了15K温度下的n-InSb在CW CO_2激光照射产生的磁双光子吸收(TPMA).实验取Voigt位形,磁场沿[111]晶向且最大为4.2T.实验的结果表明,“一次带内,一次带间”跃迁理论可以相当好地解释InSb中的TPMA过程,且大部分吸收为“球对称跃迁”,而其余为较弱的空间反演不对称、斜项和k_H跃迁.通过计算三阶非线性系数虚部得到的TPMA吸收系数与实验测得的双光子光电导之比较亦表明,现有的此方面的理论解释是成立的. 相似文献
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本文首次提出了一种测量液体三阶极化率的实验方法。它克服了以往测量方法中实验装置复杂的缺点,消除了空气和容器的三次谐波信号测量结构的影响,从而排除了实验中的系统误差。 相似文献
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含C60聚合物薄膜的制备及其光电特性 总被引:1,自引:0,他引:1
采用PECVD技术,分别在不同衬底上淀积了含C70聚合物薄膜材料,对所淀积的薄膜材料进行了紫外可见光谱,质谱和表面光电压谱的分析,对异质结光伏性和薄膜表面横向光电压进行了测量,得到了具有应用前景的可喜效果。 相似文献
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将C60薄膜沉积在Al上,制成了Al/C60结构的薄膜二极管。对Al/C60结构的肖特基结构与金属-绝缘层-半导体(MIS)结构的电学特性做了研究。Al/C60肖特基结构在偏压±2 V时的整流比为30,而Al/C60的MIS结构在偏压±2 V时整流比为100。在MIS结构中,AlOx的形成起着关键的作用。研究还发现,刚沉积好的薄膜二极管,其整流效应并不理想,在真空中经退火处理后,其性能得到增强。此二极管在空气中无封装情况下表现出高稳定性。 相似文献
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利用Z扫描技术,分别测量了五种C60聚氨酯胺薄膜(C60含量分别为0%、0.16%、0.30%、0.42%、0.52%,厚度均为0.3mm)的非线性光学吸收系数和折射系数,并研究了该薄膜的光限幅特性。实验表明:随着样品中C60的含量由0增加到0.52%,薄膜的透射率可由70%逐渐减小到10%,且透射光功率可限制在25mJ/cm^2以下。薄膜的透射率或透射功率可以随C60含量不同而改变,即薄膜的光限幅性能可以通过调节C60含量的方式加以控制。最后,基于C60分子的五能级模型,采用激发态吸收(反饱和吸收)物理机理解释了薄膜的非线性光学特性及光限幅性能。 相似文献
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利用Z扫描技术,分别测量了五种C60聚氨酯胺薄膜(C60含量分别为0%、0.16%、0.30%、 0.42%、0.52%,厚度均为0.3 mm)的非线性光学吸收系数和折射系数,并研究了该薄膜的光限幅特性。实验表明:随着样品中C60的含量由0增加到0.52%,薄膜的透射率可由70%逐渐减小到10%,且透射光功率可限制在25 mJ/cm2以下。薄膜的透射率或透射功率可以随C60含量不同而改变,即薄膜的光限幅性能可以通过调节C60含量的方式加以控制。最后,基于C60分子的五能级模型,采用激发态吸收(反饱和吸收)物理机理解释了薄膜的非线性光学特性及光限幅性能。 相似文献
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光学薄膜元件的激光预处理技术 总被引:1,自引:1,他引:0
激光预处理技术作为一种提高激光约束核聚变装置中光学元件损伤阈值的有效方法,有重要的使用价值和学术价值。介绍了激光预处理的研究现状,重点介绍了小光斑光栅扫描预处理的方法及其应用,以及应注意的问题。讨论了几种被广泛认可的预处理增强机理,并对激光预处理技术进行了展望。 相似文献