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一种测量CCD上像点精确位置的方法 总被引:3,自引:0,他引:3
本文介绍一种新的CCD技术。同时结合光学技术、计算机采集系统,可以实现多个光点在CCD上位置的精确测量。在硬件电路设计中,围绕8254计数器给出了电路原理图,并详细介绍了实现信号中点位置检测计数的方法。软件部分给出了程序框图。此外,我们已使用此方法实现了钢板表面平坦度的检测,相信它可以推广到其它应用领域。 相似文献
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轨道振动的非接触测量 总被引:4,自引:0,他引:4
CCD实时地非接触检测铁轨的振动情况是一种既方便又准确的测量方法。该方法能够测出轨道振动的幅度、频率、相位、加速度等参数。CCD非接触测振系统由照明光源、成像系统、CCD、检测逻辑接口电路及计算机软件构成。通过实际检测,它能够达到振幅测量精度为0.1mm,最大量程为100mm,频率不低于200Hz。该系统可扩展到用非接触方法测量各种机械振动、位移量和物体边沿检测等应用领域。 相似文献
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CCD在测量运动物体瞬时位置中的应用 总被引:3,自引:0,他引:3
本文介绍了一种利用线阵CCD实现测量飞行物体瞬时位置的原理和方法;对接口电路和数据采集系统进行了理论分析和实验研究,给出了用C语言编制的数据采集系统源程序;最后简要介绍了实验结果。 相似文献
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本文提出了一种用线阵CCD非接触实时测量塑料导线直径的仪器,它有如下特点:(1)采用了对被测目标所发出的烟雾不敏感的光学系统,提高了测量精度;(2)采用工作于脉冲方式的大功率近红外LED做照明光源,其寿命比采用白炽灯作为光源大为增长,同时缩小了体积并有利于抑制可见光的干扰;(3)对电信号采用了两级滤波、直流恢复、自适应阈值二值化等处理技术;(4)采用定标的方法来消除目标位置移动的影响,提高了测量精度,降低了加工装配精度要求。现场使用证明,它能长期可靠地工作,总的测量误差小于±0.02mm。 相似文献
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CCD直接细分光栅位移传感器的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍一种采用CCD为测量元件的光栅位移传感器的设计方法。该方法利用CCD分辨率高、像素均匀的特点,对光栅刻线的像的移动进行精确定位和直接数字化,改变了以往对莫尔条纹进行位相细分的方法。该方法将细分和数字化在测量信号处理流程中的位置前移到光电转换环节,大大简化了后续电路,同时细分数也有大幅度提高,可以方便地实现数千倍的细分。在数据拼接时采用绝对栅距累加的方法,减小了光栅刻线质量对测量精度的影响。整个系统可由计算机通过并行端口进行控制 相似文献
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线阵CCD光积分时间的智能控制技术及其应用 总被引:5,自引:0,他引:5
本文提出了一种新型线阵CCD驱动电路的设计方法,可以在不改变系统工作主频的情况下,连续地改变CCD的光积分时间,并且可通过计算机接口实现智能调整,此项技术已成功应用于热扎线材外径的线检测仪中,控制效果极其理想。 相似文献
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成像光谱的信息采集与数据处理 总被引:1,自引:0,他引:1
论述了成像光谱技术中的光学成像技术、光谱信息采集及探测器像点与光谱图像像点的定位技术,提出了一种精确确定CCD面阵上像敏元与光谱图像像素对应关系的新方法。系统电路能够对视频信号进行处理,输出带有标志线的复合视频信号,同时精确测定标志脉冲的位置,以数据形式提供给计算机,通过计算机对图像及采集的数据的分析处理,从而确定图像像素和CCD面阵上像敏元的对应关系。系统软件能方便的实现对电路的控制、数据采集、光谱图像的分析、显示绘制图像的RGB值和灰度曲线,能稳定运行于Windows环境下,使用灵活方便 相似文献
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鉴于CCD相机在强光照射时会产生光晕,CCD敏感面像素之间互相影响,进而导致成像模糊不清,提出一种克服光晕现象的像质增强算法.利用HTPS(高温聚硅)液晶具有可实时控制各像素光透过率的特性,使液晶和主CCD由光纤光锥进行像素一对一耦合.用Cyclone II芯片作为图像处理单元,测光CCD采集图像信息,控制液晶改善图像质量.实验结果表明,该系统能够精确控制HTPS液晶上每个像素的透过率,使CCD相机能在强光下正常成像,其灰度分辨能力提高了1倍,从而提高了图像的清晰度. 相似文献
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多光谱CCD相机配准的图像校正 总被引:2,自引:0,他引:2
通过分析线阵CCD的成像过程,对多光谱CCD相机成像的彩色图像合成方式进行了研究,提出了一种处理方法。通过将各谱段CCD的每个像元信号分别扩展成一个二维像素数组后再进行彩色合成,尝试了利用后期处理的方式校正多光谱相机的配准偏差,改善了相机彩色合成图像的质量。结果表明,这种对CCD信号进行处理的合成方式为空间遥感相机的研制提供了一种技术手段,既能减小配准偏差的影响,同时又能够在不改变相机性能的情况下改善相机输出彩色图像的质量。 相似文献
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采用532 nm,10 ns的脉冲激光对面阵CCD进行辐照实验,对每一阶段的实验现象和电路层面的破坏机理进行了深入分析,根据实验现象,把脉冲激光对CCD的硬破坏分为3个阶段:第1阶段在低能量密度激光辐照下,被破坏的CCD局部出现无法恢复的白色盲点,但其它部分仍可正常成像;第2阶段CCD探测器受到激光辐照后,在光斑处的时钟线方向出现白色竖直亮线,亮线处无法正常成像且激光辐照撤去后无法恢复;第3阶段受高能量密度激光辐照后,CCD完全失效,无法恢复成像。针对CCD的饱和及恢复阶段,利用Matlab编码对分辨力靶板的成像数据进行处理,分析了激光辐照CCD对饱和像元数和对比度的影响。结果表明:当CCD受到激光辐照时,饱和像元数迅速增多,图像对比度迅速下降为零,激光脉冲消失后,整个CCD成像亮度下降,饱和像元数迅速下降为零,经过一段时间后CCD又恢复至线性工作状态,激光的能量密度越高,CCD恢复所需的时间就越长。研究还发现:当恢复时间超过0.6 s,CCD出现不可恢复的白色条带,严重影响成像质量。 相似文献
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