ICP—AES中光谱干扰的计算机模拟：Ⅰ.基本原理

在ICP-AES中,光谱干扰一直是分析者试图克服的主要问题之一,其中较为明显的是光谱线重叠干扰。此类干扰导致分析选择性差、检出限升高。因此在对复杂基体或含有富线主成份的样品进行分析时应充分考虑光谱线重叠的可能性。谱线重叠主要包括直接重叠及分析线附近强线变宽导致的线翼重叠。在以往的光谱分析中,判断某一分析线是否受到谱线干扰主要有两种途径,一是     

ICP—AES中光谱干扰的计算机模拟：Ⅱ.有效谱线轮廓宽度的计算

在电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)中,利用计算机模拟光谱线对于光谱干扰的快速准确预测是一种有效的方法。在模拟过程中,主要步骤在于计算光谱线轮廓。前人在谱线轮廓的计算方面已进行过探讨,但所涉及的大多为谱线的物理轮廓。实际上,任何光谱分析均需通过一定的光谱仪器进行。分析粒子所发射的谱线除了在光源中因各种因素发生变宽外,在经过仪器光学系统时亦会发生变宽。在检测     

相互干扰系数法校正ICP—AES多元素同时分析的光谱干扰

提出了一种相互干扰系数法校正ＩＣＰ－ＡＥＳ多元素同时分析的光谱干扰方法。该方法把分析对象视为所有组分之间都相互关联的体系，并选择严密的数学模型来校正复杂组分间的相互干扰。     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP—AES研究…

稀土元素在当今生产、生活中具有极重要的地位，由于稀土元素的原子发射光谱极为复杂，因此光谱干扰给稀土元素的原子发射光谱分析带来极大的困难。本工作利用高分辨率ＩＣＰ－ＡＥＳ仪器详细研究了Ｓｍ基体对其他稀土元素分析线的光谱干扰，获得了大量的光谱及光谱干扰信息，为以稀土为基体的痕量稀土分析线的选择及光谱分析提供了依据。     

ICP—AES中四十种常见元素光谱干扰的研究及校正

本文用Leeman Plasma-Spec等离子光谱仪对常见四十种元素的光谱进行了探讨,测定了其光谱干扰系数,并对干扰系数校正法进行了研究。     

计算机差谱法消除ICP－AES中光谱干扰

本文提出了在光电二极管阵列检测器－ＩＣＰ－ＡＥＳ与微机处理的联机系统中，采用差谱法以直接消除光谱干扰的方法。详细讨论了差谱原理，差谱程序及差谱效果。应用差谱法测定了两个参考样品，结果符合要求。     

高纯金属铈的ICP—AES分析和稀土元素间的光谱干扰及其校正

本文采用乙醇预去溶方式进样,ICP-AES直接同时测定了>99.99%的高纯金属铈中5个痕量稀土杂质元素,并讨论了基体量对检测限的影响,稀土元素间的光谱干扰及其校正方法等。当样品溶液中铈的浓度为5mg/ml时,铈中稀土杂质元素的测定下限为:镧、钕和钇0.001%,镨和钐0.003%。其相对标准偏差为1.9～6.4%。     

稀土元素原子发射光谱及其谱线干扰的高分辨率ICP—AES研究： …

本文是系列工作的第四部分。利用光栅刻线为３６００条／ｍｍ的顺序扫描高分辨率ＩＣＰ－ＡＥＳ光谱仪研究了铕和钆分别作为基体时对其他１４个元素共６６条“首选分析线”的光谱干扰情况,获得了相应的光谱干扰轮廓和其他光谱干扰信息,为选择不同稀土基体中的稀土元素最佳分析线提供了有益的参考依据。     

人工神经网络法校正ICP—AES中重叠光谱干扰

本文将反向传播人工神经网络（ＢＰ－ＡＮＮ）用ＩＣＰ－ＡＥＳ中重叠光谱干扰的校正，利用模拟的Ｃｅ４１３．３８０ｎｍ和Ｐｒ４１３．３６１ｎｍ光谱对神经网络的训练方式，输入值范围，噪声影响等作了较详细的讨论。     

导数光谱Kalman滤波法校正ICP—AES光谱干扰的研究

本文以导数光谱Ｋａｌｍａｎ滤波法研究了ＩＣＰ－ＡＥ可典型的光谱干扰，考察了该法的检出限和准确度，探讨了该法的影响因素，结果表明，该法能有效地消除和校正光谱干扰，降低检出限，结果准确可靠。     

ICP—AES分析中干扰及其校正方法的进展（Ⅱ）

本文对ＩＣＰ－ＡＥＳ分析中的光谱干扰继续进行综述，本文继（１）而继续对ＩＣＰ－ＡＥＳ分析中的光谱干扰进行综述。     

ICP-AES中光谱线及其相互干扰的计算机模拟——Ⅴ模拟程序及谱线数据库

本文在前四部分工作的基础上,描述了ICP-AES中光谱线及其相互干扰的计算机模拟软件,介绍了数据文件的构成、运行程序的编程技巧以及整个软件的使用方法。     

ICP—AES分析中干扰及其校正方法的进展（Ⅰ）

本文对ＩＣＰ－ＡＥＳ分析中的光谱干扰，非光谱干扰及其校正方法的研究及应用的新进展进行了综述。     

固态检测器—ICP—AES中的计算机差谱改进技术——I.原理和实验

本文使用固态检测器－光是二极管阵列（ＰＤＡ）或电荷耦合器件（ＣＣＤ）在ＩＣＰ－ＡＥＳ上实现了无需基体浓度情况下对复杂组分中微量元素进行测定的计算机差谱改进法。用Ｃ语言编实施差谱技术以及实验室例行分析的软件，探讨了方法的原理，对Ｖ基体中Ａｌ，Ａｌ和Ｍｇ基体中Ｖ的测定结果表明，该差谱技术能准确消除复杂基体产生的光谱干扰。     

ICP—AES法中稀土元素间的相互干扰研究

稀土元素的谱线较复杂,相互间存在着不同程度的干扰。本文着重研究了ＩＣＰ－ＡＥＳ法中,它们间的干扰情况,并用几种校正方法进行了比较。